[發明專利]一種用于厚膜線路板印刷質量檢測的檢測系統及檢測方法在審
| 申請號: | 201810065042.1 | 申請日: | 2018-01-23 |
| 公開(公告)號: | CN108273760A | 公開(公告)日: | 2018-07-13 |
| 發明(設計)人: | 鄭民章;駱志雄 | 申請(專利權)人: | 上海讀家電子科技有限公司 |
| 主分類號: | B07C5/34 | 分類號: | B07C5/34;B07C5/02;B07C5/36;B25J9/02;B25J9/12;B25J15/06 |
| 代理公司: | 北京知呱呱知識產權代理有限公司 11577 | 代理人: | 李芙蓉;馮建基 |
| 地址: | 200072 上海市*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 第一驅動機構 檢測系統 驅動機構 吸盤支架 真空吸盤 真空管 第一傳感器 背光 線路板印刷 運行機構 質量檢測 主控設備 抓取裝置 機械手 厚膜 照相機 檢測 底板 照相機設置 架體連接 架體上部 生產效率 電連接 可活動 架體 合格率 | ||
1.一種用于厚膜線路板印刷質量檢測的檢測系統,所述用于厚膜線路板印刷質量檢測的檢測系統包括底板、架體、背光運行機構、照相機、真空吸盤機械手和主控設備,其特征在于,所述架體、背光運動機構均設置于所述底板的上表面,所述真空吸盤機械手包括第一驅動機構、第二驅動機構和抓取裝置,所述第一驅動機構與所述架體連接,所述照相機設置于所述架體上部且位于所述背光運行機構的上方,所述第一驅動機構與所述第二驅動機構連接,所述抓取裝置包括真空吸盤、第一傳感器、真空管和吸盤支架,所述真空吸盤固定安裝于所述真空管的一端,并與所述真空管連通,所述真空管可活動地與所述吸盤支架連接,所述吸盤支架與所述第二驅動機構連接,所述第一傳感器設置于所述吸盤支架上,用于感應陶瓷基片與所述吸盤支架之間的距離;所述主控設備分別與背光運行機構、照相機、第一驅動機構、第二驅動機構、第一傳感器電連接。
2.根據權利要求1所述的用于厚膜線路板印刷質量檢測的檢測系統,其特征在于,所述第一驅動機構和所述第二驅動機構分別為第一絲桿步進電機和第二絲桿步進電機,所述第一絲桿步進電機的滑塊與所述第二絲桿步進電機連接,所述第二絲桿步進電機的滑塊與所述吸盤支架連接。
3.根據權利要求2所述的用于厚膜線路板印刷質量檢測的檢測系統,其特征在于,所述吸盤支架上設置有固定套管,所述真空管可活動地穿設于所述固定套管中。
4.根據權利要求2所述的用于厚膜線路板印刷質量檢測的檢測系統,其特征在于,所述第一傳感器為電感式接近開關,所述真空管的另一端設置有第一感應塊。
5.根據權利要求2所述的用于厚膜線路板印刷質量檢測的檢測系統,其特征在于,所述第二絲桿步進電機上設置有與所述主控設備電連接的第二傳感器,所述第二傳感器為電感式接近開關,所述第二絲桿步進電機的滑塊上設置有第二感應塊。
6.根據權利要求1所述的用于厚膜線路板印刷質量檢測的檢測系統,其特征在于,所述背光運行機構包括第三驅動機構、第四驅動機構和檢測平臺,所述第三驅動機構設置于所述底板的上表面,所述第三驅動機構與所述第四驅動機構連接,所述主控設備分別與第三驅動機構、第四驅動機構電連接,所述第三驅動機構驅動所述第四驅動機構沿方向X運動,所述檢測平臺包括殼體、半透明導光板和光源,所述殼體上部設置有透光窗,所述殼體的底部與所述第四驅動機構連接,所述第四驅動機構驅動所述檢測平臺沿方向Y運動,所述光源安裝于所述殼體的內部,所述半透明導光板安裝于所述殼體的內部或外部并將所述透光窗全部覆蓋。
7.根據權利要求6所述的用于厚膜線路板印刷質量檢測的檢測系統,其特征在于,所述第三驅動機構和第四驅動機構分別為第三絲桿步進電機和第四絲桿步進電機,所述第三絲桿步進電機沿方向X設置,所述第四絲桿步進電機沿方向Y設置,所述第三絲桿步進電機的滑塊與所述第四絲桿步進電機連接,所述第四絲桿步進電機的滑塊與所述殼體的底部連接。
8.根據權利要求6所述的用于厚膜線路板印刷質量檢測的檢測系統,其特征在于,所述底板的上表面還設置有陶瓷基片收納盒,所述陶瓷基片收納盒內部設置有合格產品料盒、次品料盒和待檢測物料盒。
9.根據權利要求6所述的用于厚膜線路板印刷質量檢測的檢測系統,其特征在于,所述半透明導光板的材質為亞克力。
10.一種用于陶瓷基片厚膜線路板印刷質量檢測的檢測方法,其特征在于,所述用于陶瓷基片厚膜線路板印刷質量檢測的檢測方法包括以下步驟:
步驟a,所述真空吸盤機械手將待檢測物料盒中的陶瓷基片放入所述殼體的上部,所述光源對陶瓷基片進行打光,使陶瓷基片的輪廓和線路清晰;
步驟b,所述照相機獲取陶瓷基片的圖像信息,并將其轉化成數字信號發送至相機控制模塊;
步驟c,相機控制模塊提取目標特征信息,并將目標特征信息與預先設定好的標準特征信息進行比對;若目標特征信息與標準特征信息之間的差異小于預設閥值,則所述主控設備控制所述真空吸盤機械手將陶瓷基片放入所述合格產品料盒中;若目標特征信息與標準特征信息之間的差異大于預設閥值,則將陶瓷基片放入次品料盒中。
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