[發(fā)明專利]一種電波測(cè)試暗室裝置

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201810053008.2
• 申請(qǐng)日: 2018-01-19
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN108303603A
• 公開(kāi)（公告）日: 2018-07-20
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 胡呈祥
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 廣東柏茲電子科技有限公司
• 主分類號(hào): G01R29/10
• 分類號(hào): G01R29/10;G01R29/08
• 代理公司: 上海伯瑞杰知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 31227
• 代理人: 吳澤群

本發(fā)明公開(kāi)了一種電波測(cè)試暗室裝置，其包括：待測(cè)試品，固定在待測(cè)試品托盤上；暗室主體，包括殼體和底座，所述殼體上設(shè)有進(jìn)出料口，所述底座上設(shè)有自動(dòng)送料傳動(dòng)機(jī)構(gòu)，上下料系統(tǒng)，包括升降機(jī)構(gòu)組件和低阻力進(jìn)出料臺(tái)，掃描架系統(tǒng)，包括立柱、多向調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)、測(cè)距儀和信號(hào)接收單元，所述立柱固定在所述底座的四周邊角處，所述多向調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)設(shè)置在所述立柱的頂部，所述多向調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)分別與所述測(cè)距儀和信號(hào)接收單元相連接，當(dāng)所述上下料系統(tǒng)處于待測(cè)試位置處時(shí)，所述測(cè)距儀和信號(hào)接收單元與待測(cè)試品的位置相對(duì)應(yīng)。本發(fā)明的內(nèi)部部件集成度高、結(jié)構(gòu)緊湊、空間占用率低，且操作簡(jiǎn)單方便，自動(dòng)化程度高。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及天線檢測(cè)裝置技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種電波測(cè)試暗室裝置。

背景技術(shù)

當(dāng)今社會(huì)是信息技術(shù)社會(huì)，隨處可見(jiàn)的各類智能化信息化設(shè)備，給人們的生活和工作帶來(lái)了極大的便利，小到智能手機(jī)、車載雷達(dá)、智能家居，大到工廠智能化設(shè)備、航空航天通訊、軍事裝備用途，都離不開(kāi)無(wú)線電通信。而實(shí)現(xiàn)無(wú)線電通信的關(guān)鍵部件就是各種型號(hào)規(guī)格的天線。隨著社會(huì)信息化的不斷進(jìn)步，要求各種通信設(shè)備能夠?qū)崿F(xiàn)小型化、微型化、高速化、寬帶化，以滿足各種數(shù)據(jù)信息的大容量高速傳輸。因而就對(duì)天線設(shè)計(jì)開(kāi)發(fā)提出了越來(lái)越高的要求，在開(kāi)發(fā)過(guò)程中需要對(duì)天線及設(shè)備整機(jī)進(jìn)行各種測(cè)試，才能保證其性能指標(biāo)；整個(gè)測(cè)試過(guò)程需要在一種特殊的屏蔽暗室中進(jìn)行，這種暗室除了需要具備良好的電磁屏蔽功能之外還要具備較高的自動(dòng)化水平和超高的機(jī)械運(yùn)動(dòng)精度，以滿足海量的測(cè)試任務(wù)需求，尤其是工業(yè)化流水生產(chǎn)線實(shí)時(shí)在線檢測(cè)要求，對(duì)自動(dòng)在線檢測(cè)設(shè)備的要求更高。同樣，在芯片研究、材料測(cè)試、半導(dǎo)體研究方面也要廣泛用到此類高標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試暗室。

現(xiàn)有技術(shù)中，研發(fā)和生產(chǎn)過(guò)程中的測(cè)試品的種類多種多樣，比如：通信基站天線、手機(jī)等移動(dòng)終端天線、大型天線的組件、材料測(cè)試品、半導(dǎo)體、芯片、集成電路等等，外觀尺寸大小和性能指標(biāo)要求都不一樣；因此對(duì)測(cè)試暗室的需求就不一樣。測(cè)試暗室作為一種具有屏蔽功能的檢測(cè)儀器，其性能指標(biāo)的優(yōu)劣，對(duì)產(chǎn)品的研發(fā)和生產(chǎn)起著至關(guān)重要的作用，只有尖端的檢測(cè)儀器才能幫助我們研發(fā)出尖端的產(chǎn)品。理想的測(cè)試暗室需要包括以下幾個(gè)部分：①暗室屏蔽主體：其屏蔽性能應(yīng)符合測(cè)試要求，同時(shí)又要最大限度的減少占用空間；②精密安裝底座：暗室內(nèi)左右精密儀器設(shè)備都需要直接或者間接的安裝固定在安裝底座上，因此底座的精密度是設(shè)備整體性能保障的基礎(chǔ)；③自動(dòng)上下料臺(tái)：要求其具備早X-Y-Z三個(gè)維度進(jìn)行自動(dòng)升降、自動(dòng)平移的功能，便于天線進(jìn)出暗室和自動(dòng)完成不同高度平層的測(cè)試要求；同時(shí)還要求能夠滿足與生產(chǎn)流水線拼裝、實(shí)現(xiàn)自動(dòng)在線檢測(cè)的改裝要求；④自動(dòng)掃描架：天線測(cè)試過(guò)程中，需要通過(guò)掃描機(jī)構(gòu)上的探頭對(duì)天線的電磁波進(jìn)行收發(fā)信號(hào)采集，并反饋給后臺(tái)測(cè)試系統(tǒng)軟件進(jìn)行分析；掃描架的精度要求很高，一個(gè)是平面度要高(每平方米面積≤0.03mm)、第二是位移精準(zhǔn)(≤0.03mm)、第三是控制響應(yīng)速度要快(≤3ms)。

目前儀器市場(chǎng)上設(shè)計(jì)的測(cè)試暗室也大體具有以上幾個(gè)組成部分，但因涉及不同的專業(yè)，所以都是各自獨(dú)立設(shè)計(jì)，由不同的生產(chǎn)廠商負(fù)責(zé)加工，然后由用戶進(jìn)行現(xiàn)場(chǎng)拼裝的，這樣會(huì)存在以下缺陷：①統(tǒng)籌規(guī)劃設(shè)計(jì)水平比較低，機(jī)械結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)難以統(tǒng)一標(biāo)準(zhǔn)，兼容配套難以優(yōu)化，組裝后影響整機(jī)性能；②不易達(dá)成小型化設(shè)計(jì)目標(biāo)，占用空間較大，不利于實(shí)驗(yàn)室和流水線上使用；③自動(dòng)化水平比較低，尤其是上下料需要人工抬放，效率低下又不安全；④組裝調(diào)試復(fù)雜，耗時(shí)較長(zhǎng)，效率低；且涉及多個(gè)供應(yīng)商，出現(xiàn)質(zhì)量問(wèn)題，責(zé)任也難以劃分；⑤穩(wěn)定性較差，使用一段時(shí)間之后需要重新調(diào)試糾偏；⑥目前同類設(shè)備多以滿足實(shí)驗(yàn)室研發(fā)使用，無(wú)法滿足流水線在線檢測(cè)使用；⑦出現(xiàn)質(zhì)量問(wèn)題，難以判定問(wèn)題根源，造成追責(zé)困難；⑧售后維護(hù)不便，同一臺(tái)設(shè)備不同的部件壞了需要找不同的供應(yīng)商。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明主要是解決現(xiàn)有技術(shù)中所存在的技術(shù)問(wèn)題，從而提供一種結(jié)構(gòu)緊湊、空間占用率小、自動(dòng)化程度高、可以匹配流水生產(chǎn)線作業(yè)的且使用簡(jiǎn)單方便的電波測(cè)試暗室裝置。

本發(fā)明的上述技術(shù)問(wèn)題主要是通過(guò)下述技術(shù)方案得以解決的：

本發(fā)明提供的電波測(cè)試暗室裝置，其包括：