[發明專利]鐵磁圓柱直流磁性能標準樣品測定方法、磁導計校正方法

有效

• 申請號: 201810169642.2
• 申請日: 2018-03-01
• 公開（公告）號: CN108445434B
• 公開（公告）日: 2020-02-07
• 發明（設計）人: 朱永紅;陳篤行;向禮雄;丁佳泉
• 申請（專利權）人: 湖南省永逸科技有限公司
• 主分類號: G01R35/00
• 分類號: G01R35/00
• 代理公司: 43211 長沙智嶸專利代理事務所(普通合伙)
• 代理人: 胡亮

本發明公開了一種鐵磁圓柱直流磁性能一級標準樣品測定方法，包括步驟：采用磁通計螺線管法測量鐵磁圓柱樣品的磁化曲線和磁滯回線，獲得鐵磁圓柱樣品在開路狀態的磁化強度M*對外加磁場H_a的第一關系曲線M*(H_a)；對第一關系曲線M*(H_a)進行退磁修正，獲得鐵磁圓柱樣品的真實磁化強度M對真實磁場H的真實關系曲線M(H)；采用B類磁導計測量鐵磁圓柱樣品至少兩個不同位置的磁化曲線和磁滯回線，獲得鐵磁圓柱樣品的一組第二關系曲線；當獲得的一組第二關系曲線完全一致時，將采用磁通計螺線管法測量的鐵磁圓柱樣品確定為一級標準樣品，并將退磁修正后獲得的真實關系曲線M(H)對應的磁特性參數確定為一級標準樣品的真實磁特性參數。

技術領域

本發明涉及磁測量技術領域，特別地，涉及一種鐵磁圓柱直流磁性能一級標準樣品測定方法、二級標準樣品測定方法。此外，本發明還涉及一種采用上述一級標準樣品進行的磁導計校正方法。

背景技術

為用棒狀樣品檢驗軟磁材料的磁性能參數而不考慮退磁場的影響，目前唯一的標準測量方法是磁導計法。在磁導計法中(參考標準IEC 60404-4:2000、GB 13012-2008)，樣品通過與其兩端緊密接觸的軟磁材料做的磁軛構成閉合磁路，而被繞在磁軛(B類磁導計法)或樣品上(A類磁導計法)的通電流繞組進行磁化，樣品的磁感應化強度M或磁化場強度H是用套(靠)在其上的線圈中感生電動勢的積分用磁通計測量計算獲得的。這樣，原來開路條狀樣品中的退磁場，由于其兩端的磁極的作用被在磁軛中感生的反號磁極抵消了大部分，致使退磁場的復雜影響忽略不計。與磁化繞組均勻繞在樣品上的環樣測磁相比，用磁導計可把最大磁場加大多倍，但是磁軛的有限磁阻以及在樣品兩端鄰域復雜的磁極分布未被考慮，導致磁場沿樣品長度的不均勻，不能用磁化電流、繞組匝數和磁路長準確計算磁場。這樣，磁場的均勻性和測量成了各種磁導計設計中的主要問題。

雖然目前所有配置了磁導計做軟磁材料開路樣品測量的設備都應該具有校準過的磁通計和磁場線圈，但多數仍然存在磁場強度H測量不確定的問題。與此相關，每當發現同一樣品有不同廠家生產的磁導計測量的結果極為不同時，總用磁通準確度、電流準確度和標定線圈的準確度去說服用戶，實際上磁導計本身可能存在的內稟誤差也是一個主要原因。在無法判斷哪個結果準確時，不得不依靠單位之間的協商確定一個標準來統一數據。顯然，這種人為確定的標準是缺乏科學根據，因而至今不存在大家認可的國際標準和國家標準。

發明內容

本發明提供了一種鐵磁圓柱直流磁性能一、二級標準樣品測定方法及磁導計校正方法，以解決現有技術中軟磁棒狀樣品磁性測量結果不一致的技術問題。

一方面，本發明提供了一種鐵磁圓柱直流磁性能一級標準樣品測定方法，包括以下步驟：

步驟S100，采用磁通計螺線管法對鐵磁圓柱樣品測量其磁化曲線和磁滯回線，獲得鐵磁圓柱樣品在開路狀態的磁化強度M*對外加磁場H_a的第一關系曲線M*(H_a)；

步驟S200，對第一關系曲線M*(H_a)進行退磁修正，獲得鐵磁圓柱樣品的真實磁化強度M對真實磁場H的真實關系曲線M(H)；

步驟S300，采用B類磁導計對鐵磁圓柱樣品的至少兩個不同位置測量其磁化曲線和磁滯回線，獲得鐵磁圓柱樣品的一組第二關系曲線；

步驟S400，當步驟S300中獲得的一組第二關系曲線完全一致時，將步驟S100中采用磁通計螺線管法測量的鐵磁圓柱樣品確定為一級標準樣品，并將步驟S200中退磁修正后獲得的真實關系曲線M(H)對應的磁特性參數確定為一級標準樣品的真實磁特性參數。

進一步地，步驟S100包括：

步驟S101，在鐵磁圓柱樣品中部外表直接纏繞感應線圈；或者將繞制有感應線圈的骨架套設于鐵磁圓柱樣品外；