[發明專利]氧化石墨烯的還原程度的測試方法有效
| 申請號: | 201810091508.5 | 申請日: | 2018-01-30 |
| 公開(公告)號: | CN108398577B | 公開(公告)日: | 2020-12-11 |
| 發明(設計)人: | 申月;周園;海春喜;孫艷霞;曾金波;李翔;任秀峰 | 申請(專利權)人: | 中國科學院青海鹽湖研究所 |
| 主分類號: | G01Q60/00 | 分類號: | G01Q60/00 |
| 代理公司: | 深圳市銘粵知識產權代理有限公司 44304 | 代理人: | 孫偉峰;呂穎 |
| 地址: | 810008*** | 國省代碼: | 青海;63 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 氧化 石墨 還原 程度 測試 方法 | ||
1.一種氧化石墨烯的還原程度的測試方法,其特征在于,包括步驟:
S0-1、采用靜電力顯微鏡測定氧化石墨烯在不同針尖偏壓下的第一靜電力顯微鏡圖;
S0-2、以所述第一靜電力顯微鏡圖中所述氧化石墨烯的相位對針尖偏壓作圖,獲得第一相位-針尖偏壓曲線;
S1、采用靜電力顯微鏡測定還原態氧化石墨烯在不同針尖偏壓下的靜電力顯微鏡圖;
S2、以所述靜電力顯微鏡圖中所述還原態氧化石墨烯的相位對針尖偏壓作圖,獲得相位-針尖偏壓曲線;
S3、根據所述第一相位-針尖偏壓曲線和所述相位-針尖偏壓曲線確定所述還原態氧化石墨烯較氧化石墨烯的還原程度的大小;其中,所述第一相位-針尖偏壓曲線中相位存在峰值,所述相位-針尖偏壓曲線中相位存在谷值,在所述第一相位-針尖偏壓曲線和所述相位-針尖偏壓曲線中,相位的峰值或谷值對應的特定針尖偏壓的絕對值越小、和/或小于所述特定針尖偏壓的任一針尖偏壓下的相位的絕對值越大,則其對應的還原態氧化石墨烯較氧化石墨烯的還原程度越高。
2.根據權利要求1所述的測試方法,其特征在于,在所述步驟S1中,針尖偏壓的范圍為-12V~12V。
3.根據權利要求2所述的測試方法,其特征在于,在所述步驟S1中,針尖偏壓的間隔為1V。
4.根據權利要求1-3任一所述的測試方法,其特征在于,所述還原態氧化石墨烯通過對氧化石墨烯進行熱還原和/或化學還原獲得。
5.根據權利要求4所述的測試方法,其特征在于,所述化學還原為將所述氧化石墨烯置于飽和水合肼蒸汽中進行還原。
6.一種氧化石墨烯的還原程度的測試方法,其特征在于,包括步驟:
S1、采用靜電力顯微鏡測定至少兩種還原態氧化石墨烯在不同針尖偏壓下的靜電力顯微鏡圖;所述至少兩種還原態氧化石墨烯中每種還原態氧化石墨烯接受的還原方法不同;
S2、以所述靜電力顯微鏡圖中所述至少兩種還原態氧化石墨烯的相位對針尖偏壓分別作圖,獲得至少兩條相位-針尖偏壓曲線;
S3、根據所述相位-針尖偏壓曲線確定所述至少兩種還原態氧化石墨烯的還原程度的大小;其中,在所述相位-針尖偏壓曲線中,存在相位的谷值,相位的谷值對應的特定針尖偏壓的絕對值越小、和/或小于所述特定針尖偏壓的任一針尖偏壓下的相位的絕對值越大,則其對應的還原態氧化石墨烯的還原程度越高。
7.根據權利要求6所述的測試方法,其特征在于,在所述步驟S1中,針尖偏壓的范圍為-12V~12V。
8.根據權利要求7所述的測試方法,其特征在于,在所述步驟S1中,針尖偏壓的間隔為1V。
9.根據權利要求6-8任一所述的測試方法,其特征在于,所述還原態氧化石墨烯通過對氧化石墨烯進行熱還原和/或化學還原獲得。
10.根據權利要求9所述的測試方法,其特征在于,所述化學還原為將所述氧化石墨烯置于飽和水合肼蒸汽中進行還原。
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