[發(fā)明專利]顯示面板的測試裝置及測試裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201810070165.4 | 申請日: | 2018-01-24 |
| 公開(公告)號: | CN108287257B | 公開(公告)日: | 2020-05-26 |
| 發(fā)明(設計)人: | 曹金虎 | 申請(專利權)人: | 京東方科技集團股份有限公司;北京京東方顯示技術有限公司 |
| 主分類號: | G01R1/073 | 分類號: | G01R1/073;G09G3/00 |
| 代理公司: | 北京三高永信知識產(chǎn)權代理有限責任公司 11138 | 代理人: | 滕一斌 |
| 地址: | 100015 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 顯示 面板 測試 裝置 | ||
本發(fā)明提供了一種顯示面板的測試裝置,屬于顯示技術領域。所述測試裝置包括:多個測試組件,每個測試組件包括:本體和至少一個測試模塊,每個測試模塊包括:測試探針、測試電極、保護探針、保護電極和告警單元,在每個測試模塊中:測試探針和保護探針均設置在本體上,且保護探針靠近本體的邊緣設置,測試探針和保護探針均凸出于本體,測試探針凸出于保護探針;測試電極和保護電極均設置在待測試顯示面板的周邊,且測試電極與顯示面板連接;當測試探針與測試電極接觸時,保護探針與保護電極相對;保護探針與告警單元的一端連接,告警單元用于在保護探針與保護電極接觸時進行告警。本發(fā)明解決了顯示面板易被劃傷的問題。本發(fā)明用于測試顯示面板。
技術領域
本發(fā)明涉及顯示技術領域,特別涉及一種顯示面板的測試裝置及測試裝置。
背景技術
顯示面板(英文:Panel)的應用非常廣泛,在制作顯示面板的過程中,通常需要使用測試裝置對顯示面板進行測試,測試裝置包括多個測試裝置。
測試裝置包括:本體,設置在本體上的測試探針,以及設置在顯示面板周邊的測試電極,且測試電極與顯示面板連接。工作人員在使用測試裝置對顯示面板進行測試時,可以將本體上的測試探針與測試電極接觸,并通過測試探針和測試電極向顯示面板加載測試信號,以使得顯示面板根據(jù)測試信號顯示相應的測試圖像。
由于測試探針的長度較小,因此在將本體上的測試探針與顯示面板周邊的測試電極接觸時,本體的邊緣容易因觸碰到顯示面板而造成顯示面板損傷。
發(fā)明內(nèi)容
本申請?zhí)峁┝艘环N顯示面板的測試裝置,可以解決相關技術中本體的邊緣容易因觸碰到顯示面板而造成顯示面板損傷的問題,所述技術方案如下:
一方面,提供一種顯示面板的測試裝置,所述測試裝置包括:多個測試組件,每個測試組件包括:本體和至少一個測試模塊,每個測試模塊包括:測試探針、測試電極、保護探針、保護電極和告警單元,在所述每個測試模塊中:
所述測試探針和所述保護探針均設置在所述本體上,且所述保護探針靠近所述本體的邊緣設置,所述測試探針和所述保護探針均凸出于所述本體,所述測試探針凸出于所述保護探針;
所述測試電極和所述保護電極均設置在待測試的顯示面板的周邊,且所述測試電極與所述顯示面板連接,所述測試電極中用于與所述測試探針接觸的表面位于預設平面,所述保護電極具有位于所述預設平面內(nèi)的表面,且所述測試電極和所述保護電極均位于所述預設平面的同側(cè);當所述測試探針與所述測試電極接觸時,所述保護探針與所述保護電極相對;
所述保護探針與所述告警單元的一端連接,所述告警單元用于在所述保護探針與所述保護電極接觸時進行告警。
可選的,在所述每個測試模塊中,所述告警單元的另一端加載有預設電壓,所述本體用于向所述保護電極加載與所述預設電壓不同的目標電壓。
可選的,在所述每個測試模塊中,所述告警單元為發(fā)光二極管,
所述發(fā)光二極管的正極所在端為所述告警單元的一端,所述發(fā)光二極管的負極所在端為所述告警單元的另一端;所述告警單元的另一端接地,且所述目標電壓大于所述發(fā)光二極管的開啟電壓。
可選的,所述多個測試組件包括:數(shù)據(jù)測試組件,在所述數(shù)據(jù)測試組件中的所述每個測試模塊中:
所述測試電極包括第一測試電極和第二測試電極,且所述第一測試電極與所述顯示面板中的數(shù)據(jù)信號線連接,所述第二測試電極與所述顯示面板中的公共電極線以及所述保護電極連接,所述測試探針包括第一測試探針和第二測試探針;
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