[發明專利]一種納米鐵芯飽和電壓快速測試方法在審
| 申請號： | 201810097258.6 | 申請日： | 2018-01-31 |
| 公開（公告）號： | CN108333422A | 公開（公告）日： | 2018-07-27 |
| 發明（設計）人： | 蘭杰華;梁紅軍;李升銓;昌賽 | 申請（專利權）人： | 深圳市普樂華科技有限公司 |
| 主分類號： | G01R19/25 | 分類號： | G01R19/25 |
| 代理公司： | 北京輕創知識產權代理有限公司 11212 | 代理人： | 談杰 |
| 地址： | 518000 廣東省深圳市光*** | 國省代碼： | 廣東;44 |
| 權利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 納米鐵芯 飽和電壓 快速測試 磁通 測試線 測試儀 電壓調節旋鈕 測試 不同條件 測試電壓 測試頻率 測試線圈 測試要求 電流旋鈕 電源開關 調整電路 設備調試 通電檢測 校準系統 導通 記錄 纏繞 測量 電路 穿過 | ||
1.一種納米鐵芯飽和電壓快速測試方法，其特征在于，包括如下步驟：
步驟100、設備調試，對納米鐵芯飽和電壓測試儀通電檢測，并校準系統誤差；
步驟200、設定納米鐵芯飽和電壓測試儀測試頻率；
步驟300、將測試線穿過被測納米鐵芯；
步驟400、打開電源開關，并調節電流旋鈕和電壓調節旋鈕調整電路中的電流和電壓，直至電路中電流達到設定值，并記錄此時的電壓值；
步驟500、計算該納米鐵芯的磁通密度。
2.根據權利要求1所述的一種納米鐵芯飽和電壓快速測試方法，其特征在于，在步驟300中，測試線等間距均勻的纏繞在被測納米鐵芯上，且將測試線兩端固定，并記錄測試線纏繞圈數為N。
3.根據權利要求1所述的一種納米鐵芯飽和電壓快速測試方法，其特征在于，在步驟500中，磁通密度ΔB的計算公式為：
其中，U為測試電壓，Ton為導通時間，N為測試線圈數，Bs為被測納米鐵芯截面積。
4.根據權利要求1所述的一種納米鐵芯飽和電壓快速測試裝置，其特征在于，包括納米鐵芯飽和電壓測試儀(1)和測量線(2)，所述測量線(2)兩端通過連接端子分別與納米鐵芯飽和電壓測試儀(1)的端口連接。
5.根據權利要求4所述的一種納米鐵芯飽和電壓快速測試裝置，其特征在于，所述納米鐵芯飽和電壓測試儀(1)上設有分別用于調整電流和電壓的電流旋鈕(3)和電壓旋鈕(4)，且在電流旋鈕(3)和電壓旋鈕(4)上方分別設有用于顯示的電流顯示表(5)和電壓顯示表(6)。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息，商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于深圳市普樂華科技有限公司，未經深圳市普樂華科技有限公司許可，擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作，請聯系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/201810097258.6/1.html，轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇：高壓電纜過電壓測試裝置及其方法
- 下一篇：非侵入式居民電力負荷檢測方法
