[發(fā)明專利]石墨烯高分子復(fù)合材料中石墨烯分散性的掃描電子顯微鏡表征方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201810077364.8 | 申請(qǐng)日: | 2018-01-26 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN110082377A | 公開(kāi)(公告)日: | 2019-08-02 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 陳國(guó)新;劉艷;盧煥明;李勇;李明 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中國(guó)科學(xué)院寧波材料技術(shù)與工程研究所 |
| 主分類號(hào): | G01N23/2202 | 分類號(hào): | G01N23/2202;G01N23/2251 |
| 代理公司: | 北京鴻元知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11327 | 代理人: | 陳英俊 |
| 地址: | 315201 浙江*** | 國(guó)省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 石墨烯 高分子復(fù)合材料 分散性 斷口 復(fù)合材料 斷口面 樣品臺(tái) 掃描電子顯微鏡 掃描電鏡表征 超薄切片機(jī) 導(dǎo)電膠連接 掃描電鏡圖 導(dǎo)電膠粘 導(dǎo)電通道 推進(jìn)式 錐臺(tái)形 鉆石刀 清晰 朝上 底端 切片 修剪 測(cè)量 直觀 | ||
本發(fā)明提供了一種石墨烯高分子復(fù)合材料中石墨烯分散性的掃描電鏡表征方法。該方法首先將石墨烯高分子復(fù)合材料進(jìn)行修剪,使其沿長(zhǎng)度方向的一端呈錐臺(tái)形,并且其尖端面的徑向尺寸小于或者等于0.5mm,然后采用機(jī)械推進(jìn)式超薄切片機(jī),利用鉆石刀對(duì)該尖端進(jìn)行切片,得到復(fù)合材料斷口,最后將樣品的底端用導(dǎo)電膠粘著在SEM樣品臺(tái)上,斷口朝上,用導(dǎo)電膠連接樣品臺(tái)和斷口面,使斷口面與樣品臺(tái)之間形成導(dǎo)電通道進(jìn)行測(cè)量。利用該方法能夠得到復(fù)合材料斷口清晰的掃描電鏡圖,從而實(shí)現(xiàn)對(duì)石墨烯分散性的清晰直觀準(zhǔn)確的表征。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及掃描電鏡技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種石墨烯高分子復(fù)合材料中石墨烯的分散性的表征方法。
背景技術(shù)
石墨烯是碳原子以sp2雜化軌道組成六角型晶格的平面薄膜,其理論厚度僅為0.35nm,是目前發(fā)現(xiàn)的已知材料中最薄、強(qiáng)度最高的物質(zhì)。石墨烯具有獨(dú)特的結(jié)構(gòu)和優(yōu)異的物理化學(xué)性能。石墨烯具有非常好的熱傳導(dǎo)性能,單層石墨烯的導(dǎo)熱系數(shù)高達(dá)5300W/mK,是目前為止導(dǎo)熱系數(shù)最高的碳材料。石墨烯在室溫下的載流子遷移率約為15000cm2/(V·S),是硅材料的10倍。石墨烯是目前已知強(qiáng)度最高的材料之一,同時(shí)還具有很好的韌性,石墨烯的理論楊氏模量達(dá)1.0TPa,固有的拉伸強(qiáng)度為130GPa。
石墨烯/聚合物復(fù)合材料的制備成為當(dāng)前研究的熱點(diǎn)之一。與純的聚合物相比,石墨烯的加入可賦予復(fù)合材料不同的功能性,不但表現(xiàn)出優(yōu)異的力學(xué)和電學(xué)性能,且具有優(yōu)良的加工性能,為復(fù)合材料提供了更廣闊的應(yīng)用空間。例如純聚酰胺6(PA6)的熱導(dǎo)率為0.338W/(m·K),當(dāng)添加20%的石墨烯納米片時(shí),復(fù)合材料的熱導(dǎo)率達(dá)到4.11W/(m·K),提高了15倍以上。石墨烯具有極大的比表面積、優(yōu)異的導(dǎo)電性能,以及容易在聚合物基體中形成良好的導(dǎo)電網(wǎng)絡(luò)。當(dāng)聚合物基體中添加的石墨烯比例達(dá)到導(dǎo)電滲濾閥值后,將形成穩(wěn)定的導(dǎo)電網(wǎng)絡(luò),進(jìn)而可以迅速提升復(fù)合材料的電導(dǎo)率。研究表明氧化石墨烯/環(huán)氧樹(shù)脂復(fù)合材料的電導(dǎo)率最高可以提高6個(gè)數(shù)量級(jí)。
石墨烯/聚合物復(fù)合材料的導(dǎo)熱、導(dǎo)電等性能與石墨烯在聚合物中的分散狀態(tài)密切相關(guān)。掃描電子顯微鏡(SEM)是一種重要的表征石墨烯在聚合物中分散狀態(tài)的表征方法。為了得到清晰準(zhǔn)確的分析測(cè)試結(jié)果,就需要一個(gè)干凈、平整的斷口樣品。目前,一般采用液氮脆斷或研磨拋光的方式獲得斷口樣品。但是采用這個(gè)方式所獲得的斷口并不平整,以及斷裂形成的韌窩會(huì)影響測(cè)試效果,難以清晰準(zhǔn)確地判斷出石墨烯的位置。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明旨在提供一種石墨烯高分子復(fù)合材料中石墨烯分散性的掃描電子顯微鏡表征方法,利用該方法能夠得到復(fù)合材料斷口清晰的掃描電鏡照片,從而實(shí)現(xiàn)對(duì)石墨烯分散性的清晰直觀準(zhǔn)確的表征。
為了實(shí)現(xiàn)上述技術(shù)目的,首先需要制備出滿足掃描電子顯微鏡測(cè)試要求的斷口;其次,為了消除復(fù)合材料不導(dǎo)電產(chǎn)生的荷電,有研究采用在斷開(kāi)噴鍍導(dǎo)電薄膜,但是該方法對(duì)斷口形貌產(chǎn)生遮蓋,為此還需要在樣品端部和樣品之間構(gòu)筑導(dǎo)電通道。
構(gòu)筑導(dǎo)電通道,實(shí)現(xiàn)了掃描電鏡對(duì)斷口形貌的直接觀測(cè),避免了噴鍍導(dǎo)電薄膜對(duì)形貌的遮蓋;采用低加速電壓測(cè)試,可以有效較少荷電影響。
為此,本發(fā)明采用的技術(shù)方案為:一種高分子復(fù)合材料中石墨烯分散性的表征方法,包括如下步驟:
(一)復(fù)合材料掃描電鏡斷口樣品的制備:
(1)將石墨烯高分子復(fù)合材料修剪為長(zhǎng)條狀樣品,沿樣品長(zhǎng)度軸方向的一端呈錐臺(tái)形,并且其尖端面的徑向尺寸小于或者等于0.5mm;
(2)使用配置顯微鏡的機(jī)械推進(jìn)式超薄切片機(jī),將鉆石刀安裝到該超薄切片機(jī)上,將樣品推進(jìn)至鉆石刀口附近,在顯微鏡下,將樣品尖端移至鉆石刀口附近;
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G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N23-00 利用未包括在G01N 21/00或G01N 22/00組內(nèi)的波或粒子輻射來(lái)測(cè)試或分析材料,例如X射線、中子
G01N23-02 .通過(guò)使輻射透過(guò)材料
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G01N23-22 .通過(guò)測(cè)量二次發(fā)射
G01N23-221 ..利用活化分析法
G01N23-223 ..通過(guò)用X射線輻照樣品以及測(cè)量X射線熒光





