[發(fā)明專利]一種顯示面板制作與檢測(cè)方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201810100829.7 | 申請(qǐng)日: | 2018-01-31 |
| 公開(公告)號(hào): | CN108319052B | 公開(公告)日: | 2020-11-06 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 翁銘廷;王得富;葉際廣 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 京東方科技集團(tuán)股份有限公司;合肥京東方顯示技術(shù)有限公司 |
| 主分類號(hào): | G02F1/1333 | 分類號(hào): | G02F1/1333;G02F1/13 |
| 代理公司: | 北京中博世達(dá)專利商標(biāo)代理有限公司 11274 | 代理人: | 賈瑩 |
| 地址: | 100015 *** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 顯示 面板 制作 檢測(cè) 方法 | ||
1.一種顯示面板制作與檢測(cè)方法,包括制作母板的方法,其特征在于,所述顯示面板制作與檢測(cè)方法還包括:
根據(jù)預(yù)設(shè)的切割參數(shù),采用多個(gè)刀輪對(duì)所述母板進(jìn)行切割,形成多個(gè)顯示面板;
獲取每個(gè)所述刀輪的加工參數(shù);
檢測(cè)至少一個(gè)所述顯示面板的不良位置以及不良特征包括:獲取多個(gè)所述顯示面板的上和/或下表面的外觀圖像;根據(jù)工藝參數(shù),將所述外觀圖像與基準(zhǔn)外觀圖像進(jìn)行比對(duì),獲得所述顯示面板的不良位置以及不良特征;
根據(jù)所述不良位置以及所述不良特征,對(duì)所述切割參數(shù)和所述刀輪的加工參數(shù)進(jìn)行篩選,并獲取存在異常的所述刀輪和/或所述切割參數(shù);
在獲取存在異常的所述刀輪和/或所述切割參數(shù)的情況下,根據(jù)工藝參數(shù),將所述外觀圖像與基準(zhǔn)外觀圖像進(jìn)行比對(duì),獲得所述顯示面板的不良位置以及不良特征之前,所述方法還包括:
根據(jù)多個(gè)所述顯示面板在同一個(gè)所述母板中的原始位置,將屬于同一個(gè)所述母板的各個(gè)所述顯示面板的上表面的外觀圖像進(jìn)行組合,得到第一組合圖像;
和/或,根據(jù)多個(gè)所述顯示面板在同一個(gè)所述母板中的原始位置,將屬于同一個(gè)所述母板的各個(gè)所述顯示面板的下表面的外觀圖像進(jìn)行組合,得到第二組合圖像;
根據(jù)工藝參數(shù),將所述外觀圖像與基準(zhǔn)外觀圖像進(jìn)行比對(duì),獲得所述顯示面板的不良位置以及不良特征包括:根據(jù)所述切割參數(shù)以及所述刀輪的加工參數(shù),將所述第一組合圖像和/或所述第二組合圖像與所述母板的基準(zhǔn)外觀圖像進(jìn)行比對(duì),獲得各個(gè)所述顯示面板的不良位置以及不良特征。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的顯示面板制作與檢測(cè)方法,其特征在于,
所述檢測(cè)至少一個(gè)所述顯示面板的不良位置以及該不良特征之前,所述方法還包括:
根據(jù)預(yù)設(shè)的研磨參數(shù),采用多個(gè)研磨輪對(duì)至少一個(gè)所述顯示面板進(jìn)行研磨;
獲取每個(gè)所述研磨輪的加工參數(shù);
所述檢測(cè)至少一個(gè)所述顯示面板的不良位置以及該不良特征之后,所述方法還包括:
根據(jù)所述不良位置以及所述不良特征,對(duì)所述研磨參數(shù)和所述研磨輪的加工參數(shù)進(jìn)行篩選,并獲取存在異常的所述研磨輪和/或所述研磨參數(shù)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的顯示面板制作與檢測(cè)方法,其特征在于,獲取存在異常的所述刀輪和/或所述切割參數(shù)之前,所述方法還包括:
連續(xù)獲取多個(gè)所述母板分別對(duì)應(yīng)的所述第一組合圖像和/或所述第二組合圖像;
判斷多張所述第一組合圖像中所述不良位置、所述不良特征是否相同;和/或,判斷多張所述第二組合圖像中所述不良位置、所述不良特征是否相同;
若判斷結(jié)果為相同,執(zhí)行根據(jù)所述不良位置以及所述不良特征,對(duì)所述切割參數(shù)和所述刀輪的加工參數(shù)進(jìn)行篩選,并獲取存在異常的所述刀輪和/或所述切割參數(shù)的步驟。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的顯示面板制作與檢測(cè)方法,其特征在于,所述獲取每個(gè)所述刀輪的加工參數(shù)包括:
獲取每個(gè)顯示面板在一所述母板中的原始位置;
獲取用于切割具有所述原始位置的顯示面板中陣列基板和對(duì)盒基板的各個(gè)邊緣分別對(duì)應(yīng)的所述刀輪的型號(hào)、壽命以及切割編號(hào)。
5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的顯示面板制作與檢測(cè)方法,其特征在于,所述獲取每個(gè)所述研磨輪的加工參數(shù)包括:
獲取每個(gè)顯示面板在一所述母板中的原始位置;
獲取用于研磨具有所述原始位置的顯示面板中陣列基板和對(duì)盒基板的各個(gè)邊緣分別對(duì)應(yīng)的所述研磨輪的型號(hào)、壽命以及研磨編號(hào)。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的顯示面板制作與檢測(cè)方法,其特征在于,所述獲得所述顯示面板的不良位置以及不良特征包括:
獲取每個(gè)顯示面板在一所述母板中的原始位置;
獲取具有所述原始位置的顯示面板中存在缺口不良、裂紋不良以及毛刺不良的位置。
7.一種計(jì)算機(jī)設(shè)備,其特征在于,包括存儲(chǔ)器、處理器;所述存儲(chǔ)器上存儲(chǔ)有可在處理器上運(yùn)行的計(jì)算機(jī)程序,所述處理器執(zhí)行所述計(jì)算機(jī)程序時(shí)實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1-6任一項(xiàng)所述的方法。
8.一種計(jì)算機(jī)可讀介質(zhì),其存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序,其特征在于,所述計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1-6任一項(xiàng)所述的方法。
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G02F 用于控制光的強(qiáng)度、顏色、相位、偏振或方向的器件或裝置,例如轉(zhuǎn)換、選通、調(diào)制或解調(diào),上述器件或裝置的光學(xué)操作是通過(guò)改變器件或裝置的介質(zhì)的光學(xué)性質(zhì)來(lái)修改的;用于上述操作的技術(shù)或工藝;變頻;非線性光學(xué);光學(xué)
G02F1-00 控制來(lái)自獨(dú)立光源的光的強(qiáng)度、顏色、相位、偏振或方向的器件或裝置,例如,轉(zhuǎn)換、選通或調(diào)制;非線性光學(xué)
G02F1-01 .對(duì)強(qiáng)度、相位、偏振或顏色的控制
G02F1-29 .用于光束的位置或方向的控制,即偏轉(zhuǎn)
G02F1-35 .非線性光學(xué)
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