[發明專利]一種激光誘導擊穿光譜檢測系統

在審

• 申請號: 201810160043.4
• 申請日: 2018-02-26
• 公開（公告）號: CN110196245A
• 公開（公告）日: 2019-09-03
• 發明（設計）人: 王旭;楊燕婷;段憶翔
• 申請（專利權）人: 成都艾立本科技有限公司
• 主分類號: G01N21/71
• 分類號: G01N21/71;G01N21/01;G01N1/28;G01N1/44
• 代理公司: 成都高遠知識產權代理事務所(普通合伙) 51222
• 代理人: 謝一平;曾克

1.一種激光誘導擊穿光譜檢測系統，包括：光路系統，樣品室(1)，LED燈(2)，三維位移樣品臺，自動控制系統；所述樣品室(1)為一密閉的腔體，樣品室(1)的頂壁上設有通孔；所述LED燈(2)固定于所述樣品室(1)的內側壁上；所述三維位移樣品臺置于所述樣品室(1)中；所述三維位移樣品臺包括：電動平移臺(3)，電動升降機構(4)，置物臺(5)，底座(21)；在所述置物臺(5)的頂面設置一個以上盲孔(6)；還包括：樣品池(7)和加熱裝置(8)；所述加熱裝置(8)固定于所述盲孔(6)底面；所述樣品池(7)與所述盲孔(6)的形狀、大小相適配；所述樣品池(7)置于所述盲孔(6)中，樣品池(7)開口朝上；所述樣品池(7)采用導熱材料制作，所述置物臺(5)采用絕熱材料制作；所述置物臺(5)的底面固定于所述電動升降機構(4)上，電動升降機構(4)固定于所述電動平移臺(3)上，電動平移臺(3)可在所述底座(21)上移動，底座(21)置于所述樣品室(1)的內底面；所述光路系統通過所述通孔作用于所述置物臺(5)上；所述光路系統、LED燈(2)、電動平移臺(3)、電動升降機構(4)、加熱裝置(8)均與所述自動控制系統電性連接。

2.根據權利要求1所述的激光誘導擊穿光譜檢測系統，其特征在于，所述樣品池(7)與所述盲孔(6)可拆卸連接。

3.根據權利要求2所述的激光誘導擊穿光譜檢測系統，其特征在于，還包括：保護氣傳輸管(9)；所述保護氣傳輸管(9)的輸出端穿過所述樣品室(1)的頂壁，并延伸至所述樣品池(7)的上方。

4.根據權利要求1或2或3所述的激光誘導擊穿光譜檢測系統，其特征在于，所述光路系統包括：攝像頭(10)，成像透鏡組(11)，脈沖激光器(12)，整形小孔(13)，二向色鏡(14)，第一聚焦透鏡(15)，第二聚焦透鏡(16)，耦合透鏡(17)，光纖(18)，光譜儀(19)；所述第二聚焦透鏡(16)固定于所述通孔中；所述攝像頭(10)位于所述第二聚焦透鏡(16)的正上方；所述第二聚焦透鏡(16)與所述攝像頭(10)之間從下往上依次設置第一聚焦透鏡(15)、二向色鏡(14)、成像透鏡組(11)；所述二向色鏡(14)與水平面的夾角為45°；所述脈沖激光器(12)產生的脈沖激光位于所述二向色鏡(14)的入射光路上；所述整形小孔(13)位于所述脈沖激光器(12)與所述二向色鏡(14)之間的光路上；所述耦合透鏡(17)位于所述樣品池(7)的側上方；所述光譜儀(19)位于所述樣品室(1)的外部；所述光纖(18)的一端連接所述耦合透鏡(17)，光纖(18)的另一端穿過所述樣品室(1)的側壁連接所述光譜儀(19)；所述光譜儀(19)、脈沖激光器(12)、攝像頭(10)均連接所述自動控制系統。

5.根據權利要求4所述的激光誘導擊穿光譜檢測系統，其特征在于，還包括：樣品蓋(20)，所述樣品蓋(20)為平面結構；所述樣品蓋(20)與所述樣品池(7)相適配。

6.根據權利要求4所述的激光誘導擊穿光譜檢測系統，其特征在于，所述LED燈(2)高于所述置物臺(5)。

7.根據權利要求4所述的激光誘導擊穿光譜檢測系統，其特征在于，所述盲孔(6)的數量為35個，以7行5列的矩陣形式分布。

8.根據權利要求1所述的激光誘導擊穿光譜檢測系統，其特征在于，所述樣品室(1)為長方體形。

9.根據權利要求8所述的激光誘導擊穿光譜檢測系統，其特征在于，所述樣品室(1)的側壁上還設有樣品室門。

10.根據權利要求1所述的激光誘導擊穿光譜檢測系統，其特征在于，所述電動升降機構(4)為剪叉式升降機構。