[發(fā)明專利]一種修補(bǔ)質(zhì)量評(píng)價(jià)方法

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201810162980.3
• 申請(qǐng)日: 2018-02-26
• 公開（公告）號(hào): CN110196278A
• 公開（公告）日: 2019-09-03
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 漆松林;陶楚雍;郭青;王文娟;陳永楨;王旭
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 漆松林
• 主分類號(hào): G01N29/04
• 分類號(hào): G01N29/04;G01N29/30
• 代理公司: 四川力久律師事務(wù)所 51221
• 代理人: 熊曉果;劉童笛

1.一種修補(bǔ)質(zhì)量評(píng)價(jià)方法，用于評(píng)價(jià)復(fù)合材料階梯式挖補(bǔ)修理區(qū)域的修理質(zhì)量，其特征在于，采用對(duì)比試塊，所述對(duì)比試塊上設(shè)有人工缺陷；

所述階梯式挖補(bǔ)修理區(qū)域?yàn)榇龣z測(cè)區(qū)；

該修補(bǔ)質(zhì)量評(píng)價(jià)方法，包括以下步驟：

S1：對(duì)對(duì)比試塊上的人工缺陷進(jìn)行超聲檢測(cè)，調(diào)整檢測(cè)靈敏度，得到基準(zhǔn)波形；

S2：在該靈敏度下，對(duì)待檢測(cè)區(qū)進(jìn)行超聲檢測(cè)，得到實(shí)測(cè)波形，并對(duì)比實(shí)測(cè)波形和基準(zhǔn)波形中，缺陷回波出現(xiàn)的時(shí)間和波幅。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的修補(bǔ)質(zhì)量評(píng)價(jià)方法，其特征在于，所述待檢測(cè)區(qū)上設(shè)有未修補(bǔ)區(qū)、鋪層區(qū)和膠膜，所述鋪層區(qū)包括嵌設(shè)于未修補(bǔ)區(qū)中的至少一個(gè)鋪層，膠膜設(shè)于鋪層區(qū)與未修補(bǔ)區(qū)之間；

所述對(duì)比試塊包括未修補(bǔ)區(qū)、鋪層區(qū)和膠膜，所述對(duì)比試塊中的鋪層區(qū)與待檢測(cè)區(qū)中的鋪層區(qū)的結(jié)構(gòu)相同，所述對(duì)比試塊中的膠膜與所述待檢測(cè)區(qū)中的膠膜結(jié)構(gòu)相同，所述對(duì)比試塊的鋪層區(qū)嵌設(shè)于未修補(bǔ)區(qū)中。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的修補(bǔ)質(zhì)量評(píng)價(jià)方法，其特征在于，鋪層區(qū)中包括至少兩個(gè)鋪層，所述鋪層呈階梯狀分布；

所述對(duì)比試塊上設(shè)有至少兩個(gè)人工缺陷，其中一個(gè)設(shè)于一個(gè)鋪層，另一個(gè)設(shè)于另一個(gè)鋪層；

所述待檢測(cè)區(qū)上具有至少兩個(gè)檢測(cè)域，一個(gè)所述檢測(cè)域與一個(gè)人工缺陷對(duì)應(yīng)；

在所述步驟S2中，對(duì)待檢測(cè)區(qū)進(jìn)行超聲檢測(cè)包括：

對(duì)待檢測(cè)區(qū)上與步驟S1中的人工缺陷對(duì)應(yīng)檢測(cè)域進(jìn)行超聲檢測(cè)。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的修補(bǔ)質(zhì)量評(píng)價(jià)方法，其特征在于，還包括以下步驟：

S3.在與步驟S1中的人工缺陷對(duì)應(yīng)的檢測(cè)域中選擇多個(gè)檢測(cè)點(diǎn)，在同一靈敏度下，在同一檢測(cè)域中的各個(gè)檢測(cè)點(diǎn)上重復(fù)進(jìn)行步驟S2。

5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的修補(bǔ)質(zhì)量評(píng)價(jià)方法，其特征在于，所述未修補(bǔ)區(qū)中設(shè)有人工缺陷，所述未修補(bǔ)區(qū)中的人工缺陷與所述膠膜相鄰，所述鋪層區(qū)中設(shè)有人工缺陷；

相鄰兩個(gè)鋪層上未重疊的區(qū)域?yàn)殄e(cuò)層區(qū)；

在所述修補(bǔ)質(zhì)量評(píng)價(jià)方法中：

若步驟S1的檢測(cè)對(duì)象為未修補(bǔ)區(qū)中的人工缺陷，則步驟S3中的各個(gè)檢測(cè)點(diǎn)對(duì)應(yīng)于待檢測(cè)區(qū)上的錯(cuò)層區(qū)；

若步驟S1的檢測(cè)對(duì)象為鋪層中的人工缺陷，則步驟S3中的各個(gè)檢測(cè)點(diǎn)對(duì)應(yīng)于待檢測(cè)區(qū)上的鋪層。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的修補(bǔ)質(zhì)量評(píng)價(jià)方法，其特征在于，人工缺陷的尺寸設(shè)置為，設(shè)計(jì)標(biāo)準(zhǔn)中能夠接受的最小缺陷的尺寸；

所述對(duì)比實(shí)測(cè)波形中的缺陷回波和基準(zhǔn)波形中，缺陷回波出現(xiàn)的時(shí)間和波幅，包括：

若實(shí)測(cè)波形中的缺陷回波的波幅大于或等于基準(zhǔn)波形中的缺陷回波的波幅，且實(shí)測(cè)波形中缺陷回波出現(xiàn)的時(shí)間與基準(zhǔn)波形中缺陷回波出現(xiàn)的時(shí)間一致，則待檢測(cè)區(qū)中與人工缺陷對(duì)應(yīng)的深度處存在不可接受的缺陷。

7.根據(jù)權(quán)利要求1-6中任意一項(xiàng)所述的修補(bǔ)質(zhì)量評(píng)價(jià)方法，其特征在于，所述人工缺陷由高超聲衰減材料制成。

8.根據(jù)權(quán)利要求1-6中任意一項(xiàng)所述的修補(bǔ)質(zhì)量評(píng)價(jià)方法，其特征在于，人工缺陷由預(yù)埋于對(duì)比試塊中的，具有脫模劑涂層的金屬生成。

9.根據(jù)權(quán)利要求1-6中任意一項(xiàng)所述的修補(bǔ)質(zhì)量評(píng)價(jià)方法，其特征在于，所述步驟S1和所述步驟S2中，所采用的檢測(cè)頻率為1.0MHz-20MHz。