[發(fā)明專(zhuān)利]便攜式自動(dòng)過(guò)分相控制系統(tǒng)主機(jī)性能測(cè)試方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201810156704.6 | 申請(qǐng)日: | 2018-02-24 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN108375970B | 公開(kāi)(公告)日: | 2020-09-01 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 范俊成;陳俊生;王國(guó)鋒;李堃;王進(jìn)忠;劉斌;郭寶元;劉軍;王建柱;邱繼剛;朱振宇;楊浩;李源;遲磊 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 沈陽(yáng)鐵路信號(hào)有限責(zé)任公司;通號(hào)(西安)軌道交通工業(yè)集團(tuán)有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | G05B23/02 | 分類(lèi)號(hào): | G05B23/02 |
| 代理公司: | 沈陽(yáng)科威專(zhuān)利代理有限責(zé)任公司 21101 | 代理人: | 王勇 |
| 地址: | 110025 遼*** | 國(guó)省代碼: | 遼寧;21 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 便攜式 自動(dòng) 過(guò)分 控制系統(tǒng) 主機(jī) 性能 測(cè)試 方法 | ||
1.便攜式自動(dòng)過(guò)分相控制系統(tǒng)主機(jī)性能測(cè)試方法,其特征在于:利用測(cè)試儀進(jìn)行測(cè)試,所述測(cè)試儀包括主控單元,主控單元通過(guò)一路I/O控制電路與第二場(chǎng)效應(yīng)管相連接利用場(chǎng)效應(yīng)管做“開(kāi)關(guān)”控制自動(dòng)過(guò)分相主機(jī)的“上電”與“斷電”;主控單元通過(guò)一路I/O控制電路與第三場(chǎng)效應(yīng)管相連接利用場(chǎng)效應(yīng)管做“開(kāi)關(guān)”控制自動(dòng)過(guò)分相主機(jī)的“I端接入”;主控單元通過(guò)一路I/O控制電路與第四場(chǎng)效應(yīng)管相連接利用場(chǎng)效應(yīng)管做“開(kāi)關(guān)”控制自動(dòng)過(guò)分相主機(jī)的“II端接入”;主控單元通過(guò)一路I/O控制電路與第一場(chǎng)效應(yīng)管相連接,同時(shí)主控單元通過(guò)SPI總線控制可控精密電阻,結(jié)合DC24V產(chǎn)生車(chē)感器脈沖輸入;輸入信號(hào)通過(guò)主控單元I/O控制電路控制的第一電子繼電器、第二電子繼電器、第三電子繼電器、第四電子繼電器分別接入到T1車(chē)感器、T2車(chē)感器、T3車(chē)感器、T4車(chē)感器使自動(dòng)過(guò)分相主機(jī)被觸發(fā);自動(dòng)過(guò)分相主機(jī)觸發(fā)后輸出的“預(yù)告/恢復(fù)”信號(hào)和“強(qiáng)迫”信號(hào)通過(guò)第五電子繼電器、第六電子繼電器、第一光電耦合電路、第二光電耦合電路輸入到主控單元實(shí)現(xiàn)自動(dòng)過(guò)分相主機(jī)靈敏度的測(cè)量;主控單元通過(guò)4路I/O控制電路與第一晶體三極管、第二晶體三極管、第三晶體三極管、第四晶體三極管相連接,利用晶體三極管的“開(kāi)關(guān)”特性將固定脈沖寬度的DC5V輸入車(chē)感器T1、車(chē)感器T2、車(chē)感器T3、車(chē)感器T4觸發(fā)自動(dòng)過(guò)分相主機(jī)“預(yù)告/恢復(fù)”信號(hào)、“強(qiáng)迫”信號(hào)輸出;主控單元通過(guò)I/O控制電路控制第九電子繼電器和第十電子繼電器使輸出信號(hào)通過(guò)第三光電耦合電路、第四光電耦合電路連接到主控單元以此測(cè)量自動(dòng)過(guò)分相主機(jī)的脈沖寬度和響應(yīng)時(shí)間;主控單元通過(guò)I/O控制電路控制第七電子繼電器、第八電子繼電器使輸出信號(hào)通過(guò)第一精密電阻分壓電路、第二精密電阻分壓電路、第一隔離運(yùn)放以及第二隔離運(yùn)放進(jìn)入主控單元的內(nèi)部A/D測(cè)量出自動(dòng)過(guò)分相主機(jī)的輸出幅值,同時(shí)通過(guò)第一驅(qū)動(dòng)能力取樣電阻、第二通過(guò)驅(qū)動(dòng)能力取樣電阻結(jié)合I2C總線的外部A/D芯片進(jìn)入主控單元測(cè)量出自動(dòng)過(guò)分相主機(jī)的輸出驅(qū)動(dòng)能力;
所述性能測(cè)試方法包括如下步驟:
S1,主控單元控制第二場(chǎng)效應(yīng)管處于“關(guān)”狀態(tài)使主機(jī)“上電”;
S2,主控單元控制第三場(chǎng)效應(yīng)管處于“關(guān)”狀態(tài)使主機(jī)處于“I端向前”狀態(tài);
S3,驅(qū)動(dòng)第一電子繼電器使第一電子繼電器的1腳、3腳接通,驅(qū)動(dòng)第五電子繼電器、第六電子繼電器使第五電子繼電器、第六電子繼電器的1腳、3腳接通;
S4.1,主控單元通過(guò)SPI控制可控精密電阻使初始車(chē)感器脈沖輸入電壓幅值為1.5V;
S4.2,主控單元控制第一場(chǎng)效應(yīng)管處于“關(guān)”狀態(tài);
S4.3,主控單元通過(guò)SPI控制可控精密電阻使車(chē)感器脈沖輸入電壓幅值以0.1V不斷步進(jìn);
S4.4,判斷輸入脈沖電壓幅值是否達(dá)到可以觸發(fā)自動(dòng)過(guò)分相主機(jī)輸出的幅值,若未達(dá)到,則重復(fù)S4.3,若達(dá)到,進(jìn)行S5;
S5,自動(dòng)過(guò)分相主機(jī)“強(qiáng)迫”信號(hào)輸出使第二光電耦合電路導(dǎo)通并輸出高電平給主控單元,記錄可觸發(fā)自動(dòng)過(guò)分相主機(jī)“強(qiáng)迫”信號(hào)輸出時(shí)的脈沖電壓幅值于主控單元的SRAM中;
S6,按S4.1-S4.4步驟運(yùn)行;若達(dá)到,進(jìn)行下一步;
S7,自動(dòng)過(guò)分相主機(jī)“恢復(fù)”信號(hào)輸出使第一光電耦合電路導(dǎo)通并輸出高電平給主控單元記錄可觸發(fā)自動(dòng)過(guò)分相主機(jī)“恢復(fù)”信號(hào)輸出時(shí)的脈沖電壓幅值于主控單元的SRAM中;
S8,主控單元控制第一場(chǎng)效應(yīng)管處于“開(kāi)”狀態(tài)以此控制脈沖無(wú)法輸入T1車(chē)感器輸入口,驅(qū)動(dòng)第一電子繼電器、第五電子繼電器、第六電子繼電器的1、2接通回到初始位;主控單元控制第二場(chǎng)效應(yīng)管使主機(jī)“斷電”然后“上電”,驅(qū)動(dòng)第九電子繼電器、第十電子繼電器使第九電子繼電器、第十電子繼電器的1、3接通主控單元控制第一晶體三極管“關(guān)”使DC5V接入T1車(chē)感器輸入口,觸發(fā)主機(jī)“強(qiáng)迫”信號(hào)輸出使第四光電耦合電路輸出以此測(cè)量出輸出主機(jī)響應(yīng)時(shí)間并存入SRAM中;
S9,主控單元控制第一晶體三極管“開(kāi)”,通過(guò)第四光電耦合電路輸出測(cè)量出輸出脈沖寬度并存入SRAM中;
S10,主控單元控制第一晶體三極管“關(guān)”, 觸發(fā)第三光電耦合電路輸出以此測(cè)量出輸出主機(jī)響應(yīng)時(shí)間并存入SRAM中;
S11,主控單元控制第一晶體三極管“開(kāi)”通過(guò)第三光電耦合電路輸出測(cè)量出輸出脈沖寬度并存入SRAM中;
S12,驅(qū)動(dòng)第九電子繼電器、第十電子繼電器使第九電子繼電器、第十電子繼電器的1、2接通回到初始位;
S13,主控單元控制第二場(chǎng)效應(yīng)管使主機(jī)“斷電”然后“上電”, 驅(qū)動(dòng)第七電子繼電器、第八電子繼電器使第七電子繼電器、第八電子繼電器的1、3接通, 主控單元控制第一晶體三極管“關(guān)”, 觸發(fā)“強(qiáng)迫”信號(hào)輸出并通過(guò)第二精密電阻分壓電路將輸出的“強(qiáng)迫”信號(hào)分壓成主控單元上A/D所能承受的電壓值并通過(guò)第二隔離運(yùn)放輸入到主控單元上的A/D;主控單元將A/D轉(zhuǎn)換后的數(shù)值按第二精密分壓電路的分壓方式反算回輸出的實(shí)際值,存于SRAM中;
S14,將第二驅(qū)動(dòng)能力取樣電阻兩端的電壓通過(guò)I2C的A/D轉(zhuǎn)換后的數(shù)值傳送給主控單元,主控單元將該數(shù)值除以第二驅(qū)動(dòng)能力取樣電阻的阻值得到輸出的電流值既輸出驅(qū)動(dòng)能力,存于SRAM中;
S15, 主控單元控制第一晶體三極管“開(kāi)”然后“關(guān)”,觸發(fā)“恢復(fù)”信號(hào)輸出并通過(guò)第一精密電阻分壓電路、第一驅(qū)動(dòng)能力取樣電阻、第一隔離運(yùn)放按S13到S14的方法求出驅(qū)動(dòng)能力和輸出幅值,存于SRAM中;
S16, 主控單元控制第一晶體三極管“開(kāi)”驅(qū)動(dòng)第七電子繼電器、第八電子繼電器使第七電子繼電器、第八電子繼電器的1、2接通回到初始位;
S17,將存儲(chǔ)于SRAM中的所有數(shù)據(jù)搬移到CF卡中做掉電不消失的存儲(chǔ);
S18, 主控單元控制第二場(chǎng)效應(yīng)管使主機(jī)“斷電”等待主機(jī)再次“上電”進(jìn)行其他車(chē)感器輸入口輸入相應(yīng)脈沖進(jìn)行性能測(cè)試;
S19, 結(jié)束。
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