[發明專利]偏振片光學參數的測試裝置

在審

• 申請號: 201810113363.4
• 申請日: 2018-02-05
• 公開（公告）號: CN108489710A
• 公開（公告）日: 2018-09-04
• 發明（設計）人: 劉軍
• 申請（專利權）人: 北京靈犀微光科技有限公司
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 北京集智東方知識產權代理有限公司 11578
• 代理人: 陳亞斌;關兆輝

1.一種偏振片光學參數的測試裝置，其特征在于，所述測試裝置包括：控制模塊、測試光模塊、被測件固定模塊、第一檢測模塊和第二檢測模塊；

所述被測件固定模塊，用于固定所述偏振片；

所述測試光模塊，用于產生測試光并投射至所述偏振片；檢測所述測試光的第一能量值；

所述第一檢測模塊，用于檢測來自所述偏振片的第一反射光的第二能量值；

所述第二檢測模塊，用于檢測來自所述偏振片的第一透射光的第三能量值；

所述控制模塊，用于控制所述被測件固定模塊、所述測試光模塊、所述第一檢測模塊和所述第二檢測模塊的狀態；根據所述第一能量值、所述第二能量值和所述第三能量值，計算所述偏振片的光學參數。

2.如權利要求1所述的測試裝置，其特征在于，所述測試裝置還包括：外殼；

所述控制模塊、所述測試光模塊、所述被測件固定模塊、所述第一檢測模塊和所述第二檢測模塊位于所述外殼中；

所述外殼的外表面上，具有對應所述控制模塊的控制功能的功能控件。

3.如權利要求2所述的測試裝置，其特征在于，所述測試裝置還包括：顯示模塊；

所述顯示模塊設置于所述外殼的外表面上、并與所述控制模塊相連，用于顯示所述控制模塊的輸出數據。

4.如權利要求1所述的測試裝置，其特征在于，所述測試光模塊包括：光源和測試光產生及監測模塊；

所述光源，用于發射光線；

所述測試光產生及監測模塊，用于利用所述光線產生所述測試光，將所述測試光投射至所述偏振片；檢測所述測試光的第一能量值。

5.如權利要求4所述的測試裝置，其特征在于，所述測試光產生及監測模塊包括：功率控制器、偏振模塊、分光結構和第一能量探測器；

所述功率控制器，用于利用所述光線產生設定功率范圍的第一測試光；

所述偏振模塊，用于利用所述第一測試光產生設定偏振方向的第二測試光；

所述分光結構，用于將所述第二測試光分為第二反射光和第二透射光，將所述第二透射光投射至所述偏振片，將所述第二反射光投射至所述第一能量探測器；

所述第一能量探測器，用于檢測所述第二反射光的第四能量值；所述第一能量值為所述第四能量值乘以所述分光結構的分光比。

6.如權利要求5所述的測試裝置，其特征在于，所述第一檢測模塊包括：

第一檢偏模塊和第二能量探測器；

所述第一檢偏模塊，用于調整所述第一反射光的偏振模式；

所述第二能量探測器，用于檢測經調整的所述第一反射光的第二能量值。

7.如權利要求5所述的測試裝置，其特征在于，所述第二檢測模塊包括：

第二檢偏模塊和第三能量探測器；

所述第二檢偏模塊，用于調整所述第一透射光的偏振模式；

所述第三能量探測器，用于檢測經調整的所述第一透射光的第三能量值。

8.如權利要求1至7任一項所述的測試裝置，其特征在于，所述控制模塊被配置為執行如下至少一項：

使用所述第二能量值除以所述第一能量值，得到所述偏振片的反射率；

使用所述第三能量值除以所述第一能量值，得到所述偏振片的透射率；

使用所述第二能量值除以所述第三能量值，得到所述偏振片的消光比；

使用所述第一能量值與所述第二能量值及所述第三能量值的差，除以所述第一能量值，得到所述偏振片的損耗率。

9.如權利要求1所述的測試裝置，其特征在于，所述測試裝置還包括：電源模塊，用于在所述控制模塊的控制下，為所述測試裝置中的模塊供電。