[發明專利]位置檢測裝置及方法、位置控制裝置、盤存儲裝置

有效

• 申請號: 201810052610.4
• 申請日: 2018-01-19
• 公開（公告）號: CN108630236B
• 公開（公告）日: 2019-09-06
• 發明（設計）人: 松澤卓治
• 申請（專利權）人: 株式會社東芝;東芝電子元件及存儲裝置株式會社
• 主分類號: G11B5/55
• 分類號: G11B5/55
• 代理公司: 北京市中咨律師事務所 11247
• 代理人: 張軼楠;段承恩

1.一種位置檢測裝置，

具備對基于位置信息生成的多個信息周期性地進行檢測的檢測部，

所述位置信息被分割為高位位和低位位，

所述高位位進一步被分割為與所述周期相同數量的多個高位位信息，

所述多個高位位信息中的各高位位信息以已確定的順序得到，

所述低位位與所述多個高位位信息中的任一高位位信息都同時得到，

所述位置信息，按照使得在對所述高位位進行分割而得到的1個所述高位位信息中可取得的值的數與對所述高位位進行分割的數為互質的方式被分割。

2.根據權利要求1所述的位置檢測裝置，其特征在于，

對所述高位位進行分割的數為奇數。

3.根據權利要求1或2所述的位置檢測裝置，其特征在于，

在所述多個高位位信息中、第1高位位信息中的低位部分和比所述第1高位位信息靠低位側一位的第2高位位信息中的高位部分重復的情況下，按照使得在所述1個高位位信息中可取得的值的數和對所述高位位進行分割的數的最大公約數為基數的重復位數次乘方以下的方式對所述高位位進行分割。

4.根據權利要求1或2所述的位置檢測裝置，其特征在于，

在所述多個高位位信息中、第1高位位信息中的低位側比特與比所述第1高位位信息靠低位側一位的第2高位位信息中的高位側比特重復的情況下，按照使得對所述高位位進行分割的數和2的所述高位位信息的比特數次乘方的最大公約數為2的重復比特數次乘方以下的方式對所述高位位進行分割。

5.一種位置控制裝置，基于由權利要求1到4中的任一項所述的位置檢測裝置檢測出的所述多個信息來執行定位控制。

6.一種盤存儲裝置，具備：

盤，其將基于用于檢測徑向的位置的位置信息生成的多個伺服信息周期性地存儲到在周向上配置的多個伺服區域；和

控制器，其對所述盤與頭的相對位置進行控制，并對向所述盤寫入數據和從所述盤讀出數據進行控制，

其特征在于，

所述位置信息被分割為高位位和低位位，

所述高位位進一步被分割為與周向的伺服區域的周期相同數量的多個高位位信息，所述多個高位位信息中的各高位位信息被周期性地分配給多個伺服區域中的對應的伺服區域，

所述低位位被分配給所述多個伺服區域中的各伺服區域，

存儲于所述盤的所述位置信息，按照使得在對所述高位位進行分割而得到的1個高位位信息中可取得的值的數與對所述高位位進行分割的數為互質的方式被分割。

7.根據權利要求6所述的盤存儲裝置，其特征在于，

所述控制器具備：

狀態推定部，其對所述頭的包括位置在內的狀態進行推定；

偏移檢測部，其對由所述狀態推定部推定出的狀態相對于現實的狀態具有偏移的情況進行檢測；

偏移量推定部，其在由所述偏移檢測部檢測出偏移的情況下，對由所述狀態推定部推定出的狀態的偏移量進行推定；以及

狀態修正部，其基于由所述偏移量推定部推定出的偏移量，對由所述狀態推定部推定出的所述狀態進行修正。

8.根據權利要求7所述的盤存儲裝置，其特征在于，

所述控制器還具備偏移修正部，所述偏移修正部對由所述偏移檢測部檢測出的所述偏移進行修正，

所述狀態推定部使用由所述偏移修正部修正后的修正偏移，對所述狀態進行推定。

9.一種位置檢測方法，

包括對基于位置信息生成的多個信息周期性地進行檢測，

所述位置信息被分割為高位位和低位位，

所述高位位進一步被分割為與所述周期相同數量的多個高位位信息，

所述多個高位位信息中的各高位位信息以已確定的順序得到，

所述低位位與所述多個高位位信息中的任一高位位信息都同時得到，

所述位置信息，按照使得在對所述高位位進行分割而得到的1個所述高位位信息中可取得的值的數與對所述高位位進行分割的數為互質的方式被分割。