[發明專利]AOI圖像匹配方法、系統、可讀存儲介質及智能設備

有效

• 申請號: 201810125034.1
• 申請日: 2018-02-07
• 公開（公告）號: CN108492327B
• 公開（公告）日: 2021-01-26
• 發明（設計）人: 羅漢杰
• 申請（專利權）人: 廣州視源電子科技股份有限公司;廣州鐳晨智能科技有限公司
• 主分類號: G06T7/32
• 分類號: G06T7/32;G06T7/00
• 代理公司: 北京清亦華知識產權代理事務所(普通合伙) 11201
• 代理人: 何世磊

1.一種AOI圖像匹配方法，其特征在于，所述方法包括如下步驟：

獲取一目標物檢測圖像以及與所述目標物檢測圖像相對應的參考模板圖像，對所述目標物檢測圖像進行卷積計算以得到一匹配矩陣，其中所述匹配矩陣為所述目標物檢測圖像相對于所述參考模板圖像的匹配矩陣，所述參考模板圖像對應有一初始權重矩陣；

根據所述匹配矩陣，計算得到所述目標物檢測圖像中與所述參考模板圖像的匹配度最高的最佳匹配子圖；

計算所述最佳匹配子圖與所述參考模板圖像之間的相關度矩陣，所述計算所述最佳匹配子圖與所述參考模板圖像之間的相關度矩陣的方法包括如下步驟：

根據公式計算得到一中間相關度矩陣M'(i,j)；

對所述中間相關度矩陣M'(i,j)進行歸一化處理以得到所述相關度矩陣M(i,j)；

根據所述相關度矩陣對所述初始權重矩陣進行修正以得到一目標權重矩陣，所述根據所述相關度矩陣對所述初始權重矩陣進行修正以得到一目標權重矩陣的方法包括如下步驟：

根據公式K'＝NORM(α·K+β·M)對所述初始權重矩陣進行修正更新以得到所述目標權重矩陣K'；

其中，α與β為控制參數，NORM為歸一化處理；I'_model(i,j)為第一參考模板圖像，I_match(x,y)為所述最佳匹配子圖，I'_object(x+i,y+j)為第一目標物檢測圖像，i、j、i'以及j'均為所述參考模板圖像的自變量，w與h分別為所述參考模板圖像的寬度與高度，x與y分別為所述目標物檢測圖像的自變量，所述目標權重矩陣用于在所述目標物檢測圖像與所述參考模板圖像進行匹配時，對所述初始權重矩陣進行替換，以提高相互匹配時對應的匹配精度。

2.根據權利要求1所述的AOI圖像匹配方法，其特征在于，所述對所述目標物檢測圖像進行卷積計算以得到一參考模板圖像相對于所述目標物檢測圖像的匹配矩陣的方法包括如下步驟：

根據公式對所述參考模板圖像進行歸一化處理以得到所述第一參考模板圖像；

根據公式對所述目標物檢測圖像進行歸一化處理以得到所述第一目標物檢測圖像；

根據公式進行所述卷積計算以得到所述匹配矩陣；

其中I_model(i,j)為所述參考模板圖像，I_object(i,j)為所述目標物檢測圖像，R(x,y)為所述匹配矩陣，K(i,j)為所述初始權重矩陣，w與h分別為所述參考模板圖像的寬度與高度。

3.根據權利要求2所述的AOI圖像匹配方法，其特征在于，所述根據所述匹配矩陣，計算得到所述目標物檢測圖像中與所述參考模板圖像的匹配度最高的最佳匹配子圖的方法包括如下步驟：

計算所述匹配矩陣R(x,y)的矩陣最大值max(R(x,y))，根據所述矩陣最大值max(R(x,y))查找所述匹配矩陣R(x,y)中對應的第一坐標(x_best,y_best)；

根據所述第一坐標(x_best,y_best)在所述目標物檢測圖像I_object(i,j)中查找確定所述最佳匹配子圖I_match(x,y)，其中x∈[x_best,x_best+w)，y∈[y_best,y_best+h)。

4.一種AOI圖像匹配系統，采用權利要求1所述的方法，其特征在于，包括：

圖像獲取模塊，用于獲取一目標物檢測圖像，對所述目標物檢測圖像進行卷積計算以得到一匹配矩陣，所述匹配矩陣為所述目標物檢測圖像相對于所述參考模板圖像的匹配矩陣，所述參考模板圖像對應有一初始權重矩陣；匹配計算模塊，用于根據所述匹配矩陣，計算得到所述目標物檢測圖像中與所述參考模板圖像的匹配度最高的最佳匹配子圖；

權重更新模塊，用于計算所述最佳匹配子圖與所述參考模板圖像之間的相關度矩陣，根據所述相關度矩陣對所述初始權重矩陣進行修正以得到一目標權重矩陣，所述目標權重矩陣用于在所述目標物檢測圖像與所述參考模板圖像進行匹配時，對所述初始權重矩陣進行替換，以提高相互匹配時對應的匹配精度。