[發(fā)明專利]半導(dǎo)體裝置及其制造方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201810160330.5 | 申請(qǐng)日: | 2018-02-27 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN109119471B | 公開(kāi)(公告)日: | 2021-07-30 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 彥坂年輝;木村重哉;布上真也;藏口雅彥 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 株式會(huì)社東芝 |
| 主分類號(hào): | H01L29/78 | 分類號(hào): | H01L29/78;H01L29/06;H01L29/20;H01L21/336 |
| 代理公司: | 中國(guó)貿(mào)促會(huì)專利商標(biāo)事務(wù)所有限公司 11038 | 代理人: | 李今子 |
| 地址: | 日本*** | 國(guó)省代碼: | 暫無(wú)信息 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 半導(dǎo)體 裝置 及其 制造 方法 | ||
本發(fā)明涉及半導(dǎo)體裝置及其制造方法,提供能夠降低導(dǎo)通電阻的半導(dǎo)體裝置及其制造方法。根據(jù)實(shí)施方式,半導(dǎo)體裝置包括第1~第3電極、第1~第3半導(dǎo)體區(qū)域。第1電極處于第2、第3電極之間。第1半導(dǎo)體區(qū)域包括Alx1Ga1-x1N。第1半導(dǎo)體區(qū)域的第1~第3部分區(qū)域遠(yuǎn)離第1~第3電極。第1部分區(qū)域比第2、第3部分區(qū)域厚。第2半導(dǎo)體區(qū)域包括Alx2Ga1-x2N(x2<x1)。第2半導(dǎo)體區(qū)域的第4~第6部分區(qū)域處于第1電極與第1部分區(qū)域之間、第2電極與第2部分區(qū)域之間、第3電極與第3部分區(qū)域之間。第4部分區(qū)域比第5、第6部分區(qū)域薄。第3半導(dǎo)體區(qū)域包括Alx3Ga1-x3N(x2<x3)。第3半導(dǎo)體區(qū)域處于第2電極與第5部分區(qū)域之間以及第3電極與第6部分區(qū)域之間。
本申請(qǐng)以日本專利申請(qǐng)2017-122439(申請(qǐng)日2017年6月22日)作為基礎(chǔ),基于該申請(qǐng)享受優(yōu)先權(quán)。本申請(qǐng)通過(guò)參照該申請(qǐng),包括該申請(qǐng)的全部?jī)?nèi)容。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明的實(shí)施方式涉及半導(dǎo)體裝置及其制造方法。
例如,存在使用氮化物半導(dǎo)體的晶體管等半導(dǎo)體裝置。在半導(dǎo)體裝置中,期望導(dǎo)通電阻的降低。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的實(shí)施方式提供能夠降低導(dǎo)通電阻的半導(dǎo)體裝置及其制造方法。
根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施方式,半導(dǎo)體裝置包括第1~第3電極以及第1~第3半導(dǎo)體區(qū)域。所述第3電極在第1方向上遠(yuǎn)離所述第2電極。所述第1電極的所述第1方向上的位置處于所述第2電極的所述第1方向上的位置與所述第3電極的所述第1方向上的位置之間。所述第1半導(dǎo)體區(qū)域包括Alx1Ga1-x1N(0<x1≤1)。所述第1半導(dǎo)體區(qū)域包括在與所述第1方向交叉的第2方向上遠(yuǎn)離所述第1電極的第1部分區(qū)域、在所述第2方向上遠(yuǎn)離所述第2電極的第2部分區(qū)域以及在所述第2方向上遠(yuǎn)離所述第3電極的第3部分區(qū)域。所述第1部分區(qū)域的沿著所述第2方向的第1厚度比所述第2部分區(qū)域的沿著所述第2方向的第2厚度厚、并且比所述第3部分區(qū)域的沿著所述第2方向的第3厚度厚。所述第2半導(dǎo)體區(qū)域包括Alx2Ga1-x2N(0≤x2<1、x2<x1)。所述第2半導(dǎo)體區(qū)域包括在所述第2方向上位于所述第1電極與所述第1部分區(qū)域之間的第4部分區(qū)域、在所述第2方向上位于所述第2電極與所述第2部分區(qū)域之間的第5部分區(qū)域以及在所述第2方向上位于所述第3電極與所述第3部分區(qū)域之間的第6部分區(qū)域。所述第4部分區(qū)域的沿著所述第2方向的第4厚度比所述第5部分區(qū)域的沿著所述第2方向的第5厚度薄、并且比所述第6部分區(qū)域的沿著所述第2方向的第6厚度薄。所述第3半導(dǎo)體區(qū)域包括Alx3Ga1-x3N(0<x3≤1、x2<x3)。所述第3半導(dǎo)體區(qū)域包括在所述第2方向上位于所述第2電極與所述第5部分區(qū)域之間的第7部分區(qū)域以及在所述第2方向上位于所述第3電極與所述第6部分區(qū)域之間的第8部分區(qū)域。
根據(jù)本發(fā)明的其它實(shí)施方式,提供一種半導(dǎo)體裝置,具備:
第1電極;
第2電極;
第3電極,所述第3電極在第1方向上遠(yuǎn)離所述第2電極,所述第1電極的所述第1方向上的位置處于所述第2電極的所述第1方向上的位置與所述第3電極的所述第1方向上的位置之間;
第1半導(dǎo)體區(qū)域,包括Alx1Ga1-x1N(0<x1≤1),并且包括在與所述第1方向交叉的第2方向上遠(yuǎn)離所述第1電極的第1部分區(qū)域、在所述第2方向上遠(yuǎn)離所述第2電極的第2部分區(qū)域以及在所述第2方向上遠(yuǎn)離所述第3電極的第3部分區(qū)域;
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于株式會(huì)社東芝,未經(jīng)株式會(huì)社東芝許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買(mǎi)此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201810160330.5/2.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L29-00 專門(mén)適用于整流、放大、振蕩或切換,并具有至少一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或表面勢(shì)壘的半導(dǎo)體器件;具有至少一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或表面勢(shì)壘,例如PN結(jié)耗盡層或載流子集結(jié)層的電容器或電阻器;半導(dǎo)體本體或其電極的零部件
H01L29-02 .按其半導(dǎo)體本體的特征區(qū)分的
H01L29-40 .按其電極特征區(qū)分的
H01L29-66 .按半導(dǎo)體器件的類型區(qū)分的
H01L29-68 ..只能通過(guò)對(duì)一個(gè)不通有待整流、放大或切換的電流的電極供給電流或施加電位方可進(jìn)行控制的
H01L29-82 ..通過(guò)施加于器件的磁場(chǎng)變化可控的
- 氫燃料制造系統(tǒng)、氫燃料制造方法以及氫燃料制造程序
- 單元控制系統(tǒng)、生產(chǎn)系統(tǒng)以及控制方法
- 制造裝置及制造方法以及制造系統(tǒng)
- 一種三相異步電動(dòng)機(jī)制造工藝方法
- 制造設(shè)備、制造裝置和制造方法
- 用于監(jiān)測(cè)光學(xué)鏡片制造過(guò)程的方法
- 產(chǎn)品的制造系統(tǒng)、惡意軟件檢測(cè)系統(tǒng)、產(chǎn)品的制造方法以及惡意軟件檢測(cè)方法
- 一種面向制造服務(wù)的制造能力評(píng)估方法
- 一種基于云制造資源的制造能力建模方法
- 制造設(shè)備系統(tǒng)、制造設(shè)備以及制造方法





