[發(fā)明專(zhuān)利]晶片結(jié)合及剝離的方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201810180105.8 | 申請(qǐng)日: | 2018-03-05 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN108400088B | 公開(kāi)(公告)日: | 2021-07-20 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 馮玙璠;陳治賢;莊昌輝;范小貞;趙前來(lái);黃漢杰;何江玲;尹建剛;高云峰 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 大族激光科技產(chǎn)業(yè)集團(tuán)股份有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | H01L21/20 | 分類(lèi)號(hào): | H01L21/20 |
| 代理公司: | 廣州華進(jìn)聯(lián)合專(zhuān)利商標(biāo)代理有限公司 44224 | 代理人: | 石佩 |
| 地址: | 518051 廣東省深圳市南*** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 晶片 結(jié)合 剝離 方法 | ||
本發(fā)明涉及一種晶片結(jié)合及剝離的方法,包括以下步驟:在基板或晶片上形成釋放層,將所述基板和所述晶片粘合,且所述釋放層位于所述基板和所述晶片之間;對(duì)所述晶片遠(yuǎn)離所述釋放層的表面進(jìn)行加工;將呈高斯分布的激光束整形為矩形平頂光束或線光束后,掃描所述釋放層以將所述釋放層分解,使得所述基板和所述晶片剝離。上述晶片結(jié)合及剝離的方法剝離成功率高。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及半導(dǎo)體加工技術(shù)領(lǐng)域,特別是涉及一種晶片結(jié)合及剝離的方法。
背景技術(shù)
集成電路封裝是半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)鏈中的核心環(huán)節(jié)之一,近年來(lái),疊層芯片封裝逐漸成為技術(shù)發(fā)展的主流。疊層芯片封裝技術(shù),簡(jiǎn)稱(chēng)3D封裝,是指在不改變封裝體尺寸的前提下,在同一個(gè)封裝體內(nèi)于垂直方向疊放兩個(gè)以上芯片的封裝技術(shù)。
隨著對(duì)于大規(guī)模集成、高密度封裝的需求日漸提高,堆疊中所用各層芯片的厚度需要減薄,目前較為先進(jìn)的疊層封裝的芯片厚度都在100μm以下,對(duì)于一些應(yīng)用,硅晶片/芯片被后側(cè)研磨并拋光到50μm甚至更薄。雖然單晶硅具有非常高的機(jī)械強(qiáng)度,但在降低厚度的過(guò)程中,硅晶片的脆性會(huì)增加,減薄后的硅晶片在后續(xù)的加工過(guò)程中十分容易彎折或斷裂,這對(duì)于自動(dòng)化設(shè)備提出了較大的挑戰(zhàn)。
針對(duì)上述問(wèn)題,在現(xiàn)有技術(shù)中,通過(guò)將被加工的晶片粘著固定在基板上,以增強(qiáng)晶片在加工過(guò)程中的機(jī)械強(qiáng)度,在晶片加工完成之后,再將晶片與基板剝離。在現(xiàn)有的激光剝離方式中,常見(jiàn)的做法為通過(guò)在晶片和基板之間涂覆上粘合層和釋放層,其中粘合層的成份主要為能夠通過(guò)紫外線或熱固化的有機(jī)物質(zhì),可以是包含選自聚酯類(lèi)樹(shù)脂、丙烯酸類(lèi)樹(shù)脂、環(huán)氧類(lèi)樹(shù)脂、硅類(lèi)樹(shù)脂以及聚氨基甲酸乙酯類(lèi)樹(shù)脂構(gòu)成的組合中的一種及以上物質(zhì)。釋放層則是能夠吸收特定波長(zhǎng)激光的物質(zhì),通過(guò)采用特定波長(zhǎng)的激光對(duì)釋放層進(jìn)行照射,使得釋放層材料分解,從而晶片與基板分離。
但是,在實(shí)際應(yīng)用過(guò)程中,激光器出射的圓形光斑呈高斯分布,光斑中心的能量密度要高于邊緣區(qū)域的能量密度,采用此種光束進(jìn)行激光剝離時(shí),控制整個(gè)晶片面積上的激光能量完全一致十分困難,從而產(chǎn)生不同區(qū)域上所吸收到的激光能量不同,使得剝離效果不均勻,激光剝離的成功率較低。
發(fā)明內(nèi)容
基于此,為解決晶片剝離過(guò)程中,呈高斯分布的激光束造成不同區(qū)域的激光能量覆蓋不均勻而容易導(dǎo)致剝離不完全,以及晶片上殘留的釋放層材料需要通過(guò)強(qiáng)堿液進(jìn)行清洗而對(duì)晶片上的圖案或者電路結(jié)構(gòu)會(huì)產(chǎn)生一定的損傷的問(wèn)題,提供一種晶片結(jié)合及剝離的方法。
一種晶片結(jié)合及剝離的方法,包括以下步驟:在基板或晶片上形成釋放層,將所述基板和所述晶片粘合,且所述釋放層位于所述基板和所述晶片之間;對(duì)所述晶片遠(yuǎn)離所述釋放層的表面進(jìn)行加工;將呈高斯分布的激光束整形為矩形平頂光束或線光束后,掃描所述釋放層以將所述釋放層分解,使得所述基板和所述晶片剝離。
上述晶片結(jié)合及剝離的方法,采用光束整形器件,如衍射光學(xué)元件(DOE,Diffraction Optical Element)或微透鏡陣列,將呈高斯分布的光斑整形為矩形平頂光束或者線光束,使得釋放層各個(gè)區(qū)域的材料接收到的激光能量均勻,可以獲得較佳的剝離效果,此外,通過(guò)整形改變光斑形態(tài)為矩形或者線型的同時(shí),提高了光斑的疊加率,使得在釋放層所有被掃描到的區(qū)域所接收到的激光能量均勻,有效提高了激光作用能量密度,使得釋放層材料完全分解,省去了后續(xù)采用強(qiáng)堿溶液進(jìn)行清洗易造成晶片損傷的風(fēng)險(xiǎn)。
在其中一個(gè)實(shí)施例中,當(dāng)將呈高斯分布的激光束整形為矩形平頂光束時(shí),所述矩形平頂光束的截面尺寸為300μm*100μm。
在其中一個(gè)實(shí)施例中,所述在基板或晶片上形成釋放層的步驟包括:通過(guò)旋涂或卷對(duì)卷涂布工藝將復(fù)合材料涂覆于所述基板或晶片上并進(jìn)行固化,形成所述釋放層。
在其中一個(gè)實(shí)施例中,所述激光束為紫外激光。
在其中一個(gè)實(shí)施例中,所述激光束的波長(zhǎng)為308nm或355nm。
在其中一個(gè)實(shí)施例中,所述基板的材質(zhì)為玻璃。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類(lèi)目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專(zhuān)門(mén)適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專(zhuān)門(mén)適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過(guò)程中的測(cè)試或測(cè)量
H01L21-67 .專(zhuān)門(mén)適用于在制造或處理過(guò)程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專(zhuān)門(mén)適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過(guò)程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造
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