[發(fā)明專利]等離子體-質(zhì)譜分析系統(tǒng)的工作方法

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201810125979.3
• 申請日: 2018-02-08
• 公開（公告）號: CN108181374A
• 公開（公告）日: 2018-06-19
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 陳飛華;徐岳;繆恩強(qiáng);俞曉峰
• 申請（專利權(quán)）人: 聚光科技（杭州）股份有限公司;杭州譜育科技發(fā)展有限公司
• 主分類號: G01N27/62
• 分類號: G01N27/62
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本發(fā)明提供了一種等離子體?質(zhì)譜分析系統(tǒng)的工作方法，所述等離子體?質(zhì)譜分析系統(tǒng)的工作方法包括以下步驟：(A1)在炬管點火前，拍攝所述炬管和線圈的圖像；根據(jù)所述圖像去調(diào)整所述炬管和線圈的相對位置，使得所述炬管的中心軸線和所述線圈圍成區(qū)域的中心軸線重合；(A2)在所述炬管點火后，拍攝炬焰和線圈的圖像；根據(jù)炬焰和線圈的圖像去調(diào)整所述炬焰的位置，使得等離子體?質(zhì)譜分析系統(tǒng)輸出正常的響應(yīng)值。本發(fā)明具有出譜圖快、點火成功率高、矩管使用壽命長、等優(yōu)點。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及質(zhì)譜分析，特別涉及等離子體-質(zhì)譜分析系統(tǒng)的工作方法。

背景技術(shù)

在ICP-MS分析時，炬管全部采用水平放置，采用取樣錐深入等離子體中截取其中的離子進(jìn)入質(zhì)譜儀進(jìn)行質(zhì)量分析。因為等離子體功率很高，所以需要采用水冷的取樣錐和大流量抽風(fēng)的風(fēng)冷系統(tǒng)對等離子體、取樣錐散熱，這樣不僅需要很大流量的冷卻氣(氬氣)對炬管進(jìn)行保護(hù)，以免燒毀炬管，另外大流量的風(fēng)冷系統(tǒng)不可避免的會吹動等離子體，導(dǎo)致等離子體內(nèi)部的進(jìn)樣通道會受到風(fēng)的影響產(chǎn)生擾動，導(dǎo)致分析結(jié)果產(chǎn)生不必要的波動。

另外深入到等離子體中的截取錐也受到等離子體高溫的影響，隨著加熱時間的變化，導(dǎo)致ICP-MS采集到的離子數(shù)逐漸變化，反映在一起性能上就是信號逐漸偏移，穩(wěn)定性不好。

同時因為水平放置炬管,受熱力學(xué)的正常影響,炬管的上部空間自然是溫度較高，下部空間溫度較低,等離子體分布不均勻、溫度分布也不均勻，容易導(dǎo)致炬管上部空間更容易燒毀。

發(fā)明內(nèi)容

為了解決上述現(xiàn)有技術(shù)方案中的不足，本發(fā)明提供了等離子體-質(zhì)譜分析系統(tǒng)的工作方法，實現(xiàn)了提高點火成功率、矩管使用壽命長、出譜圖快、實時校正的目的。

等離子體-質(zhì)譜分析系統(tǒng)的工作方法，所述工作方法包括以下步驟：

(A1)在炬管點火前，拍攝所述炬管和線圈的圖像；

根據(jù)所述圖像去調(diào)整所述炬管和線圈的相對位置，使得所述炬管的中心軸線和所述線圈圍成區(qū)域的中心軸線重合；

(A2)在所述炬管點火后，拍攝炬焰和線圈的圖像；

根據(jù)炬焰和線圈的圖像去調(diào)整所述炬焰的位置，使得等離子體-質(zhì)譜分析系統(tǒng)輸出正常的響應(yīng)值。

根據(jù)上述的等離子體-質(zhì)譜分析系統(tǒng)的工作方法，優(yōu)選地，在步驟(A1)中，同時進(jìn)行泵排空、吹掃管路和關(guān)閉霧化工作。

根據(jù)上述的等離子體-質(zhì)譜分析系統(tǒng)的工作方法，可選地，在步驟(A2)中，分析炬焰的形狀，確定出炬焰的有效區(qū)域；在所述有效區(qū)域內(nèi)，根據(jù)折中查找法得出炬焰和進(jìn)樣錐的錐孔的最優(yōu)位置。

根據(jù)上述的等離子體-質(zhì)譜分析系統(tǒng)的工作方法，優(yōu)選地，利用炬焰與線圈的相對位置，得出炬焰的有效區(qū)域。

根據(jù)上述的等離子體-質(zhì)譜分析系統(tǒng)的工作方法，優(yōu)選地，所述炬焰的有效區(qū)域為：

X∈[X₁，X₂]：d₁-4＜X₁＜X₂＜4+d₂；

Y∈[Y₁，Y₂]：d₃-4＜Y₁＜Y₂＜4+d₄；

d₁是炬焰的最左邊到左側(cè)線圈的距離，d₂是炬焰的最右邊到右側(cè)線圈的距離，d₃是炬焰的最上邊到上線圈的距離，d₄是炬焰的最下邊到下側(cè)線圈的距離。

根據(jù)上述的等離子體-質(zhì)譜分析系統(tǒng)的工作方法，優(yōu)選地，在步驟(A1)中，位置的調(diào)整方式為：