[發明專利]取向膜的檢驗方法及系統

有效

• 申請號: 201810096100.7
• 申請日: 2018-01-31
• 公開（公告）號: CN107991798B
• 公開（公告）日: 2021-03-05
• 發明（設計）人: 郝延順;龐魯;辛利文;郭光耀
• 申請（專利權）人: 京東方科技集團股份有限公司;鄂爾多斯市源盛光電有限責任公司
• 主分類號: G02F1/13
• 分類號: G02F1/13;G02F1/1337
• 代理公司: 北京天昊聯合知識產權代理有限公司 11112
• 代理人: 汪源;陳源

1.一種取向膜的檢驗方法，其特征在于，包括：

涂布單元在顯示母板上形成取向膜；

檢驗單元獲取所述取向膜上不良結構的數量；

檢驗單元根據所述不良結構的數量生成空閑基板的投入參考量；

控制系統根據空閑基板的投入參考量確定出空閑基板的數量；

控制系統根據空閑基板的數量向所述涂布單元投入相應數量的空閑基板；

涂布單元在空閑基板上形成空閑膜層。

2.根據權利要求1所述的取向膜的檢驗方法，其特征在于，所述檢驗單元獲取所述取向膜上不良結構的數量包括：

檢驗單元對顯示母板進行拍照，獲得顯示母板圖像；

檢驗單元根據顯示母板圖像統計出所述取向膜上不良結構的數量。

3.根據權利要求1所述的取向膜的檢驗方法，其特征在于，所述檢驗單元根據所述不良結構的數量生成空閑基板的投入參考量包括：

所述檢驗單元對不良結構的數量和預設不良結構閾值的比值進行取整計算，生成空閑基板的投入參考量。

4.根據權利要求3所述的取向膜的檢驗方法，其特征在于，所述控制系統根據空閑基板的投入參考量確定出空閑基板的數量之前包括：

所述控制系統判斷所述空閑基板的投入參考量大于或等于0；

所述控制系統若判斷出所述空閑基板的投入參考量大于0時，執行所述控制系統根據空閑基板的投入參考量確定出空閑基板的數量的步驟。

5.根據權利要求1至4任一所述的取向膜的檢驗方法，其特征在于，所述控制系統根據空閑基板的投入參考量確定出空閑基板的數量包括：所述控制系統將所述空閑基板的投入參考量確定為空閑基板的數量。

6.一種取向膜的檢驗系統，其特征在于，包括涂布單元、檢驗單元和控制系統；

所述涂布單元用于在顯示母板上形成取向膜；在空閑基板上形成空閑膜層；

所述檢驗單元用于獲取所述取向膜上不良結構的數量；根據所述不良結構的數量生成空閑基板的投入參考量；

所述控制系統用于根據空閑基板的投入參考量確定出空閑基板的數量；根據空閑基板的數量向所述涂布單元投入相應數量的空閑基板。

7.根據權利要求6所述的取向膜的檢驗系統，其特征在于，

所述檢驗單元具體用于對顯示母板進行拍照，獲得顯示母板圖像；根據顯示母板圖像統計出所述取向膜上不良結構的數量。

8.根據權利要求6所述的取向膜的檢驗系統，其特征在于，

所述檢驗單元具體用于對不良結構的數量和預設不良結構閾值的比值進行取整計算，生成空閑基板的投入參考量。

9.根據權利要求8所述的取向膜的檢驗系統，其特征在于，

所述控制系統具體用于判斷所述空閑基板的投入參考量大于或等于0；若判斷出所述空閑基板的投入參考量大于0時，根據空閑基板的投入參考量確定出空閑基板的數量。

10.根據權利要求6至9任一所述的取向膜的檢驗系統，其特征在于，

所述控制系統具體用于將所述空閑基板的投入參考量確定為空閑基板的數量。

11.根據權利要求6至9任一所述的取向膜的檢驗系統，其特征在于，所述控制系統為計算機集成制造系統。