[發(fā)明專利]晶圓運(yùn)輸載具以及晶圓盒檢測方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201810053920.8 | 申請日: | 2018-01-19 |
| 公開(公告)號(hào): | CN110060939B | 公開(公告)日: | 2021-12-21 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 詹翔安;李忠憲;蕭鳳儒 | 申請(專利權(quán))人: | 臺(tái)灣積體電路制造股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L21/67 | 分類號(hào): | H01L21/67;H01L21/677 |
| 代理公司: | 隆天知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 72003 | 代理人: | 李昕巍;章侃銥 |
| 地址: | 中國臺(tái)*** | 國省代碼: | 臺(tái)灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 運(yùn)輸 以及 晶圓盒 檢測 方法 | ||
1.一種晶圓運(yùn)輸載具,包括:
一乘載裝置,具有一容置空間以及與該容置空間連接的一檢測區(qū)域;
一懸吊裝置,設(shè)置于該容置空間內(nèi),且被配置用以將一晶圓盒移動(dòng)至該容置空間內(nèi);以及
一檢測裝置,設(shè)置于該乘載裝置上,且被配置以檢測該晶圓盒的一門板的位置,以于該門板位于該檢測區(qū)域內(nèi)時(shí),發(fā)出一警告信號(hào),
其中,該檢測裝置包括:
一止擋片,位于該檢測區(qū)域內(nèi);
一滑塊,可移動(dòng)地設(shè)置于該乘載裝置的一滑槽的一側(cè),且連接于該止擋片;以及
一檢測組件,設(shè)置于該滑槽的另一側(cè);
其中當(dāng)該止擋片被該門板推移,而使得連接該止擋片的該滑塊沿著該滑槽朝該檢測組件移動(dòng)時(shí),該檢測裝置發(fā)出警告信號(hào)。
2.如權(quán)利要求1所述的晶圓運(yùn)輸載具,其中該檢測組件可為一接觸式開關(guān)或一非接觸式開關(guān)。
3.如權(quán)利要求1所述的晶圓運(yùn)輸載具,其中當(dāng)該門板接觸該止擋片的朝向該容置空間的一接觸面時(shí),該檢測裝置發(fā)出該警告信號(hào)。
4.如權(quán)利要求1所述的晶圓運(yùn)輸載具,其中該止擋片樞接于該滑塊,該止擋片包括一第一導(dǎo)電片,且該滑塊包括與該第一導(dǎo)電片分離的一第二導(dǎo)電片,其中該檢測裝置被配置以當(dāng)該門板抵靠該止擋片并使該止擋片相對于該滑塊旋轉(zhuǎn)后,該第一導(dǎo)電片電性連接該第二導(dǎo)電片時(shí),發(fā)出該警告信號(hào)。
5.一種晶圓盒檢測方法,包括:
通過一懸吊裝置將一晶圓盒從一半導(dǎo)體設(shè)備吊起,并朝向一乘載裝置的一容置空間內(nèi)移動(dòng);以及
于該懸吊裝置移動(dòng)該晶圓盒的過程中,當(dāng)該晶圓盒的一門板位于連接于該容置空間的一檢測區(qū)域內(nèi)時(shí),且位于該檢測區(qū)域內(nèi)之一止擋片被該門板推移,并且使得連接該止擋片的一滑塊沿著一滑槽朝一檢測組件移動(dòng)時(shí),一檢測裝置發(fā)出一警告信號(hào)。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造
- 接收裝置以及接收方法、以及程序
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