[發明專利]基帶芯片高低溫特性的測試方法和裝置

在審

• 申請號: 201810098395.1
• 申請日: 2018-01-31
• 公開（公告）號: CN108427126A
• 公開（公告）日: 2018-08-21
• 發明（設計）人: 孫倩;劉靜
• 申請（專利權）人: 交通運輸部水運科學研究所
• 主分類號: G01S19/23
• 分類號: G01S19/23;G01R31/28
• 代理公司: 北京同立鈞成知識產權代理有限公司 11205
• 代理人: 楊澤;劉芳

本發明提供一種基帶芯片高低溫特性的測試方法和裝置，待測試基帶芯片設置于測試板上，測試板放置于溫箱中，溫箱設置于船舶上；該方法包括：在溫箱的溫度為待測試基帶芯片的極限工作溫度時，采集待測試基帶芯片在預設時間段內輸出的位置信息，位置信息為船舶按照預設航線在預設時間段內行駛時待測試基帶芯片輸出的不同時刻的船舶的位置坐標信息；根據位置信息和預設航線中的位置信息，獲取待測試基帶芯片的定位精度。測試基帶芯片在極限溫度下的定位精度，為實際應用中基帶芯片的選擇提供了依據。

技術領域

本發明涉及電子技術領域，尤其涉及一種基帶芯片高低溫特性的測試方法和裝置。

背景技術

由于航海環境的特殊性，船載的導航設備相對普通環境下的導航設備，在可靠性、防震、防潮、防高溫及防光直射等方面有更高的要求，因此，船載設備都需要經過統一、嚴格的測試，采用國際統一的衡量標準并達到所要求的測試結果方可安裝上船。

船載導航設備的主要組成部分為基帶芯片，受外界環境的變化，基帶芯片的定位精度也會產生變化。在實際的應用過程中，需要基帶芯片在不同環境下的定位精度達到一定要求，海上四季的溫度變化大，更需要基帶芯片能夠在不同溫度下達到所需的定位精度，因此，在基帶芯片使用前需要對其進行高低溫測試。但現有技術中對于基帶芯片高低溫特性的測試方法鮮有披露。

發明內容

本發明提供一種基帶芯片高低溫特性的測試方法和裝置，測試了基帶芯片在極限工作溫度下的定位精度，為實際應用中基帶芯片的選擇提供了依據。

本發明的第一方面提供一種基帶芯片高低溫特性的測試方法，待測試基帶芯片設置于測試板上，所述測試板放置于溫箱中，所述溫箱設置于船舶上；所述方法包括：

在所述溫箱的溫度為待測試基帶芯片的極限工作溫度時，采集所述待測試基帶芯片在預設時間段內輸出的位置信息，所述位置信息為所述船舶按照預設航線在所述預設時間段內行駛時所述待測試基帶芯片輸出的不同時刻的所述船舶的位置坐標信息；

根據所述位置信息和所述預設航線中的位置信息，獲取所述待測試基帶芯片的定位精度。

可選的，所述采集所述待測試基帶芯片在預設時間段內輸出的位置信息，包括：

在第一測試條件下，采集所述待測試基帶芯片在預設時間段內輸出的位置信息；

其中，所述第一測試條件包括：所述待測試基帶芯片可追蹤到6顆北斗二號BD-2衛星，6顆全球定位GPS衛星，且所述待測試基帶芯片追蹤衛星位置的精度強弱度PDOP≤4；

所述待測試基帶芯片輸出BD-2衛星對應的頻點信號和GPS衛星對應的頻點信號。

可選的，所述采集所述待測試基帶芯片在預設時間段內輸出的位置信息，包括：

在第二測試條件下，采集所述待測試基帶芯片在預設時間段內輸出的位置信息；

其中，所述第二測試條件包括：所述待測試基帶芯片可追蹤到9顆北斗二號BD-2衛星，且所述待測試基帶芯片追蹤衛星位置的精度強弱度PDOP≤5；

所述待測試基帶芯片輸出BD-2衛星對應的頻點信號。

可選的，所述第一測試條件或所述第二測試條件還包括：

衛星軌道、衛星鐘差、電離層時延和對流層時延設置為無時變誤差模式；

所述船舶的最大速度不超過30m/s，最大加速度不超過0.5m/s²，加速度的最大變化率不超過0.05m/s³。

可選的，所述待測試基帶芯片的極限工作溫度為低溫極限工作溫度或高溫極限工作溫度。

可選的，在采集所述待測試基帶芯片在預設時間段內輸出的位置信息之前，還包括：