[發(fā)明專利]顯示面板的測(cè)試裝置及測(cè)試裝置

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201810070165.4
• 申請(qǐng)日: 2018-01-24
• 公開（公告）號(hào): CN108287257B
• 公開（公告）日: 2020-05-26
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 曹金虎
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 京東方科技集團(tuán)股份有限公司;北京京東方顯示技術(shù)有限公司
• 主分類號(hào): G01R1/073
• 分類號(hào): G01R1/073;G09G3/00
• 代理公司: 北京三高永信知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11138
• 代理人: 滕一斌

1.一種顯示面板的測(cè)試裝置，其特征在于，所述測(cè)試裝置包括：多個(gè)測(cè)試組件，每個(gè)測(cè)試組件包括：本體和至少一個(gè)測(cè)試模塊，每個(gè)測(cè)試模塊包括：測(cè)試探針、測(cè)試電極、保護(hù)探針、保護(hù)電極和告警單元，在所述每個(gè)測(cè)試模塊中：

所述測(cè)試探針和所述保護(hù)探針均設(shè)置在所述本體上，且所述保護(hù)探針靠近所述本體的邊緣，所述測(cè)試探針和所述保護(hù)探針均凸出于所述本體，所述測(cè)試探針凸出于所述保護(hù)探針；

所述測(cè)試電極和所述保護(hù)電極均設(shè)置在待測(cè)試的顯示面板的周邊，且所述測(cè)試電極與所述顯示面板連接，所述測(cè)試電極中用于與所述測(cè)試探針接觸的表面位于預(yù)設(shè)平面，所述保護(hù)電極具有位于所述預(yù)設(shè)平面內(nèi)的表面，且所述測(cè)試電極和所述保護(hù)電極均位于所述預(yù)設(shè)平面的同側(cè)；當(dāng)所述測(cè)試探針與所述測(cè)試電極接觸時(shí)，所述保護(hù)探針與所述保護(hù)電極相對(duì)；

所述保護(hù)探針與所述告警單元的一端連接，所述告警單元用于在所述保護(hù)探針與所述保護(hù)電極接觸時(shí)進(jìn)行告警。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的顯示面板的測(cè)試裝置，其特征在于，

在所述每個(gè)測(cè)試模塊中，所述告警單元的另一端加載有預(yù)設(shè)電壓，所述本體用于向所述保護(hù)電極加載與所述預(yù)設(shè)電壓不同的目標(biāo)電壓。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的顯示面板的測(cè)試裝置，其特征在于，在所述每個(gè)測(cè)試模塊中，所述告警單元為發(fā)光二極管，

所述發(fā)光二極管的正極所在端為所述告警單元的一端，所述發(fā)光二極管的負(fù)極所在端為所述告警單元的另一端；所述告警單元的另一端接地，且所述目標(biāo)電壓大于所述發(fā)光二極管的開啟電壓。

4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的顯示面板的測(cè)試裝置，其特征在于，所述多個(gè)測(cè)試組件包括：數(shù)據(jù)測(cè)試組件，在所述數(shù)據(jù)測(cè)試組件中的所述每個(gè)測(cè)試模塊中：

所述測(cè)試電極包括第一測(cè)試電極和第二測(cè)試電極，且所述第一測(cè)試電極與所述顯示面板中的數(shù)據(jù)信號(hào)線連接，所述第二測(cè)試電極與所述顯示面板中的公共電極線以及所述保護(hù)電極連接，所述測(cè)試探針包括第一測(cè)試探針和第二測(cè)試探針；

在所述測(cè)試探針與所述第一測(cè)試電極接觸時(shí)，所述第一測(cè)試探針與所述第一測(cè)試電極接觸，所述第二測(cè)試探針與所述第二測(cè)試電極接觸；所述本體用于在所述第一測(cè)試探針與所述第一測(cè)試電極接觸時(shí)，通過所述第一測(cè)試探針向所述第一測(cè)試電極加載數(shù)據(jù)電壓，以及在所述第二測(cè)試探針與所述第二測(cè)試電極接觸時(shí)，通過所述第二測(cè)試探針向所述第二測(cè)試電極加載所述目標(biāo)電壓。

5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的顯示面板的測(cè)試裝置，其特征在于，所述測(cè)試裝置還包括與所述顯示面板中的時(shí)鐘信號(hào)線連接的時(shí)序控制器，所述多個(gè)測(cè)試組件包括：驅(qū)動(dòng)測(cè)試組件，在所述驅(qū)動(dòng)測(cè)試組件中的所述每個(gè)測(cè)試模塊中：

所述測(cè)試電極與所述顯示面板中的驅(qū)動(dòng)電極線以及所述保護(hù)電極連接，所述本體用于在所述測(cè)試探針與所述測(cè)試電極接觸時(shí)，通過所述測(cè)試探針向所述測(cè)試電極加載所述目標(biāo)電壓。

6.根據(jù)權(quán)利要求4或5所述的顯示面板的測(cè)試裝置，其特征在于，

在所述每個(gè)測(cè)試模塊中，所述保護(hù)電極與其連接的測(cè)試電極通過導(dǎo)線連接，且所述保護(hù)電極、所述保護(hù)電極連接的測(cè)試電極以及所述導(dǎo)線均同層設(shè)置。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的顯示面板的測(cè)試裝置，其特征在于，

在所述每個(gè)測(cè)試模塊中，所述測(cè)試探針和所述保護(hù)探針均設(shè)置在所述本體上的設(shè)置平面，且所述測(cè)試探針和所述保護(hù)探針均垂直于所述設(shè)置平面。

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的顯示面板的測(cè)試裝置，其特征在于，

在所述每個(gè)測(cè)試模塊中，所述測(cè)試探針與所述保護(hù)探針的長(zhǎng)度差范圍為：50微米-1000微米。

9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的顯示面板的測(cè)試裝置，其特征在于，所述每個(gè)測(cè)試組件包括：本體和兩個(gè)所述測(cè)試模塊。

10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的顯示面板的測(cè)試裝置，其特征在于，在所述每個(gè)測(cè)試組件中，兩個(gè)所述測(cè)試模塊對(duì)稱設(shè)置在所述本體的兩側(cè)。