[發明專利]LED器件外延結構及其制作方法在審
| 申請號: | 201810181170.2 | 申請日: | 2018-03-06 |
| 公開(公告)號: | CN108428773A | 公開(公告)日: | 2018-08-21 |
| 發明(設計)人: | 沈學如 | 申請(專利權)人: | 澳洋集團有限公司 |
| 主分類號: | H01L33/14 | 分類號: | H01L33/14;H01L33/06;H01L33/32;H01L33/00 |
| 代理公司: | 蘇州市港澄專利代理事務所(普通合伙) 32304 | 代理人: | 馬麗麗 |
| 地址: | 215600 江蘇省蘇州市*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 電子阻擋層 阻擋層 外延結構 漸變 空穴 量子阱有源區 多量子阱層 極化效應 量子阱層 依次疊加 約束能力 未摻雜 襯底 減小 制作 申請 | ||
本申請公開了一種LED器件外延結構,包括依次形成于襯底上的未摻雜的GaN層、n型摻雜的GaN層、多量子阱層、電子阻擋層和p型摻雜的GaN層,所述電子阻擋層包括依次疊加的第一阻擋層和第二阻擋層,所述第一阻擋層為Al組分自下向上漸變增加的AlxGa1?xN層,0<x≤0.15,所述第二阻擋層為Al0.15Ga0.85N層。本申請還公開了一種LED器件外延結構的制作方法。本發明的電子阻擋層,通過Al組分的漸變設計,可以大大增加量子阱有源區的空穴濃度,增強電子約束能力,減小電子阻擋層和量子阱層之間的極化效應。
技術領域
本申請涉及半導體技術領域,特別是涉及一種LED器件外延結構及其制作方法。
背景技術
在LED(Light Emitting Diode,發光二極管)產業的發展中,寬帶隙(Eg>2.3eV)半導體材料GaN發展異常迅速,GaN基LED很快實現了商業化。
現有的GaN基發光二極管中,通常設置一AlGaN電子阻擋層減小電子溢流,但是AlGaN電子阻擋層中存在比較強的極化場,空穴注入效率和電子約束能力差。
發明內容
本發明的目的在于提供一種LED器件外延結構及其制作方法,以克服現有技術中的不足。
為實現上述目的,本發明提供如下技術方案:
本申請實施例公開一種LED器件外延結構,包括依次形成于襯底上的未摻雜的GaN層、n型摻雜的GaN層、多量子阱層、電子阻擋層和p型摻雜的GaN層,所述電子阻擋層包括依次疊加的第一阻擋層和第二阻擋層,所述第一阻擋層為Al組分自下向上漸變增加的AlxGa1-xN層,0<x≤0.15,所述第二阻擋層為Al0.15Ga0.85N層。
優選的,在上述的LED器件外延結構中,所述多量子阱層為InGaN/GaN多量子阱層。
優選的,在上述的LED器件外延結構中,所述多量子阱層由2~10對InGaN層與GaN層依次堆疊組成。
優選的,在上述的LED器件外延結構中,所述多量子阱層中每層InGaN層的厚度為6nm,每層GaN層的厚度為10nm。
優選的,在上述的LED器件外延結構中,所述n型摻雜的GaN層和多量子阱層之間設置有應力釋放層。
優選的,在上述的LED器件外延結構中,所述應力釋放層為超晶格結構,所述應力釋放層的每個周期包括InxGa1-xN層和生長在所述InxGa1-xN層之上的GaN層,0<x<y。
優選的,在上述的LED器件外延結構中,所述第一阻擋層的厚度為15nm。
優選的,在上述的LED器件外延結構中,所述第二阻擋層的厚度為5nm。
優選的,在上述的LED器件外延結構中,所述襯底為藍寶石。
本申請還公開了一種LED器件外延結構的制作方法,包括:
(1)、提供藍寶石襯底;
(2)、采用MOCVD設備,在500℃的溫度下,在藍寶石襯底上依次生長未摻雜的GaN層和n型摻雜的GaN層;
(3)、在溫度為700℃~800℃生長InGaN/GaN多量子阱層,周期數為2~10;
(4)、在溫度700℃~900℃,生長電子阻擋層;
(5)、在溫度1000℃,生長p型摻雜的GaN層。
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