[發明專利]AOI圖像匹配方法、系統、可讀存儲介質及智能設備

有效

• 申請號: 201810125034.1
• 申請日: 2018-02-07
• 公開（公告）號: CN108492327B
• 公開（公告）日: 2021-01-26
• 發明（設計）人: 羅漢杰
• 申請（專利權）人: 廣州視源電子科技股份有限公司;廣州鐳晨智能科技有限公司
• 主分類號: G06T7/32
• 分類號: G06T7/32;G06T7/00
• 代理公司: 北京清亦華知識產權代理事務所(普通合伙) 11201
• 代理人: 何世磊

本發明提出一種AOI圖像匹配方法、系統、可讀存儲介質及智能設備，包括如下步驟：獲取一目標物檢測圖像，對所述目標物檢測圖像進行卷積計算以得到一匹配矩陣，所述匹配矩陣為所述目標物檢測圖像相對于所述參考模板圖像的匹配矩陣，所述參考模板圖像對應有一初始權重矩陣；根據所述匹配矩陣，計算得到所述目標物檢測圖像中與所述參考模板圖像的匹配度最高的最佳匹配子圖；計算所述最佳匹配子圖與所述參考模板圖像之間的相關度矩陣，根據所述相關度矩陣對所述初始權重矩陣進行修正以得到一目標權重矩陣。本發明提出的AOI圖像匹配方法，能夠動態地調整目標物檢測圖像與參考模板圖像之間的權重矩陣，從而提高匹配的精度以及穩定性。

技術領域

本發明涉及電子檢測技術領域，特別是涉及一種AOI圖像匹配方法、系統、可讀存儲介質及智能設備。

背景技術

AOI(Automatic Optic Inspection)的全稱為自動光學檢測，是一種基于光學原理來對焊接生產中所遇到的常見缺陷進行檢測的設備。AOI雖然為近年來新興起的一種新型測試技術，但其發展迅速，已經有很多的廠家都推出了AOI測試設備，在實際的工業生產檢測中發揮著重要的作用。

具體的，在進行自動檢測時，機器通過攝像頭自動掃描PCB板以進行圖像的采集，然后將采集到的圖像中的測試焊點與數據庫中的合格參數進行比較，以檢查出PCB板上所存在的缺陷，并通過顯示器或自動標志將對應的缺陷標示出來，供維修人員進行修整。在傳統AOI檢測校驗的過程中，需要先給定一個參考圖像作為模版，然后以此參考模板為基礎進行匹配，在掃描得到的目標圖中定位出與該參考模版圖像相似的圖像的位置。

然而，在AOI檢測系統中，由于被檢測的PCB板上有很多的元件，而有部分元件的位置是不固定的，在實際檢測的過程中可能會發生偏移，當將掃描獲得的圖像與參考模板圖像相匹配時，部分位置發生偏移的元件將在一定程度上影響匹配的精度，不利于實際檢測作業的進行。

發明內容

鑒于上述狀況，有必要解決現有技術中，由于被檢測的PCB板上的部分元件在檢測過程中位置發生偏移，而導致在與參考模板圖像匹配時，在一定程度上影響匹配的精度的問題。

本發明實施例提供了一種AOI圖像匹配方法，其中，所述方法包括如下步驟：

獲取一目標物檢測圖像以及與所述目標物檢測圖像相對應的參考模板圖像，對所述目標物檢測圖像進行卷積計算以得到一匹配矩陣，其中所述匹配矩陣為所述目標物檢測圖像相對于所述參考模板圖像的匹配矩陣，所述參考模板圖像對應有一初始權重矩陣；

根據所述匹配矩陣，計算得到所述目標物檢測圖像中與所述參考模板圖像的匹配度最高的最佳匹配子圖；

計算所述最佳匹配子圖與所述參考模板圖像之間的相關度矩陣，根據所述相關度矩陣對所述初始權重矩陣進行修正以得到一目標權重矩陣，所述目標權重矩陣用于在所述目標物檢測圖像與所述參考模板圖像進行匹配時，對所述初始權重矩陣進行替換，以提高相互匹配時對應的匹配精度。

本發明提出的AOI圖像匹配方法，在將目標物檢測圖像與參考模板圖像進行匹配比較時，先計算目標物檢測圖像相對于參考模板圖像的匹配矩陣，根據得到的匹配矩陣計算二者之間匹配度最高的最佳匹配子圖，在確定了最佳匹配子圖之后，根據該最佳匹配子圖確定其與參考模板圖像之間的相關度矩陣。由于該相關度矩陣對應的相關度值存在大小差異，直接反應了目標物檢測圖像與參考模板圖像之間的匹配程度，位置發生偏移的元件區域，其對應的相關度矩陣的值會減小，位置不發生偏移的元件區域，對應的相關度矩陣的值便增大，因此可以根據該相關度矩陣的值，對初始權重矩陣進行修正得到目標權重矩陣。在進行實際匹配時，將原來的初始權重矩陣替換為目標權重矩陣，以使得替換后的目標權重矩陣的值與上述的相關度矩陣的值更為吻合，從而提高相互匹配時對應的匹配精度。

另外，根據本發明上述實施例的板卡數據處理方法，還可以具有如下附加的技術特征：