[發明專利]一種對比試塊

在審

• 申請號: 201810160031.1
• 申請日: 2018-02-26
• 公開（公告）號: CN110196286A
• 公開（公告）日: 2019-09-03
• 發明（設計）人: 漆松林;王旭;陳永楨;王文娟;郭青;陶楚雍
• 申請（專利權）人: 漆松林
• 主分類號: G01N29/30
• 分類號: G01N29/30
• 代理公司: 四川力久律師事務所 51221
• 代理人: 熊曉果;劉童笛

本發明涉及質量檢測領域，具體涉及一種對比試塊。這種對比試塊包括未修補區、鋪層區和膠膜，鋪層區包括嵌設于未修補區中的至少一個鋪層，膠膜設于鋪層區與未修補區之間；對比試塊中設有人工缺陷。通過本發明提供的對比試塊，在每一次進行待檢測區的檢測前，均通過對比試塊進行靈敏度的調整，并以對比試塊上的人工缺陷的回波為基準進行比較從而能夠消除人為因素的不利影響，得到較為準確的檢測結果。

技術領域

本發明涉及檢測領域，特別是一種對比試塊。

背景技術

在役飛機受到的損傷一般是在機體外側，修理時通常也不會將受損組件拆下，而是在現場對損傷區域進行修理。通常采用的修理方法為階梯式挖補修理技術，即：挖除損傷區域，且使表層的挖除面積大，深層的挖除面積逐漸減小，然后在挖除區域的內表面設置膠膜，然后在挖除區域中填充復合材料，使復合材料固化成型。

對于在役飛機的修理，由于受到實施條件的限制和修理區位置的影響，通常采用加熱毯進行復合材料的固化。此類方式固化的修理區容易存在表面光潔度差、內部質地不均勻且存在彌散性氣孔等特點，因此需要對損傷修補質量進行檢測。待檢測區域包括未修補區、鋪層區和膠膜，所述鋪層區包括嵌設于未修補區中的至少一個復合材料預浸料鋪層，膠膜設于鋪層區與未修補區之間。

現有技術中采用手動接觸式脈沖反射法A掃描檢測，以檢測待檢測區域的缺陷。但通過該方法對修理區進行檢測時，受人為因素影響較大，容易導致檢測結果不準確。

發明內容

本發明的發明目的在于：針對現有技術存在的問題，提供一種對比試塊，用于減小人為因素對損傷修補質量評價準確性的影響。

為了實現上述目的，本發明采用的技術方案為：

一種對比試塊，用于模擬損傷修補后的待檢測區域，包括未修補區、鋪層區和膠膜，鋪層區包括嵌設于未修補區中的至少一個鋪層，膠膜設于鋪層區與未修補區之間；

對比試塊中設有人工缺陷。

通過本發明提供的對比試塊，在每一次進行待檢測區的檢測前，均通過對比試塊進行靈敏度的調整，并以對比試塊上的人工缺陷的回波為基準進行比較從而能夠消除人為因素的不利影響，得到較為準確的檢測結果。

具體的，在對待檢測區進行檢測前，先進行第一次檢測，即在對比試塊進行人工缺陷的檢測，根據波形調節檢測靈敏度，并記錄缺陷回波出現的時間。然后進行第二次檢測，即在該靈敏度下對待檢測去區進行檢測。對比兩次檢測得到測波形，如果在相同的時間出現缺陷回波，則證明待檢測區的修補質量具有缺陷，且缺陷深度與第一次檢測中的人工缺陷深度相同。

作為本發明的優選方案，鋪層區中包括至少兩個鋪層，鋪層呈階梯狀分布；對比試塊上設有至少兩個人工缺陷，其中一個設于一個鋪層，另一個設于另一個鋪層。

缺陷的深度不同，將會使缺陷的出現時間和波幅有所不同。因此，鋪層區中具有至少兩個鋪層，待檢測區中的缺陷有可能位于鋪層區中的任何深度。而對于不同深度的缺陷，其缺陷回波出現的時間均有差異。為了測得缺陷深度，在對比試塊上設置至少兩個人工缺陷，人工缺陷位于不同的鋪層上，經過這種設計，無論待檢測區中缺陷的深度如何，在對比試塊上，均能夠找到人工缺陷與之對應。

具體的，對比試塊中人工缺陷的數量根據鋪層區中的鋪層量決定，即：在鋪層區的每一個鋪層上，均設置有至少一個人工缺陷。在檢測時，先在對比試塊上針對一個人工缺陷進行檢測，并調試檢測靈敏度，然后在與該人工缺陷對應的檢測域上進行檢測，以抵消缺陷深度不同對檢測結果靈敏度的不利影響。

作為本發明的優選方案，未修補區中設有人工缺陷，未修補區中的人工缺陷與膠膜相鄰。