[發明專利]一種顯示面板制作與檢測方法

有效

• 申請號: 201810100829.7
• 申請日: 2018-01-31
• 公開（公告）號: CN108319052B
• 公開（公告）日: 2020-11-06
• 發明（設計）人: 翁銘廷;王得富;葉際廣
• 申請（專利權）人: 京東方科技集團股份有限公司;合肥京東方顯示技術有限公司
• 主分類號: G02F1/1333
• 分類號: G02F1/1333;G02F1/13
• 代理公司: 北京中博世達專利商標代理有限公司 11274
• 代理人: 賈瑩

本申請實施例提供一種顯示面板制作與檢測方法，涉及顯示技術領域，用于解決在Cell Cut環節，通過人工排查缺陷刀輪而導致檢測過程時效性和準確性低的問題。該顯示面板制作與檢測方法包括制作母板的方法，顯示面板制作與檢測方法還包括：根據預設的切割參數，采用多個刀輪對母板進行切割，形成多個顯示面板；獲取每個刀輪的加工參數；檢測至少一個顯示面板的不良位置以及不良特征；根據不良位置以及不良特征，對切割參數和刀輪的加工參數進行篩選，并獲取存在異常的刀輪和/或切割參數。

技術領域

本發明涉及顯示技術領域，尤其涉及一種顯示面板制作與檢測方法。

背景技術

TFT-LCD(Thin Film Transistor Liquid Crystal Display，薄膜晶體管-液晶顯示器)的制造工藝主要包括四個階段，分別為彩色濾光片制備、Array(陣列基板制造)工藝、Cell(液晶盒制備)工藝以及Module(模塊組裝)工藝。其中，Cell(液晶盒制備)工藝包括Cell Cut環節，用于對母案進行切割，以按照尺寸需求獲得多個顯示面板(Panel)。

然而，現有技術中，通常在產品出現大量異常時，才會通過人工對Cell Cut環節中的異常進行分析和排查，以找出具有缺陷的刀輪。上述工作方式對工作人員的工作經驗、工作狀態的依賴性較大，缺乏時效性和準確性，從而影響設備稼動率以及產品良率。

發明內容

本發明的實施例提供一種顯示面板制作與檢測方法，用于解決在Cell Cut環節，通過人工排查缺陷刀輪而導致檢測過程時效性和準確性低的問題。

為達到上述目的，本發明的實施例采用如下技術方案：

本申請實施例的一方面，提供一種顯示面板制作與檢測方法，包括制作母板的方法，所述顯示面板制作與檢測方法還包括：根據預設的切割參數，采用多個刀輪對所述母板進行切割，形成多個顯示面板；獲取每個所述刀輪的加工參數；檢測至少一個所述顯示面板的不良位置以及不良特征；根據所述不良位置以及所述不良特征，對所述切割參數和所述刀輪的加工參數進行篩選，并獲取存在異常的所述刀輪和/或所述切割參數。

可選的，所述檢測至少一個所述顯示面板的不良位置以及該不良特征之前，所述方法還包括：根據預設的研磨參數，采用多個研磨輪對至少一個所述顯示面板進行研磨；獲取每個所述研磨輪的加工參數；所述檢測至少一個所述顯示面板的不良位置以及該不良特征之后，所述方法還包括：根據所述不良位置以及所述不良特征，對所述研磨參數和所述研磨輪的加工參數進行篩選，并獲取存在異常的所述研磨輪和/或所述研磨參數。

可選的，所述檢測至少一個所述顯示面板的不良位置以及不良特征包括：獲取多個所述顯示面板的上和/或下表面的外觀圖像；根據工藝參數，將所述外觀圖像與基準外觀圖像進行比對，獲得所述顯示面板的不良位置以及不良特征。

可選的，在獲取存在異常的所述刀輪和/或所述切割參數的情況下，根據工藝參數，將所述外觀圖像與基準外觀圖像進行比對，獲得所述顯示面板的不良位置以及不良特征之前，所述方法還包括：根據多個所述顯示面板在同一個所述母板中的原始位置，將屬于同一個所述母板的各個所述顯示面板的上表面的外觀圖像進行組合，得到第一組合圖像；和/或，根據多個所述顯示面板在同一個所述母板中的位置，將屬于同一個所述母板的各個所述顯示面板的下表面的外觀圖像進行組合，得到第二組合圖像；根據工藝參數，將所述外觀圖像與基準外觀圖像進行比對，獲得所述顯示面板的不良位置以及不良特征包括：根據所述切割參數以及所述刀輪的加工參數，將所述第一組合圖像和/或所述第二組合圖像與所述母版的基準外觀圖像進行比對，獲得各個所述顯示面板的不良位置以及不良特征。