[發明專利]一種芯片卡座測試儀

在審

• 申請號: 201810072638.4
• 申請日: 2018-01-25
• 公開（公告）號: CN108226696A
• 公開（公告）日: 2018-06-29
• 發明（設計）人: 何兵
• 申請（專利權）人: 深圳市恒晨電器有限公司
• 主分類號: G01R31/02
• 分類號: G01R31/02
• 代理公司: 深圳市康弘知識產權代理有限公司 44247
• 代理人: 尹彥;胡朝陽

本發明公開了一種芯片卡座測試儀，其包括：底座（11）、安裝在底座上的測試電路、安裝在底座上的用以安放待測試芯片卡座（19）的定位槽（13）、設置在定位槽內的可連通待測試芯片卡座與測試電路的探針組（14）、安裝在定位槽上方的可上下往返移動的壓桿（1）、固定在壓桿底端的壓板（2）、通過導線（17）與測試電路連接的測試芯片卡（16），所述測試芯片卡可插入待測試芯片卡座內；本發明可以檢測SIM和TF卡座管腳之間有無短路、虛焊和開路，測試時只需觀察LED燈就可以判別是否為良品，具有通用性強、操作簡便、效率高、對操作人員素質要求不高的特點。

技術領域

本發明涉及電子產品測試設備，尤其涉及一種對芯片卡座進行測試的裝置。

背景技術

消費電子產品的ID發展越來越薄，在結構設計時有時就需要將SIM卡或TF卡不放在主板上，而單獨分開放置，就會有獨立的SIM卡和TF卡座。因分離出的SIM卡和TF卡座，在生產制造過程中會出現少量不良品，不良現象主要表現為焊腳短路或開路。這些不良品在生產過程中又沒有有效的檢測手段來保證品質，組裝成品后常常因SIM卡或TF卡座的問題導致功能缺陷，造成成品返工，從而產生極大浪費。

因此有必要提供一種能測試SIM卡和TF卡座的測試裝置，讓SIM卡和TF卡座在組裝前進行測試，保證產品組裝的品質，從而保證產品的直通率，提高生產效率。

發明內容

本發明是要解決現有技術的上述問題，提出一種芯片卡座測試儀。

為解決上述技術問題，本發明提出的技術方案是設計一種芯片卡座測試儀，其包括：底座、安裝在底座上的測試電路、安裝在底座上的用以安放待測試芯片卡座的定位槽、設置在定位槽內的可連通待測試芯片卡座與測試電路的探針組、安裝在定位槽上方的可上下往返移動的壓桿、固定在壓桿底端的壓板、通過導線與測試電路連接的測試芯片卡，所述測試芯片卡可插入待測試芯片卡座內。

所述待測試芯片卡座具有設置在卡座內部的可以觸接所述測試芯片卡的多個金屬彈片、以及伸出卡座外部可焊接在電路板上的多個PIN腳，所述金屬彈片與PIN腳一一對應連通，所述PIN腳與所述探針組可對應觸接。

所述測試電路具有直流電源模塊、選擇開關、第一LED燈組、第二LED燈組，所述選擇開關將直流電源模塊中的直流電源分成第一電源和第二電源并擇一送出，第一和第二電源通過所述導線和測試芯片卡連接到待測試芯片卡座上，第一和第二電源向相鄰的所述金屬彈片交錯供電，第一電源連接待測試芯片卡座中一半數量的金屬彈片和PIN腳以及第一LED燈組中的LED燈珠，形成多條回路；第二電源連接待測試芯片卡座中另一半數量的金屬彈片和PIN腳以及第二LED燈組中的LED燈珠，亦成多條回路。

所述直流電源模塊為USB電源插座。

所述待測試芯片卡座為SIM卡座、或TF卡座、或SIM與TF聯合卡座；所述測試芯片卡的外形結構采用SIM卡外形結構、和/或TF卡外形結構。

與現有技術相比，本發明可以檢測SIM和TF卡座管腳之間有無短路、虛焊和開路，測試時只需觀察LED燈就可以判別是否為良品，具有通用性強、操作簡便、效率高、對操作人員素質要求不高的特點。

附圖說明

圖1為測試儀結構示意圖；

圖2為測試儀電路連接示意圖；

圖3為測試電路的電路圖。

具體實施方式

為了使本發明的目的、技術方案及優點更加清楚明白，以下結合附圖及實施例，對本發明作進一步詳細說明。應當理解，此處所描述的具體實施例僅僅用于解釋本發明，并不用于限定本發明。