[發明專利]多探頭掃描測試架

在審

• 申請號: 201810188281.6
• 申請日: 2018-03-07
• 公開（公告）號: CN110244136A
• 公開（公告）日: 2019-09-17
• 發明（設計）人: 劉科宏
• 申請（專利權）人: 劉科宏
• 主分類號: G01R29/10
• 分類號: G01R29/10;G01R1/04
• 代理公司: 北京維正專利代理有限公司 11508
• 代理人: 何星民

本發明涉及一種多探頭掃描測試架，包括：機架；至少兩組承載于所述機架的多探頭測試組件，所述多探頭測試組件包括：承載于所述機架的第一剪叉式支架；以及，裝配于所述剪叉式支架的位于同一軸線的各節點處的測試探頭；以及，用于所述驅動各第一剪叉式支架伸縮的第一驅動機構。由于設置了至少兩組多探頭測試組件，且每組多探頭測試組件中具有多個測試探頭，因此提高了天線的測試速度，當第一驅動機構驅動第一剪叉式支架伸縮時，由于測試探頭設置在節點處，因此在第一剪叉式支架伸縮時，各測試探頭之間的距離也同步發生了改變，從而可以適配多種規格的陣列天線，適用性強。

技術領域

本發明涉及天線測量技術領域，更具體地說，它涉及一種多探頭掃描測試架。

背景技術

為適應現代通信設備的需求，陣列天線在逐漸得到普及和廣泛的應用，陣列天線就是用多個天線單元來提高包括高增益在內的天線性能。

在民用的交通工具中，需要陣列天線在較寬頻帶內支持通信、雷達、情報交換和導航，由于不同的陣列天線陣子間距、陣子數量都不相同，傳統的陣列天線測試時采用單個探頭對多個陣子逐一掃描即可獲取每個陣子的輻射性能，然而隨著陣列天線的大規模使用，該方法測試效率難以滿足日益增長的測試需求。

而傳統的多探頭測試方案雖然能夠加快天線測試速度，但由于各探頭間間距固定，一套多探頭天線測試系統只能測試對應探頭間距的陣列天線，適用性較差。

發明內容

針對現有技術存在的不足，本發明實施例的目的在于提供一種多探頭掃描測試架，具有可調節各探頭之間的間距以測試不同規格的陣列天線的優點。

本發明實施例的上述技術目的是通過以下技術方案得以實現的：

一種多探頭掃描測試架，包括：

機架；

承載于所述機架的多探頭測試組件，所述多探頭測試組件包括：承載于所述機架的第一剪叉式支架；以及，裝配于所述第一剪叉式支架的位于同一軸線的各節點處的測試探頭；以及，

用于所述驅動各第一剪叉式支架伸縮的第一驅動機構。

實現上述技術方案，由于每組多探頭測試組件中具有多個測試探頭，因此提高了天線的測試速度，當第一驅動機構驅動第一剪叉式支架伸縮時，由于測試探頭設置在節點處，因此在第一剪叉式支架伸縮時，各測試探頭之間的距離也同步發生了改變，從而可以適配多種規格的陣列天線，適用性強。

進一步的，所述第一剪叉式支架的兩端均為相互鉸接的短桿并形成第一承載端和第二承載端，所述第一承載端承載于所述機架；

所述第一驅動機構包括：

滑動式裝配于所述機架的推移桿，各所述第一剪叉式支架的第二承載端承載于所述推移桿；以及，

與所述推移桿相裝配、用于驅動所述推移桿沿所述第一剪叉式支架伸縮方向移動的第一驅動組件。

進一步的，所述第一驅動組件從如下結構中選擇單獨或者組合適用：驅動氣缸、絲桿驅動結構或者齒輪齒條驅動結構。

實現上述技術方案，第一驅動組件對推移桿施加驅動力時，即可驅動各第一剪叉式支架發生伸縮運動，從而調整了測試探頭之間的距離。

進一步的，各所述測試探頭設置于所述第一剪叉式支架的中心節點處。

實現上述技術方案，使得各測試探頭在調節時僅在第一剪叉式支架的伸縮方向上發生變化，調節過程更加方便。

進一步的，所述多探頭測試組件至少設置兩組，相鄰所述多探頭測試組件中的測試探頭為極化方向相反的單極化探頭。

實現上述技術方案，可以替代傳統的雙極化探頭進行測試，由于單極化探頭的尺寸要小于雙極化探頭，從而減小測試探頭的尺寸。