[發明專利]光譜測定裝置以及光譜測定方法

有效

• 申請號: 201810122162.0
• 申請日: 2018-02-07
• 公開（公告）號: CN108458786B
• 公開（公告）日: 2021-08-03
• 發明（設計）人: 前田吾郎
• 申請（專利權）人: 大塚電子株式會社
• 主分類號: G01J3/28
• 分類號: G01J3/28
• 代理公司: 北京品源專利代理有限公司 11332
• 代理人: 呂琳;樸秀玉

本發明提供一種更優異的光譜測定裝置以及光譜測定方法。光譜測定裝置具備：CCD(Charge Coupled Device)檢測器，包含二維排列的多個受光元件；光學系統，將入射光分光并照射至所述CCD檢測器；以及限制部，對朝向所述多個受光元件的各行的一部分行以及各列的一部分列的至少任一方的來自所述光學系統的光的照射進行限制。

技術領域

本發明涉及一種光譜測定裝置以及光譜測定方法，特別涉及一種將對象光分光的光譜測定裝置以及光譜測定方法。

背景技術

在非專利文獻1中記載了作為測定光的電磁波譜的光學設備的光譜測定裝置的概略。然后，近年來，正在開發用于測定按波長的強度的光譜測定裝置。

此外，正在開發將CCD(Charge Coupled Device：電荷耦合器件)檢測器作為受光單元的攝影裝置。例如，在日本特開2010-266538號公報(專利文獻1)中公開了如下所示的構成。即，攝影裝置具備：拍攝圖像的CCD圖像傳感器；變更圖像的變焦倍率的可變倍率透鏡以及透鏡驅動器；指示變焦倍率的變更的操作部；從通過CCD圖像傳感器拍攝的圖像檢測特征部分的特征檢測部；以及CPU，在通過操作部指示了變焦倍率的變更的情況下，將通過特征檢測部檢測到的特征部分的大小與特征檢測部可以檢測的特征部分的大小的限界值進行比較，并根據操作部所指示的變焦倍率和比較結果對可變倍率透鏡以及透鏡驅動器進行控制。

現有技術文獻

專利文獻

專利文獻1：日本特開2010-266538號公報

專利文獻2：日本特開平10-145679號公報

專利文獻3：日本特開2000-324400號公報

專利文獻4：日本特開2001-268444號公報

專利文獻5：日本特開2001-268446號公報

專利文獻6：日本特開2003-298959號公報

非專利文獻

非專利文獻1：“維基百科”，[online]，[平成29年1月4日檢索]，因特網〈URL：http：//ja.wikipedia.org/wiki/分光器〉

發明內容

發明所要解決的問題

可以考慮例如使用專利文獻1中記載的CCD檢測器等來作為光譜測定裝置中的受光單元的構成。正在尋求一種在這樣的構成中提供更優異的用于測定光譜的裝置的技術。

本發明是為了解決上述的問題而完成的，其目的在于提供一種更優異的光譜測定裝置以及光譜測定方法。

用于解決問題的方案

(1)為了解決上述問題，本發明的與某種局面相關的光譜測定裝置具備：CCD檢測器，包含二維排列的多個受光元件；光學系統，將入射光分光并照射至所述CCD檢測器；以及限制部，對朝向所述多個受光元件的各行的一部分行以及各列的一部分列的至少任一方的來自所述光學系統的光的照射進行限制的。

通過這樣的構成，例如能通過限制朝向通用的CCD檢測器的光的照射，不開發新的CCD檢測器地實現使檢測區域縮小(downsized)的CCD檢測器，因此能降低裝置的開發成本。此外，由于能減少被光照射的行數以及列數的至少任一方，因此，與不限制光的照射對象的構成相比，能縮短在各受光元件中生成的電荷的取得處理所需的時間。因此，能提供更優異的光譜測定裝置。

(2)優選的是：基于與光譜測定有關的條件來設定所述限制部的限制對象。

通過這樣的構成，能設定與應測定的光譜的內容相應的適當的限制對象。