[發明專利]一種電波測試暗室裝置

在審

• 申請號: 201810053008.2
• 申請日: 2018-01-19
• 公開（公告）號: CN108303603A
• 公開（公告）日: 2018-07-20
• 發明（設計）人: 胡呈祥
• 申請（專利權）人: 廣東柏茲電子科技有限公司
• 主分類號: G01R29/10
• 分類號: G01R29/10;G01R29/08
• 代理公司: 上海伯瑞杰知識產權代理有限公司 31227
• 代理人: 吳澤群

1.一種電波測試暗室裝置，其特征在于，包括：

待測試品，可以根據需要固定在待測試品托盤上；

暗室主體，包括殼體和底座，所述殼體上設有進出料口，所述底座上設有自動送料傳動機構，所述自動送料傳動機構用于將上下料系統推移至所述進出料位置處或待測試初始位置處；

上下料系統，包括升降機構組件和低阻力進出料臺，所述低阻力進出料臺設置在所述升降機構組件的上方，且所述低阻力進出料臺與所述待測試品托盤相配合，所述升降機構組件與所述自動送料傳動機構相連接，且用于驅動所述低阻力進出料臺上下移動至待測試位置處，當所述上下料系統處于進出料位置處時，所述低阻力進出料臺的位置與所述進出料口的位置相對應；

掃描架系統，包括立柱、多向調節機構、測距儀和信號接收單元，所述立柱固定在所述底座的四周邊角處，所述多向調節機構設置在所述立柱的頂部，所述多向調節機構分別與所述測距儀和信號接收單元相連接，當所述上下料系統處于待測試位置處時，所述測距儀和信號接收單元與待測試品的位置相對應。

2.如權利要求1所述的電波測試暗室裝置，其特征在于,所述自動送料傳動機構還包括第一滑軌、第一滑塊、第二滑塊、第一絲桿、連接座和自動送料伺服電機，所述第一滑軌水平設置在所述底座的中部位置處，所述第一滑塊、第二滑塊間隔地設置在所述第一滑軌上，且與所述第一滑軌滑動連接，所述自動送料伺服電機和連接座固定在所述底座上，所述第一絲桿的一端穿過第一滑塊與所述自動送料伺服電機相連接，其另一端與所述連接座轉動連接，其中，所述第一絲桿與所述第一滑塊螺紋連接。

3.如權利要求2所述的電波測試暗室裝置，其特征在于,所述升降機構組件包括X型升降曲臂、升降伺服電機、第二滑軌、第三滑塊和第二絲桿，所述X型升降曲臂的底部分別與所述第一滑塊、第二滑塊相鉸接，所述X型升降曲臂的頂部一端與所述低阻力進出料臺的一側下表面相鉸接，其另一端與所述第三滑塊相鉸接，所述第二滑軌設置在所述低阻力進出料臺的另一側下表面，所述第三滑塊滑動地連接在所述第二滑軌上，所述升降伺服電機固定在低阻力進出料臺的下表面，且與所述第二絲桿的一端相連接，所述第二絲桿的另一端與所述第三滑塊相連接。

4.如權利要求3所述的電波測試暗室裝置，其特征在于,所述低阻力進出料臺包括進料臺本體、后限位擋板、左定位夾具、右定位夾具和自動止鎖機構，所述進料臺本體底部上表面和左右兩側均設有滾動體，所述滾動體與所述待測試品托盤的底面和左右兩側相接觸，所述自動止鎖機構和后限位擋板分別設置在所述進料臺本體的前后兩側，所述自動止鎖機構用于自動對待測試品托盤的前側進行限位，所述左定位夾具固定在所述進料臺本體的左側上方，所述右定位夾具活動地設有在所述進料臺本體的右側上方，所述左定位夾具和右定位夾具分別與待測試品的左右兩側相接觸。

5.如權利要求3所述的電波測試暗室裝置，其特征在于,所述左定位夾具和右定位夾具與所述待測試品接觸的表面均設有軸承彈珠。