[發明專利]一種納米鐵芯飽和電壓快速測試方法

在審

• 申請號: 201810097258.6
• 申請日: 2018-01-31
• 公開（公告）號: CN108333422A
• 公開（公告）日: 2018-07-27
• 發明（設計）人: 蘭杰華;梁紅軍;李升銓;昌賽
• 申請（專利權）人: 深圳市普樂華科技有限公司
• 主分類號: G01R19/25
• 分類號: G01R19/25
• 代理公司: 北京輕創知識產權代理有限公司 11212
• 代理人: 談杰

本發明公開了一種納米鐵芯飽和電壓快速測試方法，包括如下步驟：設備調試，對納米鐵芯飽和電壓測試儀通電檢測，并校準系統誤差；設定納米鐵芯飽和電壓測試儀測試頻率；將測試線穿過被測納米鐵芯；打開電源開關，并調節電流旋鈕和電壓調節旋鈕調整電路中的電流和電壓，直至電路中電流達到設定值，并記錄此時的電壓值；計算該納米鐵芯的磁通密度，還包括快速測試的裝置，只需要將測試線纏繞在待測的納米鐵芯上，通過記錄或者測量測試電壓U，導通時間T_on，測試線圈數N，被測納米鐵芯截面積B_s就可以快速的獲得磁通密度，能夠根據不同的測試要求準確不同條件下的磁通密度，測試簡單、測試速度快，數據準確。

技術領域

本發明涉及電氣設備測試技術領域，具體為一種納米鐵芯飽和電壓快速測試方法。

背景技術

傳統納米鐵芯△B(磁通密度)都是廠家或資料上提供的，由于納米鐵芯是存在差異，不能準確知道每個納米鐵芯的△B，特別在單端電路中納米鐵芯很難做到最優化的使用，由于納米鐵芯△B的不確定，圈數繞制多了損耗會增加，也浪費材料；圈數繞制少了變壓器磁飽和，損耗功率器件無法正常工作，通過納米鐵芯飽和電壓測試儀能準確測得每一個納米鐵芯的飽和電壓，納米鐵芯的使用最優化和可靠。

但是，在現有技術中，納米鐵芯的測量方法復雜，而且對于測量的要求較高，不能夠通過簡單的測量獲得準確的結果。

發明內容

為了克服現有技術方案的不足,本發明提供一種納米鐵芯飽和電壓快速測試方法，可以快速的獲得磁通密度，能夠根據不同的測試要求準確不同條件下的磁通密度，測試簡單、測試速度快，數據準確，能有效的解決背景技術提出的問題。

本發明解決其技術問題所采用的技術方案是：一種納米鐵芯飽和電壓快速測試方法，包括如下步驟：

步驟100、設備調試，對納米鐵芯飽和電壓測試儀通電檢測，并校準系統誤差；

步驟200、設定納米鐵芯飽和電壓測試儀測試頻率；

步驟300、將測試線穿過被測納米鐵芯；

步驟400、打開電源開關，并調節電流旋鈕和電壓調節旋鈕調整電路中的電流和電壓，直至電路中電流達到設定值，并記錄此時的電壓值；

步驟500、計算該納米鐵芯的磁通密度。

作為本發明一種優選的技術方案，在步驟300中，測試線等間距均勻的纏繞在被測納米鐵芯上，且將測試線兩端固定，并記錄測試線纏繞圈數為N。

作為本發明一種優選的技術方案，在步驟500中，磁通密度ΔB的計算公式為：

其中，U為測試電壓，T_on為導通時間，N為測試線圈數，B_s為被測納米鐵芯截面積。

作為本發明一種優選的技術方案，還提供了一種納米鐵芯飽和電壓快速測試裝置，包括納米鐵芯飽和電壓測試儀和測量線，所述測量線兩端通過連接端子分別與納米鐵芯飽和電壓測試儀的端口連接。

作為本發明一種優選的技術方案，所述納米鐵芯飽和電壓測試儀上設有分別用于調整電流和電壓的電流旋鈕和電壓旋鈕，且在電流旋鈕和電壓旋鈕上方分別設有用于顯示的電流顯示表和電壓顯示表。

與現有技術相比，本發明的有益效果是：本發明只需要將測試線纏繞在待測的納米鐵芯上，通過記錄或者測量測試電壓U，導通時間T_on，測試線圈數N，被測納米鐵芯截面積B_s就可以快速的獲得磁通密度，能夠根據不同的測試要求準確不同條件下的磁通密度，測試簡單、測試速度快，數據準確。

附圖說明

圖1為本發明的結構示意圖；

圖2為本發明測試流程示意圖；