[發明專利]一種用于厚膜線路板印刷質量檢測的檢測系統及檢測方法

在審

• 申請號: 201810065042.1
• 申請日: 2018-01-23
• 公開（公告）號: CN108273760A
• 公開（公告）日: 2018-07-13
• 發明（設計）人: 鄭民章;駱志雄
• 申請（專利權）人: 上海讀家電子科技有限公司
• 主分類號: B07C5/34
• 分類號: B07C5/34;B07C5/02;B07C5/36;B25J9/02;B25J9/12;B25J15/06
• 代理公司: 北京知呱呱知識產權代理有限公司 11577
• 代理人: 李芙蓉;馮建基

本發明涉及一種用于厚膜線路板印刷質量檢測的檢測系統及檢測方法，該檢測系統包括底板、架體、背光運行機構、照相機、真空吸盤機械手和主控設備，真空吸盤機械手包括第一驅動機構、第二驅動機構和抓取裝置，第一驅動機構與架體連接，照相機設置于架體上部，第一驅動機構與第二驅動機構連接，抓取裝置包括真空吸盤、第一傳感器、真空管和吸盤支架，真空吸盤固定安裝于真空管的一端，真空管可活動地與吸盤支架連接，吸盤支架與第二驅動機構連接，第一傳感器設置于吸盤支架上；主控設備分別與背光運行機構、照相機、第一驅動機構、第二驅動機構、第一傳感器電連接。本發明的檢測系統具有生產效率高和檢測合格率高的優點。

技術領域

本發明涉及檢測設備技術領域，具體涉及一種用于厚膜線路板印刷質量檢測的檢測系統及檢測方法。

背景技術

隨著微電子技術的進步，微加工工藝的特征線寬已達亞微米級，一塊基板上可以集成106～109個以上元件，電路工作的速度越來越快、頻率越來越高，這對基板材料的性能提出了更高的要求。作為混合集成電路(HIC)和多芯片組件(MCM)的關鍵材料之一，陶瓷基板占其總成本的60％左右。陶瓷基片發展的總方向是低介電常數、高熱導率和低成本化。

陶瓷基片，又稱陶瓷基板，是以電子陶瓷為基底，對膜電路元件及外貼切元件形成一個支撐底座的片狀材料。陶瓷基片已經廣泛應用于汽車電路、儀器儀表、電源調節器、電位器式扭矩傳感器等。作為一個電子部件，它是在三氧化二鋁陶瓷基板或FR4等PCB板上，通過厚膜混合集成電路經過絲網印刷、攤平、燒制等生產工藝技術，在基板表面形成良好表面接觸電阻、高耐磨壽命的電路圖形。陶瓷基板性能的好壞直接決定著整個電器系統的質量和使用壽命。

現有的陶瓷基片檢測技術都是通過人工拿取陶瓷基片，再使用高倍顯微鏡或放大鏡進行檢測，在檢測過程中，通過人工在高倍顯微鏡或放大鏡下來回移動陶瓷基片進行觀察，由于每個人的技能存在差異，致使檢測的效率低和產品的合格率差異較大，人工檢測的效率低，而且人眼長期觀測高倍顯微鏡，容易出現視覺疲勞，造成誤檢，導致不必要的損失。

發明內容

本發明的目的在于提供一種用于厚膜線路板印刷質量檢測的檢測系統及檢測方法，用以解決現有檢測技術中人工檢測效率低和產品的合格率低的問題。

為實現上述目的，本發明提供一種用于厚膜線路板印刷質量檢測的檢測系統，所述用于厚膜線路板印刷質量檢測的檢測系統包括底板、架體、背光運行機構、照相機、真空吸盤機械手和主控設備，所述架體、背光運動機構均設置于所述底板的上表面，所述真空吸盤機械手包括第一驅動機構、第二驅動機構和抓取裝置，所述第一驅動機構與所述架體連接，所述照相機設置于所述架體上部且位于所述背光運行機構的上方，所述第一驅動機構與所述第二驅動機構連接，所述抓取裝置包括真空吸盤、第一傳感器、真空管和吸盤支架，所述真空吸盤固定安裝于所述真空管的一端，并與所述真空管連通，所述真空管可活動地與所述吸盤支架連接，所述吸盤支架與所述第二驅動機構連接，所述第一傳感器設置于所述吸盤支架上，用于感應陶瓷基片與所述吸盤支架之間的距離；所述主控設備分別與背光運行機構、照相機、第一驅動機構、第二驅動機構、第一傳感器電連接。

優選的，所述第一驅動機構和所述第二驅動機構分別為第一絲桿步進電機和第二絲桿步進電機，所述第一絲桿步進電機的滑塊與所述第二絲桿步進電機連接，所述第二絲桿步進電機的滑塊與所述吸盤支架連接。

優選的，所述吸盤支架上設置有固定套管，所述真空管可活動地穿設于所述固定套管中。

優選的，所述第一傳感器為電感式接近開關，所述真空管的另一端設置有第一感應塊。

優選的，所述第二絲桿步進電機上設置有與所述主控設備電連接的第二傳感器，所述第二傳感器為電感式接近開關，所述第二絲桿步進電機的滑塊上設置有第二感應塊。