[發明專利]等離子體-質譜分析系統的工作方法在審
| 申請號： | 201810125979.3 | 申請日： | 2018-02-08 |
| 公開（公告）號： | CN108181374A | 公開（公告）日： | 2018-06-19 |
| 發明（設計）人： | 陳飛華;徐岳;繆恩強;俞曉峰 | 申請（專利權）人： | 聚光科技（杭州）股份有限公司;杭州譜育科技發展有限公司 |
| 主分類號： | G01N27/62 | 分類號： | G01N27/62 |
| 代理公司： | 暫無信息 | 代理人： | 暫無信息 |
| 地址： | 310052 浙*** | 國省代碼： | 浙江;33 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 等離子體 炬管 質譜分析系統 炬焰 圖像 點火 中心軸線重合 使用壽命 中心軸線 拍攝 矩管 成功率 輸出 響應 | ||
1.等離子體-質譜分析系統的工作方法，所述工作方法為：
(A1)在炬管點火前，拍攝所述炬管和線圈的圖像；
根據所述圖像去調整所述炬管和線圈的相對位置，使得所述炬管的中心軸線和所述線圈圍成區域的中心軸線重合；
(A2)在所述炬管點火后，拍攝炬焰和線圈的圖像；
根據炬焰和線圈的圖像去調整所述炬焰的位置，使得等離子體-質譜分析系統輸出正常的響應值。
2.根據權利要求1所述的等離子體-質譜分析系統的工作方法，其特征在于：在步驟(A1)中，同時進行泵排空、吹掃管路和關閉霧化工作。
3.根據權利要求1所述的等離子體-質譜分析系統的工作方法，其特征在于：在步驟(A2)中，分析炬焰的形狀，確定出炬焰的有效區域；在所述有效區域內，根據折中查找法得出炬焰和進樣錐的錐孔的最優位置。
4.根據權利要求3所述的等離子體-質譜分析系統的工作方法，其特征在于：利用炬焰與線圈的相對位置，得出炬焰的有效區域。
5.根據權利要求4所述的等離子體-質譜分析系統的工作方法，其特征在于：所述炬焰的有效區域為：
X∈[X1，X2]：d1-4＜X1＜X2＜4+d2；
Y∈[Y1，Y2]：d3-4＜Y1＜Y2＜4+d4；
d1是炬焰的最左邊到左側線圈的距離，d2是炬焰的最右邊到右側線圈的距離，d3是炬焰的最上邊到上線圈的距離，d4是炬焰的最下邊到下側線圈的距離。
6.根據權利要求1所述的等離子體-質譜分析系統的工作方法，其特征在于：在步驟(A1)中，位置的調整方式為：
根據采集圖像，對圖像進行分析，得出炬管玻璃體與線圈左側、右側的距離分別為S1、Sr，同時得出炬管玻璃體與線圈上側、下側的距離分別Su、Sd；得出炬管與線圈的左右側距離均為上下側距離均為
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