[發(fā)明專利]基帶芯片高低溫特性的測試方法和裝置

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• 申請日: 2018-01-31
• 公開（公告）號: CN108427126A
• 公開（公告）日: 2018-08-21
• 發(fā)明（設計）人: 孫倩;劉靜
• 申請（專利權）人: 交通運輸部水運科學研究所
• 主分類號: G01S19/23
• 分類號: G01S19/23;G01R31/28
• 代理公司: 北京同立鈞成知識產權代理有限公司 11205
• 代理人: 楊澤;劉芳

1.一種基帶芯片高低溫特性的測試方法，其特征在于，待測試基帶芯片設置于測試板上，所述測試板放置于溫箱中，所述溫箱設置于船舶上；所述方法包括：

在所述溫箱的溫度為待測試基帶芯片的極限工作溫度時，采集所述待測試基帶芯片在預設時間段內輸出的位置信息，所述位置信息為所述船舶按照預設航線在所述預設時間段內行駛時所述待測試基帶芯片輸出的不同時刻的所述船舶的位置坐標信息；

根據(jù)所述位置信息和所述預設航線中的位置信息，獲取所述待測試基帶芯片的定位精度。

2.根據(jù)權利要求1所述的測試方法，其特征在于，所述采集所述待測試基帶芯片在預設時間段內輸出的位置信息，包括：

在第一測試條件下，采集所述待測試基帶芯片在預設時間段內輸出的位置信息；

其中，所述第一測試條件包括：所述待測試基帶芯片可追蹤到6顆北斗二號BD-2衛(wèi)星，6顆全球定位GPS衛(wèi)星，且所述待測試基帶芯片追蹤衛(wèi)星位置的精度強弱度PDOP≤4；

所述待測試基帶芯片輸出BD-2衛(wèi)星對應的頻點信號和GPS衛(wèi)星對應的頻點信號。

3.根據(jù)權利要求1所述的測試方法，其特征在于，所述采集所述待測試基帶芯片在預設時間段內輸出的位置信息，包括：

在第二測試條件下，采集所述待測試基帶芯片在預設時間段內輸出的位置信息；

其中，所述第二測試條件包括：所述待測試基帶芯片可追蹤到9顆北斗二號BD-2衛(wèi)星，且所述待測試基帶芯片追蹤衛(wèi)星位置的精度強弱度PDOP≤5；

所述待測試基帶芯片輸出BD-2衛(wèi)星對應的頻點信號。

4.根據(jù)權利要求2或3所述的測試方法，其特征在于，所述第一測試條件或所述第二測試條件還包括：

衛(wèi)星軌道、衛(wèi)星鐘差、電離層時延和對流層時延設置為無時變誤差模式；

所述船舶的最大速度不超過30m/s，最大加速度不超過0.5m/s²，加速度的最大變化率不超過0.05m/s³。

5.根據(jù)權利要求1所述的測試方法，其特征在于，所述待測試基帶芯片的極限工作溫度為低溫極限工作溫度或高溫極限工作溫度。

6.根據(jù)權利要求1所述的測試方法，其特征在于，在采集所述待測試基帶芯片在預設時間段內輸出的位置信息之前，還包括：

確定所述溫箱內的溫度在極限工作溫度滿足熱平衡達到預設時長。

7.根據(jù)權利要求6所述的測試方法，其特征在于，所述溫箱的降溫速率和升溫速率為1℃/min。

8.一種基帶芯片高低溫特性的測試裝置，其特征在于，待測試基帶芯片設置于測試板上，所述測試板放置于溫箱中，所述溫箱設置于船舶上；所述裝置包括：

采集模塊，用于在所述溫箱的溫度為待測試基帶芯片的極限工作溫度時，采集所述待測試基帶芯片在預設時間段內輸出的位置信息，所述位置信息為所述船舶按照預設航線在所述預設時間段內行駛時所述待測試基帶芯片輸出的不同時刻的所述船舶的位置坐標信息；

獲取模塊，用于根據(jù)所述位置信息和所述預設航線中的位置信息，獲取所述待測試基帶芯片的定位精度。

9.一種基帶芯片高低溫特性的測試裝置，其特征在于，包括：至少一個處理器和存儲器；

所述存儲器存儲計算機執(zhí)行指令；

所述至少一個處理器執(zhí)行所述存儲器存儲的計算機執(zhí)行指令，使得一種基帶芯片高低溫特性的測試裝置執(zhí)行權利要求1-7任一項所述的測試方法。

10.一種計算機可讀存儲介質，其特征在于，所述計算機可讀存儲介質上存儲有計算機執(zhí)行指令，當所述計算機執(zhí)行指令被處理器執(zhí)行時，實現(xiàn)權利要求1-7任一項所述的測試方法。