[發明專利]多探頭掃描測試架

在審

• 申請號: 201810188281.6
• 申請日: 2018-03-07
• 公開（公告）號: CN110244136A
• 公開（公告）日: 2019-09-17
• 發明（設計）人: 劉科宏
• 申請（專利權）人: 劉科宏
• 主分類號: G01R29/10
• 分類號: G01R29/10;G01R1/04
• 代理公司: 北京維正專利代理有限公司 11508
• 代理人: 何星民

1.一種多探頭掃描測試架，其特征在于，包括：

機架(1)；

承載于所述機架(1)的多探頭測試組件(2)，所述多探頭測試組件(2)包括：承載于所述機架(1)的第一剪叉式支架(21)；以及，裝配于所述第一剪叉式支架(21)的位于同一軸線的各節點處的測試探頭(22)；以及，

用于驅動各所述第一剪叉式支架(21)伸縮的第一驅動機構(3)。

2.根據權利要求1所述的多探頭掃描測試架，其特征在于，所述第一剪叉式支架(21)的兩端均為相互鉸接的短桿并形成第一承載端(211)和第二承載端(212)，所述第一承載端(211)承載于所述機架(1)；

所述第一驅動機構(3)包括：

滑動式裝配于所述機架(1)的推移桿(31)，各所述第一剪叉式支架(21)的第二承載端(212)承載于所述推移桿(31)；以及，

與所述推移桿(31)相裝配、用于驅動所述推移桿(31)沿所述第一剪叉式支架(21)伸縮方向移動的第一驅動組件(32)。

3.根據權利要求2所述的多探頭掃描測試架，其特征在于，所述第一驅動組件(32)從如下結構中選擇單獨或者組合適用：驅動氣缸、絲桿驅動結構或者齒輪齒條驅動結構。

4.根據權利要求1或2或3所述的多探頭掃描測試架，其特征在于，各所述測試探頭(22)設置于所述第一剪叉式支架(21)的中心節點處。

5.根據權利要求4所述的多探頭掃描測試架，其特征在于，所述多探頭測試組件(2)至少設置兩組，相鄰所述多探頭測試組件(2)中的測試探頭(22)為極化方向相反的單極化探頭。

6.根據權利要求2所述的多探頭掃描測試架，其特征在于，所述第一承載端(211)滑動式裝配于所述機架(1)，所述第二承載端(212)滑動式裝配于所述推移桿(31)，所述機架(1)上還設有用于推動各所述第一剪叉式支架(21)相互靠近或遠離的第二驅動機構(4)。

7.根據權利要求6所述的多探頭掃描測試架，其特征在于，所述第二驅動機構(4)包括：

第二剪叉式支架(41)，所述第二剪叉式支架(41)的兩端均為相互鉸接的短桿并形成第三承載端(411)和第四承載端(412)，所述第三承載端(411)承載于所述機架(1)，各所述第一承載端(211)與所述第二剪叉式支架(41)的位于同一軸線的節點相裝配；以及，

與所述第四承載端(412)相裝配、用于驅動所述第一剪叉式支架(21)沿所述第二剪叉式支架(41)伸縮方向移動的第二驅動組件(42)。

8.根據權利要求7所述的多探頭掃描測試架，其特征在于，所述第二驅動組件(42)從如下結構中選擇單獨或者組合適用：驅動氣缸、絲桿驅動結構或者齒輪齒條驅動結構。

9.根據權利要求7或8所述的多探頭掃描測試架，其特征在于，各所述第一承載端(211)與所述第二剪叉式支架(41)的中心節點相裝配。

10.根據權利要求3所述的多探頭掃描測試架，其特征在于，當所述第一驅動組件(32)為驅動氣缸時，所述驅動氣缸的底座固定于所述機架(1)，所述驅動氣缸的活塞桿固定于所述推移桿(31)。