[發(fā)明專利]一種激光誘導擊穿光譜檢測系統(tǒng)

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201810160043.4
• 申請日: 2018-02-26
• 公開（公告）號: CN110196245A
• 公開（公告）日: 2019-09-03
• 發(fā)明（設計）人: 王旭;楊燕婷;段憶翔
• 申請（專利權）人: 成都艾立本科技有限公司
• 主分類號: G01N21/71
• 分類號: G01N21/71;G01N21/01;G01N1/28;G01N1/44
• 代理公司: 成都高遠知識產(chǎn)權代理事務所(普通合伙) 51222
• 代理人: 謝一平;曾克

本發(fā)明公開一種激光誘導擊穿光譜檢測系統(tǒng)，包括：光路系統(tǒng)，樣品室，LED燈，三維位移樣品臺，自動控制系統(tǒng)；樣品室為一密閉的腔體，其頂壁上設有通孔；LED燈固定于樣品室的內(nèi)側壁上；三維位移樣品臺置于樣品室中；在三維位移樣品臺的置物臺的頂面設置一個以上盲孔；加熱裝置固定于盲孔底面；開口朝上的樣品池置于盲孔中，且樣品池采用導熱材料制作，置物臺采用絕熱材料制作；光路系統(tǒng)通過通孔作用于置物臺上；光路系統(tǒng)、LED燈、電動平移臺、電動升降機構、加熱裝置均與自動控制系統(tǒng)電性連接。本發(fā)明提供的技術方案，能夠使各種形態(tài)樣品的前處理更加便捷，從而提高檢測效率；同時，能夠降低環(huán)境對檢測結果的影響。

技術領域

本發(fā)明屬于激光光譜分析技術領域，尤其涉及一種激光誘導擊穿光譜檢測系統(tǒng)。

背景技術

激光誘導擊穿光譜(Laser-induced breakdown spectroscopy，LIBS)技術是一種原子發(fā)射光譜分析技術，它利用高能量的脈沖激光激發(fā)待測樣品產(chǎn)生等離子體，通過分析等離子體光譜信號實現(xiàn)樣品的元素分析。該技術測量速度快，測量范圍廣，能夠多元素同時分析，能夠完成復雜物質所含元素的定性與定量分析。由于具有上述優(yōu)點，該技術廣泛應用在冶金分析、環(huán)境監(jiān)測、地質勘探等諸多領域。

在上述諸多的應用領域中，往往需要檢測各種形態(tài)的樣品。例如，地質勘探領域包括有巖屑(粉末形態(tài))、泥漿(溶膠形態(tài))樣品，環(huán)境監(jiān)測領域包括有污染水質(液體形態(tài))樣品等。由于LIBS光譜技術在直接檢測上述形態(tài)的樣品時會使樣品濺射而影響檢測結果，因此，檢測之前需要將樣品進行固化處理。

在現(xiàn)有的LIBS檢測系統(tǒng)中，樣品前處理和樣品檢測的位置是分開的，即將樣品固化后，再置于樣品臺上進行檢測，這樣的方式使得在待測樣品數(shù)量、種類較多時，整體檢測效率不高，發(fā)揮不出LIBS技術測量速度快的優(yōu)點。同時，現(xiàn)有的LIBS檢測系統(tǒng)將檢測樣品、光譜采集裝置等直接暴露于空氣中，使得檢測結果受環(huán)境影響較大。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明旨在提供一種激光誘導擊穿光譜檢測系統(tǒng)，能夠使各種形態(tài)樣品的前處理更加便捷，從而提高檢測效率；同時，能夠降低環(huán)境對檢測結果的影響。

為達到上述目的，本發(fā)明采用的技術方案如下：

本發(fā)明公開的一種激光誘導擊穿光譜檢測系統(tǒng)，包括：光路系統(tǒng)，樣品室，LED燈，三維位移樣品臺，自動控制系統(tǒng)；所述樣品室為一密閉的腔體，樣品室的頂壁上設有通孔；所述LED燈固定于所述樣品室的內(nèi)側壁上；所述三維位移樣品臺置于所述樣品室中；所述三維位移樣品臺包括：電動平移臺，電動升降機構，置物臺，底座；在所述置物臺的頂面設置一個以上盲孔；還包括：樣品池和加熱裝置；所述加熱裝置固定于所述盲孔底面；所述樣品池與所述盲孔的形狀、大小相適配；所述樣品池置于所述盲孔中，樣品池開口朝上；所述樣品池采用導熱材料制作，所述置物臺采用絕熱材料制作；所述置物臺的底面固定于所述電動升降機構上，電動升降機構固定于所述電動平移臺上，電動平移臺可在所述底座上移動，底座置于所述樣品室的內(nèi)底面；所述光路系統(tǒng)通過所述通孔作用于所述置物臺上；所述光路系統(tǒng)、LED燈、電動平移臺、電動升降機構、加熱裝置均與所述自動控制系統(tǒng)電性連接。

優(yōu)選地，所述樣品池與所述盲孔可拆卸連接。

進一步地，還包括：保護氣傳輸管；所述保護氣傳輸管的輸出端穿過所述樣品室的頂壁，并延伸至所述樣品池的上方。