[發明專利]光譜測定裝置以及光譜測定方法

有效

• 申請號: 201810122162.0
• 申請日: 2018-02-07
• 公開（公告）號: CN108458786B
• 公開（公告）日: 2021-08-03
• 發明（設計）人: 前田吾郎
• 申請（專利權）人: 大塚電子株式會社
• 主分類號: G01J3/28
• 分類號: G01J3/28
• 代理公司: 北京品源專利代理有限公司 11332
• 代理人: 呂琳;樸秀玉

1.一種光譜測定裝置，具備：

CCD檢測器，包含二維排列的多個受光元件；

光學系統，將入射光分光并照射至所述CCD檢測器；以及

限制部，對朝向所述多個受光元件的各列的一部分列的來自所述光學系統的光的照射進行限制，

通過所述光學系統進行分光的各波長的光照射至對應的所述列，

將分別對應于所述光譜測定裝置應取得的光譜的多個波長的多個所述列以外的、一個或多個所述列設定為所述限制部的限制對象。

2.根據權利要求1所述的光譜測定裝置，其中，

基于與光譜測定有關的條件設定所述限制對象。

3.根據權利要求2所述的光譜測定裝置，其中，

所述限制部還對朝向所述多個受光元件的各行的一部分行的來自所述光學系統的光的照射進行限制，

基于由所述CCD檢測器實施的一個光譜的測定時間以及所述CCD檢測器應檢測的光量的至少任一方，設定作為所述限制對象的所述行數。

4.根據權利要求2所述的光譜測定裝置，其中，

所述限制部還對朝向所述多個受光元件的各行的一部分行的來自所述光學系統的光的照射進行限制。

5.根據權利要求1至4中任一項所述的光譜測定裝置，其中，

所述光學系統包含將分光后的光聚光于所述限制部不作為限制對象的所述受光元件群的聚光部。

6.根據權利要求1至4中任一項所述的光譜測定裝置，其中，

所述CCD檢測器包含：多個列移位寄存器，按所述列設置，分別對應屬于所述列的多個所述受光元件地設有多個列電荷蓄積元件；以及行移位寄存器，分別對應所述多個列移位寄存器地設有多個行電荷蓄積元件，

所述列移位寄存器使對應于屬于所述多個受光元件的行的所述受光元件的自身的所述列電荷蓄積元件中的蓄積電荷移動至對應于屬于其他所述行的所述受光元件的自身的所述列電荷蓄積元件、或所述行移位寄存器中的對應的所述行電荷蓄積元件。

7.一種光譜測定方法，為具備包含二維排列的多個受光元件的CCD檢測器的光譜測定裝置的光譜測定方法，包含：

將入射光分光并照射至所述CCD檢測器的步驟；以及

取得通過照射至所述CCD檢測器的分光后的光而在所述多個受光元件中生成的電荷的步驟，

在將光照射至所述CCD檢測器的步驟中，對朝向所述多個受光元件的各列的一部分列的進行了分光的所述入射光的照射進行限制，

在將光照射至所述CCD檢測器的步驟中，將所述分光后的各波長的光照射至對應的所述列，

將分別對應于所述光譜測定裝置應取得的光譜的多個波長的多個所述列以外的、一個或多個所述列設定為所述分光后的光的照射的限制對象。