[發明專利]一種測試放射性核素的方法

有效

• 申請號: 201810135408.8
• 申請日: 2018-02-09
• 公開（公告）號: CN108490479B
• 公開（公告）日: 2020-03-27
• 發明（設計）人: 張嵐;顧鐵;劉柱;王偉
• 申請（專利權）人: 張嵐
• 主分類號: G01T1/36
• 分類號: G01T1/36;G01T7/00
• 代理公司: 上海光華專利事務所(普通合伙) 31219
• 代理人: 余明偉

本發明提供一種測試放射性核素的方法，從待測試環境中測得的能譜中去除由于待測試環境中分布的材料物質與待測放射性核素的放射射線發生反應產生的特征射線峰以及散射線，對測得的放射性核素的能譜進行校正，從而獲得較為準確的放射性核素能譜，提高對待測試環境中放射性核素的能量、種類及劑量的判斷。

技術領域

本發明屬于放射性核素的測試領域，涉及一種測試放射性核素的方法。

背景技術

隨著國家經濟的發展，生活質量不斷提高，對生活安全的要求迅速的提高。其中放射性核素的管理與控制，在安全生活指標中占有很大的成分。放射性核素搜尋和探測識別技術，被廣泛應用于環境監測、核電站運營全流程監管、核設施的監測，核事故應急測試、核反恐中放射性核素物質走私及臟彈襲擊的安保安防等領域。

傳統的放射性核素測試裝置包括基于碘化鈉(NaI)、碘化銫(CsI)及高純鍺(Ge)制備的伽馬譜儀，其中NaI和CsI伽馬譜儀更多應用于便攜式裝置，方便現場的實時監測；Ge伽馬譜儀主要應用于實驗室的樣品測量分析；NaI和CsI伽馬譜儀的能量分辨率低，對核素的識別能力有一定的局限性，其662keV的分辨率通常為8％左右；Ge伽馬譜儀的能量分辨率是伽馬譜儀中最優的，對662keV的分辨率能達到0.002％，但由于Ge伽馬譜儀需液氮制冷裝置，而對液氮制冷裝置及其維護限制了Ge伽馬譜儀的應用，使其更多的應用在實驗室內。

近二三十年內，各項研究和技術日益成熟的碲鋅鎘(CdZnTe，CZT)半導體探測器，作為室溫伽馬和X射線探測器，成為NaI、CsI及高純鍺Ge的替代產品，正式走向市場，廣泛應用于各個領域。由于CZT擁有高探測效率、高能量分辨率、不需液氮制冷在室溫下的可操作性的優點，使其在很多現場實時監測中，優勢顯著。其能量分辨率介于NaI、CsI與高純鍺Ge伽馬譜儀之間，CZT半導體探測器在提供核素能量、種類、劑量的同時，更優異的性能是給出放射性核素的方向和位置。

當伽馬譜儀的檢測是在開闊的外部環境中時，待測試環境中的待測放射性核素的放射射線與待測試環境中分布的材料物質發生反應產生散射線及特征射線對檢測結果的影響不明顯，可忽略。但如果待測試環境較小，待測放射性核素發出的放射射線有一部分會先照射在待測試環境中的材料物質上，然后產生散射線，散射線進入測試系統，這些散射線產生的散射譜會疊加在測試系統測得的待測放射性核素的能譜上，對測試結果和分析造成干擾和誤判；而且如果待測放射性核素發出的放射射線與待測試環境中的材料物質發生反應，產生了特征射線，同樣會有特征射線峰疊加在測得的放射性核素的能譜上，對測試系統的測試結果和分析造成干擾和誤判。

基于以上所述，提出了一種測試放射性核素的方法，在待測試環境中測得的能譜中去除由于待測試環境中分布的材料物質與待測放射性核素的放射射線產生的散射線以及特征射線峰，對測得的待測放射性核素的能譜進行校正，從而獲得較為準確的待測放射性核素的能譜，提高對待測試環境中的待測放射性核素的能量、種類及劑量的判斷。

發明內容

鑒于以上所述現有技術的缺點，本發明的目的在于提供一種測試放射性核素的方法，用于解決現有技術中在待測試環境中由于待測試環境中分布的材料物質與待測放射性核素的放射射線產生的散射線以及特征射線峰，對測得的待測放射性核素的能譜產生影響，對測試得的能譜造成干擾，不能得到較為準確的有關待測放射性核素的能譜，從而對待測試環境中的待測放射性核素的判斷產生誤判的問題。

為實現上述目的及其他相關目的，本發明提供一種測試放射性核素的方法，包括以下步驟：

S1：獲取待測試環境中分布的材料物質，所述材料物質具有特征效應，所述特征效應包含對待測放射性核素的放射射線產生的散射線；

S2：計算所述待測試環境中分布的所述材料物質與所述待測放射性核素的放射射線產生的所述特征效應的第一能譜；

S3：測試所述待測試環境在所述待測放射性核素下得到的第二能譜；