[發明專利]一種測試放射性核素的方法

有效

• 申請號: 201810135408.8
• 申請日: 2018-02-09
• 公開（公告）號: CN108490479B
• 公開（公告）日: 2020-03-27
• 發明（設計）人: 張嵐;顧鐵;劉柱;王偉
• 申請（專利權）人: 張嵐
• 主分類號: G01T1/36
• 分類號: G01T1/36;G01T7/00
• 代理公司: 上海光華專利事務所(普通合伙) 31219
• 代理人: 余明偉

1.一種測試放射性核素的方法，其特征在于，包括以下步驟：

S1：獲取待測試環境中分布的材料物質，包括所述材料物質的種類、尺寸及空間位置，所述材料物質具有特征效應，所述特征效應包含對待測放射性核素的放射射線產生的散射線；

S2：建立材料影響庫，所述材料影響庫包含特定放射性核素的放射射線與特定材料物質產生的散射譜，結合所述材料影響庫及獲取的所述待測試環境中分布的所述材料物質的種類、尺寸及空間位置，計算所述待測試環境中分布的所述材料物質與所述待測放射性核素的放射射線產生的所述特征效應的第一能譜；

S3：測試所述待測試環境在所述待測放射性核素下得到的第二能譜；

S4：在所述第二能譜的基礎上去除疊加的所述第一能譜，以去除所述待測試環境中分布的所述材料物質所引起的能譜誤差，獲得所述待測試環境中所述待測放射性核素的實際能譜。

2.根據權利要求1所述的測試放射性核素的方法，其特征在于：所述第一能譜包含所述待測試環境中分布的所述材料物質與所述待測放射性核素的放射射線產生的散射譜，步驟S4包括在所述第二能譜的基礎上，去除所述散射線對應的所述散射譜，以獲得所述待測放射性核素的實際能譜。

3.根據權利要求1所述的測試放射性核素的方法，其特征在于：所述特征效應還包括所述材料物質與待測放射性核素的放射射線反應產生的特征射線。

4.根據權利要求3所述的測試放射性核素的方法，其特征在于：所述特征射線包括特征X射線。

5.根據權利要求3所述的測試放射性核素的方法，其特征在于：所述材料影響庫還包含特定放射性核素的放射射線與特定材料物質發生反應產生的特征射線峰。

6.根據權利要求5所述的測試放射性核素的方法，其特征在于：所述第一能譜包含由所述待測試環境中分布的所述材料物質與所述待測放射性核素的放射射線產生的散射譜，以及與所述待測放射性核素的放射射線反應產生的特征射線峰，步驟S4包括在所述第二能譜的基礎上，去除所述散射譜及特征射線峰，以獲得所述待測放射性核素的實際能譜。

7.根據權利要求6所述的測試放射性核素的方法，其特征在于：所述散射譜及特征射線峰表征所述散射線及特征射線的角度方向、強度信息及能量大小。

8.根據權利要求1所述的測試放射性核素的方法，其特征在于：所述散射線包括由所述材料物質與所述待測放射性核素的放射射線產生的康普頓散射反應所產生的散射線。

9.根據權利要求1所述的測試放射性核素的方法，其特征在于：所述散射線包括當所述待測放射性核素的能量高于1.02MeV時，由所述材料物質與所述待測放射性核素的放射射線產生的電子對效應所產生的能量為511keV的射線峰。

10.根據權利要求1所述的測試放射性核素的方法，其特征在于：獲取所述材料物質的種類的方法包括X射線熒光分析法、X射線衍射分析法、紅外光譜分析法、拉曼光譜分析法中的一種或組合。

11.根據權利要求1～10中任一所述的測試放射性核素的方法，其特征在于：所述測試放射性核素的方法，應用于伽馬譜儀，所述伽馬譜儀包括基于NaI的伽馬譜儀、基于CsI的伽馬譜儀、基于LaBr₃的伽馬譜儀、基于LaCl₃的伽馬譜儀、基于高純Ge的伽馬譜儀、基于GaAs的伽馬譜儀、基于HgI₂的伽馬譜儀、基于TlBr的伽馬譜儀、基于CdZnTe的半導體譜儀及基于CdTe的半導體譜儀中的一種。