[發明專利]采樣時刻失配校準裝置、方法及時間交織模數轉換器

有效

• 申請號: 201810145403.3
• 申請日: 2018-02-12
• 公開（公告）號: CN108282163B
• 公開（公告）日: 2021-03-05
• 發明（設計）人: 富浩宇;張輝;李丹;王海軍;陳正;李琪林;高遠
• 申請（專利權）人: 上海貝嶺股份有限公司
• 主分類號: H03M1/10
• 分類號: H03M1/10;H03M1/12
• 代理公司: 上海弼興律師事務所 31283
• 代理人: 薛琦;羅朗

1.一種采樣時刻失配校準裝置，包括參考通道、若干采樣子通道和校準調節模塊，所述參考通道、所述采樣子通道均與所述校準調節模塊電連接，其特征在于，所述采樣時刻失配校準裝置還包括偽隨機電平發生器；

所述偽隨機電平發生器分別與所述參考通道和所述采樣子通道電連接；

所述偽隨機電平發生器用于生成每個參考時鐘對應的偽隨機電平；

所述參考通道用于在所述參考時鐘的控制下對接收到的模擬信號和所述偽隨機電平進行采樣，并對在所述參考時鐘的控制下的采樣結果比較后向所述校準調節模塊輸出第一極性信號；

所述采樣子通道用于在子采樣時鐘的控制下對接收到的所述模擬信號和所述偽隨機電平進行采樣，并對在所述子采樣時鐘的控制下的采樣結果比較后向所述校準調節模塊輸出第二極性信號；

所述校準調節模塊用于根據所述第一極性信號和所述第二極性信號統計一時間段內所述采樣子通道與所述參考通道之間的過零點數量，并根據統計結果調節所述子采樣時鐘相對所述參考時鐘的延時量以使所述采樣子通道與所述參考通道之間的過零點數量收斂到零；

采樣子通道的采樣點相對于偽隨機電平的比較結果不同于參考通道的采樣點相對于偽隨機電平的比較結果時，所述采樣子通道與所述參考通道之間存在過零點。

2.如權利要求1所述的采樣時刻失配校準裝置，其特征在于，所述參考通道包括第一比較器，所述第一比較器的正輸入端接收所述模擬信號，所述第一比較器的負輸入端接收所述偽隨機電平，所述第一比較器的輸出端與所述校準調節模塊電連接；

所述第一比較器在所述參考時鐘的控制下輸出所述第一極性信號。

3.如權利要求1所述的采樣時刻失配校準裝置，其特征在于，所述采樣子通道還包括第二比較器，所述第二比較器的正輸入端接收所述模擬信號，所述第二比較器的負輸入端接收所述偽隨機電平，所述第二比較器的輸出端與所述校準調節模塊電連接；

所述第二比較器在所述子采樣時鐘的控制下輸出所述第二極性信號。

4.如權利要求1所述的采樣時刻失配校準裝置，其特征在于，所述偽隨機電平的幅度落在所述采樣子通道的滿幅輸入范圍內。

5.如權利要求1所述的采樣時刻失配校準裝置，其特征在于，所述偽隨機電平的概率密度函數包括均勻分布或高斯分布。

6.一種采樣時刻失配校準方法，其特征在于，包括：

偽隨機電平發生器生成每個參考時鐘對應的偽隨機電平；

參考通道在所述參考時鐘的控制下對接收到的模擬信號和所述偽隨機電平分別進行采樣，并對采樣結果比較后輸出第一極性信號；

采樣子通道在子采樣時鐘的控制下對接收到的所述模擬信號和所述偽隨機電平分別進行采樣，并對采樣結果比較后輸出第二極性信號；

校準調節模塊根據所述第一極性信號和所述第二極性信號統計一時間段內所述采樣子通道與所述參考通道之間的過零點數量，并根據統計結果調節所述子采樣時鐘相對所述參考時鐘的延時量以使所述采樣子通道與所述參考通道之間的過零點數量收斂到零；

采樣子通道的采樣點相對于偽隨機電平的比較結果不同于參考通道的采樣點相對于偽隨機電平的比較結果時，所述采樣子通道與所述參考通道之間存在過零點。

7.如權利要求6所述的采樣時刻失配校準方法，其特征在于，所述參考通道包括第一比較器，所述第一比較器的正輸入端接收所述模擬信號，所述第一比較器的負輸入端接收所述偽隨機電平，所述第一比較器的輸出端與所述校準調節模塊電連接；

所述第一比較器在所述參考時鐘的控制下輸出所述第一極性信號。

8.如權利要求6所述的采樣時刻失配校準方法，其特征在于，所述采樣子通道還包括第二比較器，所述第二比較器的正輸入端接收所述模擬信號，所述第二比較器的負輸入端接收所述偽隨機電平，所述第二比較器的輸出端與所述校準調節模塊電連接；

所述第二比較器在所述子采樣時鐘的控制下輸出所述第二極性信號。