[發明專利]一種改善混響室均勻性的方法和裝置

有效

• 申請號: 201810167800.0
• 申請日: 2018-02-28
• 公開（公告）號: CN108710035B
• 公開（公告）日: 2020-12-25
• 發明（設計）人: 齊萬泉;王淞宇;劉星汛;黃建領;彭博
• 申請（專利權）人: 北京無線電計量測試研究所
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00;B01F15/00
• 代理公司: 北京國昊天誠知識產權代理有限公司 11315
• 代理人: 許志勇

本發明公開了一種改善混響室均勻性的方法和裝置，解決現有方法改善因素單一、改善效果差的問題。所述方法，包括以下步驟：通過雙因素方差分析法，對影響所述混響室場均勻特性的兩個因素，攪拌葉片長寬比、攪拌葉片夾角進行建模分析，確定影響大的因素為第一因素、影響小的因素為第二因素；對所述第一因素進行優化，得到第一因素優化值；在所述第一因素優化值基礎上，對所述第二因素進行優化，得到第二因素優化值；確定所述第一、第二因素優化值的組合為所述混響室的最優設計值。本發明可以推廣到其它尺寸的混響室設計中，為混響室攪拌器的優化設計提供依據，從而實現改善混響室場均勻性的目的。

技術領域

本發明涉及電磁兼容領域，尤其涉及一種改善混響室均勻性的方法和裝置。

背景技術

場均勻性是混響室最主要的性能參數之一，混響室場均勻性的好壞，會影響到測試結果的一致性，IEC 61000-4-21標準中對混響室的場均勻性參數做了明確的要求。混響室場均勻性的影響因素較多，包括混響室腔體大小、攪拌器結構、混響室腔體內布局、混響室腔體內工作區域的選擇、使用天線、混響室制作材料特性等。在這些因素當中，當確定了混響室腔體大小和材料后，攪拌器葉片形狀、大小及葉片間夾角的選擇及研制成為設計階段改善混響室場均勻性最重要的關鍵因素。現有混響室場均勻性改善方案采用只考慮單一因素，忽略影響場均勻性的多重因素及他們之間的相互關系，改善效果較差。

發明內容

本發明提供一種改善混響室均勻性的方法和裝置，解決現有方法改善因素單一、改善效果差的問題。

一種改善混響室均勻性的方法，包括以下步驟：通過雙因素方差分析法，對影響所述混響室場均勻特性的兩個因素，攪拌葉片長寬比、攪拌葉片夾角進行建模分析，確定影響大的因素為第一因素、影響小的因素為第二因素；對所述第一因素進行優化，得到第一因素優化值；在所述第一因素優化值基礎上，對所述第二因素進行優化，得到第二因素優化值；確定所述第一、第二因素優化值的組合為所述混響室的最優設計值。

進一步地，所述方法還包括：根據所述混響室的均勻性監測頻段設置多個監測頻點；分別對每個所述監測頻點計算所述最優設計值；對每個所述監測頻點的最優設計值進行統計平均，得到監測頻段的所述混響室的最優設計值。

優選地，所述通過雙因素方差分析法，對影響所述混響室場均勻特性的兩個因素，攪拌葉片長寬比、攪拌葉片夾角進行建模分析，確定影響大的因素為第一因素、影響小的因素為第二因素的步驟，進一步包含：分別對所述攪拌葉片長寬比、攪拌葉片夾角兩個因素進行位級分解，并將所述攪拌葉片長寬比的位級與所述攪拌葉片夾角的位級進行組合，建立試驗正交表；對所述試驗正交表的每個組合的場均勻性觀測值進行記錄，得到試驗數據；根據所述試驗數據，計算得到所述攪拌葉片長寬比和所述攪拌葉片夾角的均方和；根據所述均方和數據，確定第一因素、第二因素為：當所述攪拌葉片長寬比均方和大于等于所述攪拌葉片夾角的均方和時，確定所述攪拌葉片長寬比為第一因素，所述攪拌葉片夾角為第二因素，當所述攪拌葉片長寬比均方和小于所述攪拌葉片夾角的均方和時，確定所述攪拌葉片夾角為第一因素，所述攪拌葉片長寬比為第二因素。

優選地，所述根據試驗數據，計算得到所述攪拌葉片長寬比和所述攪拌葉片夾角的均方和的步驟，進一步包含：根據所述試驗數據建立模型為：

X_ij＝μ+α_i+β_j+ε_ij,i＝1,...,k；j＝1,...,m

α₁+...+α_k＝0

β₁+...+β_m＝0