[發(fā)明專利]鐵磁圓柱直流磁性能標準樣品測定方法、磁導計校正方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201810169642.2
• 申請日: 2018-03-01
• 公開（公告）號: CN108445434B
• 公開（公告）日: 2020-02-07
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 朱永紅;陳篤行;向禮雄;丁佳泉
• 申請（專利權(quán)）人: 湖南省永逸科技有限公司
• 主分類號: G01R35/00
• 分類號: G01R35/00
• 代理公司: 43211 長沙智嶸專利代理事務(wù)所(普通合伙)
• 代理人: 胡亮

1.一種鐵磁圓柱直流磁性能一級標準樣品測定方法，其特征在于，包括以下步驟：

步驟S100，采用磁通計螺線管法對鐵磁圓柱樣品測量其磁化曲線和磁滯回線，獲得所述鐵磁圓柱樣品在開路狀態(tài)的磁化強度M*對外加磁場H_a的第一關(guān)系曲線M*(H_a)；

步驟S200，對所述第一關(guān)系曲線M*(H_a)進行退磁修正，獲得所述鐵磁圓柱樣品的真實磁化強度M對真實磁場H的真實關(guān)系曲線M(H)；

步驟S300，采用B類磁導計對所述鐵磁圓柱樣品的至少兩個不同位置測量其磁化曲線和磁滯回線，獲得所述鐵磁圓柱樣品的一組第二關(guān)系曲線；

步驟S400，當所述步驟S300中獲得的所述一組第二關(guān)系曲線完全一致時，將所述步驟S100中采用磁通計螺線管法測量的鐵磁圓柱樣品確定為一級標準樣品，并將所述步驟S200中退磁修正后獲得的所述真實關(guān)系曲線M(H)對應(yīng)的磁特性參數(shù)確定為所述一級標準樣品的真實磁特性參數(shù)；

所述步驟S200中，采用以下公式進行退磁修正，

M＝M^*[1-N_f(H_a)r_c²/r_s²]^-1，

H＝H_a-N_f(H_a)M，

其中，M為經(jīng)過退磁修正后的磁化強度，r_s為被測鐵磁圓柱樣品的半徑，r_c為設(shè)置在被測鐵磁圓柱樣品外的感應(yīng)線圈的半徑，N_f(H_a)為對每點做微分磁化率獲得的退磁因子函數(shù)。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的鐵磁圓柱直流磁性能一級標準樣品測定方法，其特征在于，所述步驟S100包括：

步驟S101，在鐵磁圓柱樣品中部外表直接纏繞感應(yīng)線圈；或者將繞制有感應(yīng)線圈的骨架套設(shè)于鐵磁圓柱樣品外；

步驟S102，將設(shè)置有所述感應(yīng)線圈的鐵磁圓柱樣品裝入螺線管中部均勻區(qū)中，所述均勻區(qū)的長度大于鐵磁圓柱樣品的長度；

步驟S103，對螺線管繞組施加衰減消磁電流，對鐵磁圓柱樣品進行消磁處理，按設(shè)定的正向磁化和反向退磁控制測量過程，采用磁通計測量所述感應(yīng)線圈兩端感生電動勢的積分，獲得鐵磁圓柱樣品在不進行退磁修正時的磁化曲線、磁滯回線上對應(yīng)的各點原始數(shù)據(jù)，進而獲得鐵磁圓柱樣品的第一關(guān)系曲線M*(H_a)。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的鐵磁圓柱直流磁性能一級標準樣品測定方法，其特征在于，所述測定方法還包括：

步驟S100’，將所述鐵磁圓柱樣品對稱切除兩端以截短，并對截短后的鐵磁圓柱樣品采用磁通計螺線管法進行開路狀態(tài)的測量，獲得截短后的鐵磁圓柱樣品對應(yīng)的第一關(guān)系曲線M*(H_a)；

步驟S100”，重復(fù)所述步驟S100’多次；

所述步驟S200中，對截短前后的各鐵磁圓柱樣品所對應(yīng)的各第一關(guān)系曲線M*(H_a)分別利用對每點微分磁化率函數(shù)的退磁因子進行退磁修正，獲得各鐵磁圓柱樣品對應(yīng)的真實關(guān)系曲線M(H)。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的鐵磁圓柱直流磁性能一級標準樣品測定方法，其特征在于，所述測定方法還包括：

步驟S200’，重合度在預(yù)定偏差范圍內(nèi)的多個真實關(guān)系曲線M(H)所對應(yīng)的各鐵磁圓柱樣品中，將最短的鐵磁圓柱樣品的長徑比確定為最小長徑比；

所述步驟S400中，將長徑比大于或等于所述最小長徑比的鐵磁圓柱樣品確定為一級標準樣品。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的鐵磁圓柱直流磁性能一級標準樣品測定方法，其特征在于，

所述重合度在預(yù)定偏差范圍內(nèi)的多個真實關(guān)系曲線M(H)中，各真實關(guān)系曲線M(H)對應(yīng)的磁特性參數(shù)偏差在1％內(nèi)。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的鐵磁圓柱直流磁性能一級標準樣品測定方法，其特征在于，

所述鐵磁圓柱樣品的長徑比大于100。