[發(fā)明專利]一種帶有波浪型場(chǎng)限環(huán)結(jié)構(gòu)的功率半導(dǎo)體器件及其制備方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201810115022.0 | 申請(qǐng)日: | 2018-02-05 |
| 公開(公告)號(hào): | CN108511512A | 公開(公告)日: | 2018-09-07 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 孫偉鋒;張小雙;童鑫;吳其祥;劉斯揚(yáng);陸生禮;時(shí)龍興 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 東南大學(xué);東南大學(xué)—無錫集成電路技術(shù)研究所 |
| 主分類號(hào): | H01L29/06 | 分類號(hào): | H01L29/06;H01L29/739;H01L21/331 |
| 代理公司: | 南京蘇高專利商標(biāo)事務(wù)所(普通合伙) 32204 | 代理人: | 柏尚春 |
| 地址: | 211100 江*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 波浪型 柵極溝槽 功率半導(dǎo)體器件 離子擴(kuò)散區(qū) 場(chǎng)限環(huán) 過渡區(qū) 襯底 離子注入?yún)^(qū) 電場(chǎng)尖峰 動(dòng)態(tài)雪崩 發(fā)明器件 關(guān)斷時(shí)刻 抑制器件 交疊狀 元胞區(qū) 終端區(qū) 重?fù)诫s 元胞 制備 終端 | ||
一種帶有波浪型場(chǎng)限環(huán)結(jié)構(gòu)的功率半導(dǎo)體器件,包括:P型襯底(1),在P型襯底(1)上方設(shè)有N型緩沖層(2),N型緩沖層(2)上設(shè)有N型外延層(3)且N型外延層(3)被劃分為元胞區(qū)、過渡區(qū)和終端區(qū),在元胞區(qū)內(nèi)設(shè)有柵極溝槽(4?1)、(4?2),在過渡區(qū)設(shè)有柵極溝槽(4?3)、(4?4)、(4?5),在柵極溝槽(4?1)、(4?2)之間設(shè)有P型體區(qū)(6),P型體區(qū)(6)內(nèi)設(shè)有重?fù)诫sN型發(fā)射極(7),其特征在于,終端區(qū)內(nèi)設(shè)有波浪型、交疊狀離子擴(kuò)散區(qū)(10),在波浪型離子擴(kuò)散區(qū)(10)內(nèi)設(shè)有離子注入?yún)^(qū)(10?1)、(10?2)、(10?3)。本發(fā)明器件結(jié)構(gòu)能夠抑制器件關(guān)斷時(shí)刻所產(chǎn)生的電場(chǎng)尖峰,從而抑制動(dòng)態(tài)雪崩。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明主要涉及功率半導(dǎo)體器件技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種帶有波浪型場(chǎng)限環(huán)結(jié)構(gòu)的功率半導(dǎo)體器件及其制備方法,功率半導(dǎo)體器件主要用于大功率電機(jī)傳動(dòng)、機(jī)車牽引和高壓輸電等領(lǐng)域。
背景技術(shù)
功率半導(dǎo)體器件具有阻斷電壓高、導(dǎo)通壓降低、驅(qū)動(dòng)電路簡單、可控性好和安全工作區(qū)大等優(yōu)點(diǎn)。功率半導(dǎo)體器件廣泛應(yīng)用于各種能源變換系統(tǒng)中,諸如輸電系統(tǒng)(高壓直流傳輸和無線電力傳輸)、運(yùn)輸系統(tǒng)(鐵路,磁浮列車和航空航天)和工業(yè)驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)(變速驅(qū)動(dòng))等。隨著工業(yè)變速驅(qū)動(dòng)技術(shù)的迅速發(fā)展,越來越多的功率半導(dǎo)體器件被應(yīng)用電機(jī)驅(qū)動(dòng)電路中。這些功率半導(dǎo)體器件需要在高壓、大電流的條件下實(shí)現(xiàn)高頻開關(guān),往往會(huì)在大電流關(guān)斷時(shí),即功率半導(dǎo)體器件從正向?qū)顟B(tài)向反向偏壓狀態(tài)轉(zhuǎn)換時(shí),誘發(fā)動(dòng)態(tài)雪崩,導(dǎo)致器件失效,影響器件的魯棒性。因此,在保持器件的耐壓能力、低導(dǎo)通壓降的基礎(chǔ)上提高器件的動(dòng)態(tài)雪崩魯棒性是功率半導(dǎo)體器件的重要發(fā)展方向,對(duì)功率器件的發(fā)展具有重要的意義。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明針對(duì)上述問題,提出了一種帶有波浪型場(chǎng)限環(huán)結(jié)構(gòu)的功率半導(dǎo)體器件及其制備方法。該結(jié)構(gòu)通過施加波浪型場(chǎng)限環(huán)降低功率半導(dǎo)體器件結(jié)構(gòu)在關(guān)斷時(shí)刻由于空穴電流集中而急劇升高的表面電場(chǎng),從而有效的抑制了動(dòng)態(tài)雪崩現(xiàn)象。
本發(fā)明提供如下結(jié)構(gòu)技術(shù)方案:
一種帶有波浪型場(chǎng)限環(huán)結(jié)構(gòu)的功率半導(dǎo)體器件及其制備方法,包括:P型襯底,在所述的P型襯底底部設(shè)有陽極金屬層作為器件的集電極,在P型襯底上方設(shè)有N型緩沖層,N型緩沖層上設(shè)有N型外延層且所述N型外延層被劃分為元胞區(qū)、過渡區(qū)和終端區(qū),在N型外延層上設(shè)有場(chǎng)氧化層,在元胞區(qū)內(nèi)設(shè)有兩個(gè)元胞區(qū)柵極溝槽,在過渡區(qū)設(shè)有三個(gè)過渡區(qū)柵極溝槽,在兩個(gè)元胞區(qū)柵極溝槽之間設(shè)有P型體區(qū),P型體區(qū)內(nèi)設(shè)有重?fù)诫sN型發(fā)射極,元胞區(qū)柵極溝槽和過渡區(qū)柵極溝槽側(cè)壁及底部設(shè)有柵氧化層,在柵氧化層內(nèi)部充填有作為器件柵極的多晶硅,其特征在于,終端區(qū)內(nèi)設(shè)有波浪型、交疊狀離子擴(kuò)散區(qū),在波浪型離子擴(kuò)散區(qū)內(nèi)設(shè)有三個(gè)離子注入?yún)^(qū)。其制備方法如下:
第一步:首先外延生長重?fù)诫sN型緩沖層和淺摻雜N型外延層,隨后生長場(chǎng)氧化層;
第二步:刻蝕注入窗口,通過全晶圓注入的形式注入P型雜質(zhì),形成相互間隔的離子注入?yún)^(qū),在經(jīng)過1175℃退火擴(kuò)散生成波浪型離子擴(kuò)散區(qū),其中離子注入?yún)^(qū)的注入能量介于10~100keV之間,注入劑量介于1e12~1el4cm~2之間;
第三步:刻蝕柵極溝槽,生長柵極氧化層,隨后淀積多晶硅形成柵極;
第四步:刻蝕多晶硅,自對(duì)準(zhǔn)全晶圓注入P型雜質(zhì)并退火形成P型體區(qū),其中,P型體區(qū)的注入能量介于10keV~120keV之間,注入劑量介于1e11~4e14cm-2之間;
第五步:刻蝕注入窗口,通過全晶圓注入的形式注入N型雜質(zhì),并退火形成重?fù)诫sN型發(fā)射區(qū),其中,N型發(fā)射區(qū)的注入能量介于10keV~80keV之間,注入劑量介于1e13~1e17cm-2之間;
第六步:刻蝕場(chǎng)氧化層形成接觸孔,然后金屬層淀積、光刻、刻蝕,形成金屬發(fā)射極;
第七步:在N型緩沖層底部通過全晶圓注入的形式注入P型雜質(zhì),激光退火最終形成P型襯底并作為器件的集電極。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于東南大學(xué);東南大學(xué)—無錫集成電路技術(shù)研究所,未經(jīng)東南大學(xué);東南大學(xué)—無錫集成電路技術(shù)研究所許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201810115022.0/2.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L29-00 專門適用于整流、放大、振蕩或切換,并具有至少一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或表面勢(shì)壘的半導(dǎo)體器件;具有至少一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或表面勢(shì)壘,例如PN結(jié)耗盡層或載流子集結(jié)層的電容器或電阻器;半導(dǎo)體本體或其電極的零部件
H01L29-02 .按其半導(dǎo)體本體的特征區(qū)分的
H01L29-40 .按其電極特征區(qū)分的
H01L29-66 .按半導(dǎo)體器件的類型區(qū)分的
H01L29-68 ..只能通過對(duì)一個(gè)不通有待整流、放大或切換的電流的電極供給電流或施加電位方可進(jìn)行控制的
H01L29-82 ..通過施加于器件的磁場(chǎng)變化可控的
- 采用兩次離子注入的高操作電壓雙擴(kuò)散漏極MOS器件
- 一種離子掩膜制作玻璃光波導(dǎo)的方法
- 一種含Cu離子的光波導(dǎo)
- 半導(dǎo)體裝置
- 改善重疊背照式CMOS圖像傳感器圖像信號(hào)質(zhì)量的方法
- 一種集成磁光功能的玻璃基離子交換光波導(dǎo)芯片
- 鰭部摻雜方法及鰭式場(chǎng)效應(yīng)晶體管的制作方法
- Be離子擴(kuò)散保護(hù)環(huán)雪崩光電探測(cè)器芯片及其制作方法
- 一種Be離子擴(kuò)散保護(hù)環(huán)雪崩光電探測(cè)器芯片
- CMOS工藝中P型多晶硅電阻和p型擴(kuò)散區(qū)電阻反向調(diào)節(jié)方法





