[發(fā)明專利]一種改善混響室均勻性的方法和裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201810167800.0
• 申請日: 2018-02-28
• 公開（公告）號: CN108710035B
• 公開（公告）日: 2020-12-25
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 齊萬泉;王淞宇;劉星汛;黃建領(lǐng);彭博
• 申請（專利權(quán)）人: 北京無線電計量測試研究所
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00;B01F15/00
• 代理公司: 北京國昊天誠知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11315
• 代理人: 許志勇

1.一種改善混響室均勻性的方法，其特征在于，包括以下步驟：

通過雙因素方差分析法，對影響所述混響室場均勻特性的兩個因素，攪拌葉片長寬比、攪拌葉片夾角進(jìn)行建模分析，確定影響大的因素為第一因素、影響小的因素為第二因素；

對所述第一因素進(jìn)行優(yōu)化，得到第一因素優(yōu)化值；

在所述第一因素優(yōu)化值基礎(chǔ)上，對所述第二因素進(jìn)行優(yōu)化，得到第二因素優(yōu)化值；

確定所述第一、第二因素優(yōu)化值的組合為所述混響室的最優(yōu)設(shè)計值；

根據(jù)所述混響室的均勻性監(jiān)測頻段設(shè)置多個監(jiān)測頻點(diǎn)；

分別對每個所述監(jiān)測頻點(diǎn)計算所述最優(yōu)設(shè)計值；

對每個所述監(jiān)測頻點(diǎn)的最優(yōu)設(shè)計值進(jìn)行統(tǒng)計平均，得到監(jiān)測頻段的所述混響室的最優(yōu)設(shè)計值。

2.如權(quán)利要求1所述的改善混響室均勻性的方法，其特征在于，所述通過雙因素方差分析法，對影響所述混響室場均勻特性的兩個因素，攪拌葉片長寬比、攪拌葉片夾角進(jìn)行建模分析，確定影響大的因素為第一因素、影響小的因素為第二因素的步驟，進(jìn)一步包含：

分別對所述攪拌葉片長寬比、攪拌葉片夾角兩個因素進(jìn)行位級分解，并將所述攪拌葉片長寬比的位級與所述攪拌葉片夾角的位級進(jìn)行組合，建立試驗正交表；

對所述試驗正交表的每個組合的場均勻性觀測值進(jìn)行記錄，得到試驗數(shù)據(jù)；

根據(jù)所述試驗數(shù)據(jù)，計算得到所述攪拌葉片長寬比和所述攪拌葉片夾角的均方和；

根據(jù)所述均方和數(shù)據(jù)，確定第一因素、第二因素為：當(dāng)所述攪拌葉片長寬比均方和大于等于所述攪拌葉片夾角的均方和時，確定所述攪拌葉片長寬比為第一因素，所述攪拌葉片夾角為第二因素，當(dāng)所述攪拌葉片長寬比均方和小于所述攪拌葉片夾角的均方和時，確定所述攪拌葉片夾角為第一因素，所述攪拌葉片長寬比為第二因素。

3.如權(quán)利要求2所述的改善混響室均勻性的方法，其特征在于，所述根據(jù)試驗數(shù)據(jù)，計算得到所述攪拌葉片長寬比和所述攪拌葉片夾角的均方和的步驟，進(jìn)一步包含：

根據(jù)所述試驗數(shù)據(jù)建立模型為：

X_ij＝μ+α_i+β_j+ε_ij,i＝1,...,k；j＝1,...,m

α₁+...+α_k＝0

β₁+...+β_m＝0

其中，X_ij為所述攪拌葉片夾角因素的第i個位級與所述攪拌葉片長寬比的第j個位級組合的試驗觀測值，μ為X_ij的均值，α_i為所述攪拌葉片夾角因素的第i個位級的效應(yīng)，β_j是所述攪拌葉片長寬比的第j個位級的效應(yīng)，ε_ij是試驗誤差，相互獨(dú)立且服從分布N(0,σ²)；

計算得到所述攪拌葉片長寬比和所述攪拌葉片夾角的均方和、自由度為：

f_T＝k*m-1

f_A＝k-1

f_B＝m-1

f_E＝(m-1)*(k-1)

其中，S_T為總平方和，k為所述攪拌葉片夾角的位級個數(shù)，i為所述攪拌葉片夾角的位級序號，m為所述攪拌葉片長寬比的位級個數(shù)，j為所述攪拌葉片長寬比的位級序號，X_ij為所述攪拌葉片夾角因素的第i個位級與所述攪拌葉片長寬比的第j個位級組合的試驗觀測值，是所述觀測值的均值，A為所述攪拌葉片夾角，B為所述攪拌葉片長寬比，S_A為所述攪拌葉片夾角的效應(yīng)平方和，f_T為總的自由度，是所述攪拌葉片夾角第i個位級的均值，f_A為所述攪拌葉片夾角的自由度，S_B為所述攪拌葉片長寬比的效應(yīng)平方和，f_B為所述攪拌葉片長寬比的自由度，是所述攪拌葉片長寬比第j個位級的均值，S_E為誤差均方和，MS_A為所述攪拌葉片夾角的均方和，MS_B為攪拌葉片長寬比的均方和。