[發(fā)明專利]一種芯片卡座測(cè)試儀在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201810072638.4 | 申請(qǐng)日: | 2018-01-25 |
| 公開(公告)號(hào): | CN108226696A | 公開(公告)日: | 2018-06-29 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 何兵 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 深圳市恒晨電器有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R31/02 | 分類號(hào): | G01R31/02 |
| 代理公司: | 深圳市康弘知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 44247 | 代理人: | 尹彥;胡朝陽 |
| 地址: | 518000 廣東省深圳市南*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 卡座 待測(cè)試芯片 測(cè)試電路 定位槽 底座 測(cè)試芯片 測(cè)試儀 壓桿 芯片 人員素質(zhì)要求 通用性強(qiáng) 往返移動(dòng) 可插入 探針組 短路 管腳 良品 虛焊 壓板 開路 連通 測(cè)試 檢測(cè) 觀察 | ||
1.一種芯片卡座測(cè)試儀,其特征在于包括:底座(11)、安裝在底座上的測(cè)試電路、安裝在底座上的用以安放待測(cè)試芯片卡座(19)的定位槽(13)、設(shè)置在定位槽內(nèi)的可連通待測(cè)試芯片卡座與測(cè)試電路的探針組(14)、安裝在定位槽上方的可上下往返移動(dòng)的壓桿(1)、固定在壓桿底端的壓板(2)、通過導(dǎo)線(17)與測(cè)試電路連接的測(cè)試芯片卡(16),所述測(cè)試芯片卡可插入待測(cè)試芯片卡座內(nèi)。
2.如權(quán)利要求1所述的芯片卡座測(cè)試儀,其特征在于:所述待測(cè)試芯片卡座(19)具有設(shè)置在卡座內(nèi)部的可以觸接所述測(cè)試芯片卡(16)的多個(gè)金屬彈片、以及伸出卡座外部可焊接在電路板上的多個(gè)PIN腳,所述金屬彈片與PIN腳一一對(duì)應(yīng)連通,所述PIN腳與所述探針組(14)可對(duì)應(yīng)觸接。
3.如權(quán)利要求2所述的芯片卡座測(cè)試儀,其特征在于:所述測(cè)試電路具有直流電源模塊、選擇開關(guān)(15)、第一LED燈組、第二LED燈組,所述選擇開關(guān)將直流電源模塊中的直流電源分成第一電源(VCC1)和第二電源(VCC2)并擇一送出,第一和第二電源通過所述導(dǎo)線(17)和測(cè)試芯片卡(16)連接到待測(cè)試芯片卡座(19)上,第一和第二電源向相鄰的所述金屬彈片交錯(cuò)供電,第一電源連接待測(cè)試芯片卡座中一半數(shù)量的金屬彈片和PIN腳以及第一LED燈組中的LED燈珠,形成多條回路;第二電源連接待測(cè)試芯片卡座中另一半數(shù)量的金屬彈片和PIN腳以及第二LED燈組中的LED燈珠,亦成多條回路。
4.如權(quán)利要求3所述的芯片卡座測(cè)試儀,其特征在于:所述直流電源模塊為USB電源插座。
5.如權(quán)利要求1至4任一項(xiàng)所述的芯片卡座測(cè)試儀,其特征在于:所述待測(cè)試芯片卡座(19)為SIM卡座、或TF卡座、或SIM與TF聯(lián)合卡座;所述測(cè)試芯片卡(16)的外形結(jié)構(gòu)采用SIM卡外形結(jié)構(gòu)、和/或TF卡外形結(jié)構(gòu)。
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過端—不過端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
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G01R31-24 .放電管的測(cè)試
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