[發明專利]重新校準環形胞元電路

在審

• 申請號: 201810067650.6
• 申請日: 2018-01-24
• 公開（公告）號: CN109861686A
• 公開（公告）日: 2019-06-07
• 發明（設計）人: 蔡宗憲;張智賢;沈瑞濱;謝正祥
• 申請（專利權）人: 臺灣積體電路制造股份有限公司
• 主分類號: H03L7/099
• 分類號: H03L7/099
• 代理公司: 南京正聯知識產權代理有限公司 32243
• 代理人: 顧伯興

本發明公開了一種重新校準環形胞元電路。重新校準環形胞元電路包括：單端轉差分單元、或門、與門、P型金屬氧化物半導體晶體管及N型金屬氧化物半導體晶體管。單端轉差分單元具有配置用于接收重新校準信號的輸入、用于輸出第一差分輸出的第一輸出及用于輸出第二差分輸出的第二輸出。用于輸出的第一輸出是或門的第一輸入。用于輸出的第二輸出是與門的第一輸入。P型金屬氧化物半導體晶體管的柵極電連接到或門的輸出。N型金屬氧化物半導體晶體管的柵極電連接到與門的輸出。P型金屬氧化物半導體晶體管的漏極與N型金屬氧化物半導體晶體管的漏極相互電連接且還電連接到或門的第二輸入及與門的第二輸入。

技術領域

本發明的實施例是有關于一種重新校準環形胞元電路，且特別是有關于一種用于相頻鎖定的重新校準環形胞元電路。

背景技術

相頻檢測器(phase frequency detector，PFD)是對兩個輸入信號的相位進行比較的裝置。相頻檢測器包括用于分別接收兩個不同的輸入信號的兩個輸入，通常所述兩個不同的輸入信號中的一者來自壓控振蕩器(voltage-controlled oscillator，VCO)且另一者來自其他外部源。相頻檢測器具有兩個輸出，所述兩個輸出指示后續電路系統如何調整頻率來鎖定到參考信號的相位。為形成鎖相環路(phase-locked loop，PLL)，將相頻檢測器相位誤差輸出傳輸到環路濾波器，由環路濾波器對信號進行積分來使信號平滑。經過平滑的信號被傳輸到壓控振蕩器，壓控振蕩器產生頻率與輸入信號成比例的輸出信號。壓控振蕩器輸出也被傳輸回相頻檢測器以鎖定到參考信號的相位。

泵(pump)將相頻檢測器數字相位誤差轉換成模擬電荷。當鎖相環路以重新校準模式運行時，傳統跟蹤環路(即，信號路徑)的相頻檢測器及泵被禁用。因此，當鎖相環路經受溫度變化時，鎖相環路不能夠在重新校準模式中恢復目標頻率。為恢復目標頻率，啟用傳統跟蹤環路。當傳統環路與重新校準環路一同啟用時，兩個指令被同時注入到鎖相環路的環形振蕩器中從而形成環路沖突，環路沖突指的是當在電路中存在傳統跟蹤環路及重新校準環路時的情況。在傳統方式中，通過對重新校準的強度進行調整來控制所述沖突。重新校準通過以參考時鐘校準環形振蕩器的相位來改善鎖相環路的集成抖動(integratedjitter)。當鎖相環路以重新校準模式運行時，傳統跟蹤環路的相頻檢測器及泵被禁用以避免環路沖突。在這種情景中，當跟蹤環路被禁用且鎖相環路經受溫度變化時，無法在重新校準模式中恢復鎖相環路頻率。因此，當鎖相環路經受溫度變化時必須啟用傳統跟蹤環路來追蹤目標頻率。

發明內容

本發明提供一種重新校準環形胞元電路，包括單端轉差分單元，具有輸入、第一輸出及第二輸出，所述輸入被配置成接收重新校準信號，所述第一輸出用于輸出第一差分輸出，所述第二輸出用于輸出第二差分輸出?；蜷T，其中用于輸出的所述第一輸出是所述或門的第一輸入。與門，其中用于輸出的所述第二輸出是所述與門的第一輸入。第一P型金屬氧化物半導體晶體管，其中所述第一P型金屬氧化物半導體晶體管的柵極電連接到所述或門的輸出。以及第一N型金屬氧化物半導體晶體管，其中所述第一N型金屬氧化物半導體晶體管的柵極電連接到所述與門的輸出，其中所述第一P型金屬氧化物半導體晶體管的漏極與所述第一N型金屬氧化物半導體晶體管的漏極相互電連接且還電連接到所述或門的第二輸入及所述與門的第二輸入。

附圖說明

結合附圖閱讀以下詳細說明，會最好地理解本公開的各個方面。應注意，根據本行業中的標準慣例，各種特征并非按比例繪制。事實上，為論述清晰起見，可任意增大或減小各種特征的尺寸。

圖1是根據本發明一些實施例所示出的全范圍重新校準環形振蕩器的示意圖；

圖2是根據本發明一些實施例所示出的脈沖產生器的示意圖；

圖3是根據本發明另一些實施例所示出的脈沖產生器以及與所述脈沖產生器對應的信號時序圖的示意圖；

圖4是根據本發明一些實施例所示出的全范圍重新校準環形胞元的示意圖。