[發明專利]一種減少彩虹現象發生的LCD生產工藝方法

有效

• 申請號: 201810057481.8
• 申請日: 2018-01-22
• 公開（公告）號: CN108267881B
• 公開（公告）日: 2021-07-23
• 發明（設計）人: 王浩;王艷卿
• 申請（專利權）人: 精電（河源）顯示技術有限公司
• 主分類號: G02F1/1333
• 分類號: G02F1/1333;G02F1/1339;G02F1/13
• 代理公司: 廣州科沃園專利代理有限公司 44416
• 代理人: 徐翔

本發明涉及一種減少彩虹現象發生的LCD生產工藝方法，所述LCD工藝方法包括投料階段、PR前清洗階段、涂膠階段、曝光階段、顯影/豎膜階段、酸刻階段、脫模階段、移印前清洗階段、PI移印階段、PI固化階段、摩擦清洗階段、導電點/邊框加印階段、貼合階段及熱壓階段，其特征在于：所述涂膠階段中，測量膠水的寬度W和高度D，計算出膠水的橫截面積S，測量膠水橫截面積S后，根據膠水寬度監測模型V＝SW，通過膠水的注入量V對涂膠寬度W進行監測。本發明通過對現有生產工藝的改進，建立涂膠模型，對膠水的寬度進行監控，減少LCD彩虹現象的發生。

技術領域

本發明涉及一種減少彩虹現象發生的LCD生產工藝方法，涉及顯示器制造技術。

背景技術

薄膜晶體管液晶顯示器(TFT-LCD)是在20世紀80年代首先由日本廠商進行大規模生產的新型平板顯示器件，以其功耗低、輻射弱、壽命長、體積小、重量輕和全彩化等諸多優點，逐漸取代傳統顯示器成為主流的顯示設備，被廣泛應用于筆記本電腦、監視器、手機、電視等設備上。

LCD的構造是在兩片平行的玻璃基板當中放置液晶盒，下基板玻璃上設置TFT(薄膜晶體管)，上基板玻璃上設置彩色濾光片，通過TFT上的信號與電壓改變來控制液晶分子的轉動方向，從而達到控制每個像素點偏振光出射與否而達到顯示目的。由于其制造工藝復雜,在制造過程中會出現各種顯示缺陷如：點缺陷、線缺陷、MURA缺陷等，顯示缺陷嚴重影響產品的總體良率和生產效率,其中彩虹現象是液晶顯示器的致命缺陷，表現為封口彩虹、邊框彩虹及底色偏差。邊框彩虹又表現為整體邊框彩虹、點狀邊框彩虹及單片邊框彩虹，經過調查分析發現，膠水的均勻性是LCD邊框彩虹產生的主要原因，因此需要對現有的LCD生產工藝進行改進。

發明內容

本發明針對現有技術存在的不足，提供一種減少彩虹現象發生的LCD生產工藝方法，通過對現有生產工藝的改進，建立涂膠模型，對膠水的寬度進行監控，減少LCD彩虹現象的發生。

本發明解決上述技術問題的技術方案如下：一種減少彩虹現象發生的LCD生產工藝方法，所述LCD工藝方法包括投料階段、PR前清洗階段、涂膠階段、曝光階段、顯影/豎膜階段、酸刻階段、脫模階段、移印前清洗階段、PI移印階段、PI固化階段、摩擦清洗階段、導電點/邊框加印階段、貼合階段及熱壓階段，所述涂膠階段中，測量膠水的寬度W和高度D，計算出膠水的橫截面積S，測量膠水橫截面積S后，根據膠水寬度監測模型V＝SW，通過膠水的注入量V對涂膠寬度W進行監測。

如上所述的一種減少彩虹現象發生的LCD生產工藝方法，所述導電點/邊框加印階段采用邊框平均粒子徑為5.74μm。

如上所述的一種減少彩虹現象發生的LCD生產工藝方法，所述膠水的寬度W和高度D通過膠高測量儀測量，采用光學3D表面輪廓干涉儀監測膠水的寬度W。

如上所述的一種減少彩虹現象發生的LCD生產工藝方法，所述PI移印階段、貼合階段環境質量達到100級。

如上所述的一種減少彩虹現象發生的LCD生產工藝方法，所述曝光階段在涂抹好光刻膠的玻璃表面覆蓋掩膜版，利用平行紫外光進行選擇性照射，使光照部位的光刻膠發生化學反應。

如上所述的一種減少彩虹現象發生的LCD生產工藝方法，所述顯影/豎膜階段采用NaOH溶液噴淋曝光玻璃表面，溶解掉曝光后的光刻膠，通過純水進行清洗，再通過熱板豎膜使顯影后的光刻膠圖案粘附在ITO玻璃上。

如上所述的一種減少彩虹現象發生的LCD生產工藝方法，所述酸刻階段采用酸刻液對暴露的ITO導電層進行噴淋腐蝕，保留光刻膠覆蓋的ITO；所述酸刻液體積配比為DIW：HCL：HNO3＝1:1:0.085。

如上所述的一種減少彩虹現象發生的LCD生產工藝方法，LCD生產工藝方法中，環境溫度為22-25℃之間，濕度在50％～60％之間。