[發(fā)明專利]偏振片光學參數(shù)的測試裝置

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201810113363.4
• 申請日: 2018-02-05
• 公開（公告）號: CN108489710A
• 公開（公告）日: 2018-09-04
• 發(fā)明（設計）人: 劉軍
• 申請（專利權(quán)）人: 北京靈犀微光科技有限公司
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 北京集智東方知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11578
• 代理人: 陳亞斌;關(guān)兆輝

本發(fā)明公開了偏振片光學參數(shù)的測試裝置。所述測試裝置包括：控制模塊、測試光模塊、被測件固定模塊、第一檢測模塊和第二檢測模塊；所述被測件固定模塊，用于固定所述偏振片；所述測試光模塊，用于產(chǎn)生測試光并投射至所述偏振片；檢測所述測試光的第一能量值；所述第一檢測模塊，用于檢測來自所述偏振片的第一反射光的第二能量值；所述第二檢測模塊，用于檢測來自所述偏振片的第一透射光的第三能量值；所述控制模塊，用于控制所述被測件固定模塊、所述測試光模塊、所述第一檢測模塊和所述第二檢測模塊的狀態(tài)；根據(jù)所述第一能量值、所述第二能量值和所述第三能量值，計算所述偏振片的光學參數(shù)。實現(xiàn)在一次測試中對偏振片的光學參數(shù)進行全面評價。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及測試領(lǐng)域，特別涉及偏振片光學參數(shù)的測試裝置。

背景技術(shù)

偏振片的光學參數(shù)主要包括：反射率、透射率、消光比和損耗率。目前針對偏振片的測試，都是針對偏振片某個具體光學參數(shù)的測試，無法在一次測試中對偏振片的光學參數(shù)進行全面評價。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明實施例提供了偏振片光學參數(shù)的測試裝置。為了對披露的實施例的一些方面有一個基本的理解，下面給出了簡單的概括。該概括部分不是泛泛評述，也不是要確定關(guān)鍵/重要組成元素或描繪這些實施例的保護范圍。其唯一目的是用簡單的形式呈現(xiàn)一些概念，以此作為后面的詳細說明的序言。

本發(fā)明實施例提供了一種偏振片光學參數(shù)的測試裝置，所述測試裝置包括：控制模塊、測試光模塊、被測件固定模塊、第一檢測模塊和第二檢測模塊；

所述被測件固定模塊，用于固定所述偏振片；

所述測試光模塊，用于產(chǎn)生測試光并投射至所述偏振片；檢測所述測試光的第一能量值；

所述第一檢測模塊，用于檢測來自所述偏振片的第一反射光的第二能量值；

所述第二檢測模塊，用于檢測來自所述偏振片的第一透射光的第三能量值；

所述控制模塊，用于控制所述被測件固定模塊、所述測試光模塊、所述第一檢測模塊和所述第二檢測模塊的狀態(tài)；根據(jù)所述第一能量值、所述第二能量值和所述第三能量值，計算所述偏振片的光學參數(shù)。

基于所述測試裝置，作為可選的第一實施例，所述測試裝置還包括：外殼；

所述控制模塊、所述測試光模塊、所述被測件固定模塊、所述第一檢測模塊和所述第二檢測模塊位于所述外殼中；

所述外殼的外表面上，具有對應所述控制模塊的控制功能的功能控件。

基于所述第一實施例，作為可選的第二實施例，所述測試裝置還包括：顯示模塊；

所述顯示模塊設置于所述外殼的外表面上、并與所述控制模塊相連，用于顯示所述控制模塊的輸出數(shù)據(jù)。

基于所述測試裝置，作為可選的第三實施例，所述測試光模塊包括：光源和測試光產(chǎn)生及監(jiān)測模塊；

所述光源，用于發(fā)射光線；

所述測試光產(chǎn)生及監(jiān)測模塊，用于利用所述光線產(chǎn)生所述測試光，將所述測試光投射至所述偏振片；檢測所述測試光的第一能量值。

基于所述第三實施例，作為可選的第四實施例，所述測試光產(chǎn)生及監(jiān)測模塊包括：功率控制器、偏振模塊、分光結(jié)構(gòu)和第一能量探測器；

所述功率控制器，用于利用所述光線產(chǎn)生設定功率范圍的第一測試光；

所述偏振模塊，用于利用所述第一測試光產(chǎn)生設定偏振方向的第二測試光；

所述分光結(jié)構(gòu)，用于將所述第二測試光分為第二反射光和第二透射光，將所述第二透射光投射至所述偏振片，將所述第二反射光投射至所述第一能量探測器；