[發明專利]工件量測機臺、工件的殼體段差量測方法及調校方法

在審

• 申請號: 201810192831.1
• 申請日: 2018-03-09
• 公開（公告）號: CN109945811A
• 公開（公告）日: 2019-06-28
• 發明（設計）人: 梁永杰;陳紀鋼
• 申請（專利權）人: 由田新技股份有限公司
• 主分類號: G01B21/02
• 分類號: G01B21/02
• 代理公司: 北京同立鈞成知識產權代理有限公司 11205
• 代理人: 馬雯雯;臧建明

1.一種工件量測機臺，適于量測待測工件，其中所述待測工件包括組裝面及圍繞所述組裝面的外觀面，且所述組裝面及所述外觀面之間存在段差，其特征在于，所述工件量測機臺包括：

承載臺，適于承載所述待測工件；

高度量測裝置，相對所述承載臺可移動地配置于所述承載臺的一側，且適于量測所述組裝面及所述外觀面的高度；以及

計算裝置，電性連接于所述高度量測裝置，以計算所述組裝面及所述外觀面的高度差。

2.根據權利要求1所述的工件量測機臺，其特征在于，還包括：

標記裝置，電性連接于所述計算裝置，其中當所述組裝面及所述外觀面的高度差位于預設范圍之外時，所述計算裝置指示所述標記裝置在所述組裝面上留下識別標記，所述段差在0.95毫米至1.05毫米之間。

3.根據權利要求1所述的工件量測機臺，其特征在于，還包括：

第一移動模塊；以及

第二移動模塊，運動方向垂直于所述第一移動模塊，其中所述承載臺配置于所述第一移動模塊上，且所述第一移動模塊配置于所述第二移動模塊上。

4.根據權利要求3所述的工件量測機臺，其特征在于，還包括：

第三移動模塊，移動方向垂直于所述第一移動模塊及所述第二移動模塊的，且所述高度量測裝置配置于所述第三移動模塊。

5.根據權利要求1所述的工件量測機臺，其特征在于，還包括：

轉動模塊，連接于所述承載臺，以使所述承載臺相對于所述高度量測裝置轉動。

6.一種工件的殼體段差量測方法，其特征在于，包括：

提供待測工件，其中所述待測工件包括組裝面及圍繞所述組裝面的外觀面，所述組裝面與所述外觀面之間存在段差；

量測所述組裝面上的多個第一量測點與所述外觀面上多個第二量測點的高度信息，其中所述多個第二量測點分別對應于所述多個第一量測點；以及

計算所述多個第一量測點與對應的所述多個第二量測點的多個高度差值是否分別介于預設范圍之內。

7.根據權利要求6所述的工件的殼體段差量測方法，其特征在于，其中在量測所述組裝面上的多個第一量測點與所述外觀面上多個第二量測點的高度信息的步驟中，還包括：

使所述待測工件相對于高度量測裝置移動或轉動，以使所述高度量測裝置量測所述組裝面與所述外觀面上的不同位置。

8.根據權利要求7所述的工件的殼體段差量測方法，其特征在于，其中在量測所述組裝面上的多個第一量測點與所述外觀面上多個第二量測點的高度信息的步驟中，還包括：

依據待測位置信息，指示連動于所述待測工件與所述高度量測裝置中的至少一者的運動裝置作動。

9.一種工件的殼體段差調校方法，其特征在于，包括：

如根據權利要求6至8中任一項所述的工件的殼體段差量測方法，其中所述預設范圍在0.95毫米至1.05毫米之間；以及

當各所述第一量測點與對應的所述第二量測點的所述高度差值位在所述預設范圍之外時，調整所述組裝面在靠近所述第一量測點處的高度或所述外觀面在靠近所述第二量測點的高度，以使調整后的所述第一量測點與對應的所述第二量測點的所述高度差值位在所述預設范圍之內。

10.根據權利要求9所述的工件的殼體段差調校方法，其特征在于，其中在調整所述組裝面在靠近所述第一量測點處的高度或所述外觀面在靠近所述第二量測點的高度的步驟之前，還包括：

在所述組裝面或所述外觀面上對應于不在所述預設范圍的所述高度差值的部位留下識別標記；以及

研磨所述組裝面或所述外觀面上具有所述識別標記的部位。