[發明專利]取向膜的檢驗方法及系統

有效

• 申請號: 201810096100.7
• 申請日: 2018-01-31
• 公開（公告）號: CN107991798B
• 公開（公告）日: 2021-03-05
• 發明（設計）人: 郝延順;龐魯;辛利文;郭光耀
• 申請（專利權）人: 京東方科技集團股份有限公司;鄂爾多斯市源盛光電有限責任公司
• 主分類號: G02F1/13
• 分類號: G02F1/13;G02F1/1337
• 代理公司: 北京天昊聯合知識產權代理有限公司 11112
• 代理人: 汪源;陳源

本發明提供一種取向膜的檢驗方法及系統。該取向膜的檢驗方法包括：涂布單元在顯示母板上形成取向膜；檢驗單元獲取所述取向膜上不良結構的數量；檢驗單元根據所述不良結構的數量生成空閑基板的投入參考量；控制系統根據空閑基板的投入參考量確定出空閑基板的數量；控制系統根據空閑基板的數量向涂布單元投入相應數量的空閑基板；涂布單元在空閑基板上形成空閑膜層。本發明所提供的取向膜的檢驗方法及系統的技術方案，有效保證了后續顯示母板上的取向膜的印刷質量，從而保證了產品質量，提高了產品的良率。

技術領域

本發明涉及顯示技術領域，特別涉及一種取向膜的檢驗方法及系統。

背景技術

近年來，隨著移動應用型薄膜晶體管液晶顯示器(Thin Film Transistor-LiquidCrystal Display，簡稱：TFT-LCD)產品的廣泛使用，新型液晶面板產品不斷被開發出來，人們對液晶顯示面板的顯示品質要求也越來越高。薄膜晶體管液晶顯示器憑借其具有的高分辨率、高色彩飽和度、反應速度快及高開口率等優點成為新一代顯示器件，廣泛應用于手機等電子產品中。其中，在TFT-LCD的制程中，TFT-LCD主要通過將TFT陣列基板和彩膜基板(CF)對盒形成。

在TFT-LCD的制程中，若某張顯示母板存在的不良結構數量較多，在取向膜(polyimidefilm，簡稱：PI)涂布機(Coater)工藝中進行PI液涂覆時，部分不良結構會粘至轉印版(Asahikasei Photosensitive Resin Plate，簡稱：APR版)上，影響了后續的顯示母板的PI印刷質量，導致產品質量和良率的下降。

發明內容

本發明提供一種取向膜的檢驗方法及系統，用于有效保證產品質量和提高產品的良率。

為實現上述目的，本發明提供了一種取向膜的檢驗方法，該取向膜的檢驗方法包括：

涂布單元在顯示母板上形成取向膜；

檢驗單元獲取所述取向膜上不良結構的數量；

檢驗單元根據所述不良結構的數量生成空閑基板的投入參考量；

控制系統根據空閑基板的投入參考量確定出空閑基板的數量；

控制系統根據空閑基板的數量向所述涂布單元投入相應數量的空閑基板；

涂布單元在空閑基板上形成空閑膜層。

可選地，所述檢驗單元獲取所述取向膜上不良結構的數量包括：

檢驗單元對顯示母板進行拍照，獲得顯示母板圖像；

檢驗單元根據顯示母板圖像統計出所述取向膜上不良結構的數量。

可選地，所述檢驗單元根據所述不良結構的數量生成空閑基板的投入參考量包括：

所述檢驗單元對不良結構的數量和預設不良結構閾值的比值進行取整計算，生成空閑基板的投入參考量。

可選地，所述控制系統根據空閑基板的投入參考量確定出空閑基板的數量之前包括：

所述控制系統判斷所述空閑基板的投入參考量大于或等于0；

所述控制系統若判斷出所述空閑基板的投入參考量大于0時，執行所述控制系統根據空閑基板的投入參考量確定出空閑基板的數量的步驟。

可選地，所述控制系統根據空閑基板的投入參考量確定出空閑基板的數量包括：所述控制系統將所述空閑基板的投入參考量確定為空閑基板的數量。

為實現上述目的，本發明提供一種取向膜的檢驗系統，該取向膜的檢驗系統包括涂布單元、檢驗單元和控制系統；

所述涂布單元用于在顯示母板上形成取向膜；在空閑基板上形成空閑膜層；