[發(fā)明專利]采樣時刻失配校準(zhǔn)裝置、方法及時間交織模數(shù)轉(zhuǎn)換器有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201810145403.3 | 申請日： | 2018-02-12 |
| 公開（公告）號： | CN108282163B | 公開（公告）日： | 2021-03-05 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 富浩宇;張輝;李丹;王海軍;陳正;李琪林;高遠(yuǎn) | 申請（專利權(quán)）人： | 上海貝嶺股份有限公司 |
| 主分類號： | H03M1/10 | 分類號： | H03M1/10;H03M1/12 |
| 代理公司： | 上海弼興律師事務(wù)所 31283 | 代理人： | 薛琦;羅朗 |
| 地址： | 200233 *** | 國省代碼： | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 采樣 時刻 失配 校準(zhǔn) 裝置 方法 時間 交織 轉(zhuǎn)換器 | ||
1.一種采樣時刻失配校準(zhǔn)裝置，包括參考通道、若干采樣子通道和校準(zhǔn)調(diào)節(jié)模塊，所述參考通道、所述采樣子通道均與所述校準(zhǔn)調(diào)節(jié)模塊電連接，其特征在于，所述采樣時刻失配校準(zhǔn)裝置還包括偽隨機(jī)電平發(fā)生器；
所述偽隨機(jī)電平發(fā)生器分別與所述參考通道和所述采樣子通道電連接；
所述偽隨機(jī)電平發(fā)生器用于生成每個參考時鐘對應(yīng)的偽隨機(jī)電平；
所述參考通道用于在所述參考時鐘的控制下對接收到的模擬信號和所述偽隨機(jī)電平進(jìn)行采樣，并對在所述參考時鐘的控制下的采樣結(jié)果比較后向所述校準(zhǔn)調(diào)節(jié)模塊輸出第一極性信號；
所述采樣子通道用于在子采樣時鐘的控制下對接收到的所述模擬信號和所述偽隨機(jī)電平進(jìn)行采樣，并對在所述子采樣時鐘的控制下的采樣結(jié)果比較后向所述校準(zhǔn)調(diào)節(jié)模塊輸出第二極性信號；
所述校準(zhǔn)調(diào)節(jié)模塊用于根據(jù)所述第一極性信號和所述第二極性信號統(tǒng)計一時間段內(nèi)所述采樣子通道與所述參考通道之間的過零點數(shù)量，并根據(jù)統(tǒng)計結(jié)果調(diào)節(jié)所述子采樣時鐘相對所述參考時鐘的延時量以使所述采樣子通道與所述參考通道之間的過零點數(shù)量收斂到零；
采樣子通道的采樣點相對于偽隨機(jī)電平的比較結(jié)果不同于參考通道的采樣點相對于偽隨機(jī)電平的比較結(jié)果時，所述采樣子通道與所述參考通道之間存在過零點。
2.如權(quán)利要求1所述的采樣時刻失配校準(zhǔn)裝置，其特征在于，所述參考通道包括第一比較器，所述第一比較器的正輸入端接收所述模擬信號，所述第一比較器的負(fù)輸入端接收所述偽隨機(jī)電平，所述第一比較器的輸出端與所述校準(zhǔn)調(diào)節(jié)模塊電連接；
所述第一比較器在所述參考時鐘的控制下輸出所述第一極性信號。
3.如權(quán)利要求1所述的采樣時刻失配校準(zhǔn)裝置，其特征在于，所述采樣子通道還包括第二比較器，所述第二比較器的正輸入端接收所述模擬信號，所述第二比較器的負(fù)輸入端接收所述偽隨機(jī)電平，所述第二比較器的輸出端與所述校準(zhǔn)調(diào)節(jié)模塊電連接；
所述第二比較器在所述子采樣時鐘的控制下輸出所述第二極性信號。
4.如權(quán)利要求1所述的采樣時刻失配校準(zhǔn)裝置，其特征在于，所述偽隨機(jī)電平的幅度落在所述采樣子通道的滿幅輸入范圍內(nèi)。
5.如權(quán)利要求1所述的采樣時刻失配校準(zhǔn)裝置，其特征在于，所述偽隨機(jī)電平的概率密度函數(shù)包括均勻分布或高斯分布。
6.一種采樣時刻失配校準(zhǔn)方法，其特征在于，包括：
偽隨機(jī)電平發(fā)生器生成每個參考時鐘對應(yīng)的偽隨機(jī)電平；
參考通道在所述參考時鐘的控制下對接收到的模擬信號和所述偽隨機(jī)電平分別進(jìn)行采樣，并對采樣結(jié)果比較后輸出第一極性信號；
采樣子通道在子采樣時鐘的控制下對接收到的所述模擬信號和所述偽隨機(jī)電平分別進(jìn)行采樣，并對采樣結(jié)果比較后輸出第二極性信號；
校準(zhǔn)調(diào)節(jié)模塊根據(jù)所述第一極性信號和所述第二極性信號統(tǒng)計一時間段內(nèi)所述采樣子通道與所述參考通道之間的過零點數(shù)量，并根據(jù)統(tǒng)計結(jié)果調(diào)節(jié)所述子采樣時鐘相對所述參考時鐘的延時量以使所述采樣子通道與所述參考通道之間的過零點數(shù)量收斂到零；
采樣子通道的采樣點相對于偽隨機(jī)電平的比較結(jié)果不同于參考通道的采樣點相對于偽隨機(jī)電平的比較結(jié)果時，所述采樣子通道與所述參考通道之間存在過零點。
7.如權(quán)利要求6所述的采樣時刻失配校準(zhǔn)方法，其特征在于，所述參考通道包括第一比較器，所述第一比較器的正輸入端接收所述模擬信號，所述第一比較器的負(fù)輸入端接收所述偽隨機(jī)電平，所述第一比較器的輸出端與所述校準(zhǔn)調(diào)節(jié)模塊電連接；
所述第一比較器在所述參考時鐘的控制下輸出所述第一極性信號。
8.如權(quán)利要求6所述的采樣時刻失配校準(zhǔn)方法，其特征在于，所述采樣子通道還包括第二比較器，所述第二比較器的正輸入端接收所述模擬信號，所述第二比較器的負(fù)輸入端接收所述偽隨機(jī)電平，所述第二比較器的輸出端與所述校準(zhǔn)調(diào)節(jié)模塊電連接；
所述第二比較器在所述子采樣時鐘的控制下輸出所述第二極性信號。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息，商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于上海貝嶺股份有限公司，未經(jīng)上海貝嶺股份有限公司許可，擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作，請聯(lián)系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/201810145403.3/1.html，轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 低中頻接收機(jī)的I/Q失配補(bǔ)償電路
- 一種帶有阻抗失配網(wǎng)絡(luò)的EMI濾波器網(wǎng)絡(luò)
- 基于p范數(shù)的相位編碼信號和失配濾波器的聯(lián)合優(yōu)化方法
- 一種具備數(shù)字失配校正能力的逐次逼近型模數(shù)轉(zhuǎn)換器
- 一種具有溫度效應(yīng)模型的失配模型之建模方法
- 一種MOS晶體管的器件失配模型的修正方法及系統(tǒng)
- 一種通用交替采樣ADC系統(tǒng)
- 一種基于兩次相位補(bǔ)償?shù)姆€(wěn)健自適應(yīng)脈沖壓縮方法
- 電阻失配模型及提取方法
- 使用與失配計數(shù)相比較的可變基準(zhǔn)的同步檢測電路和方法
