[發(fā)明專利]電磁爐的鍋具檢測(cè)方法、裝置及電磁爐

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201810043805.2
• 申請(qǐng)日: 2018-01-15
• 公開（公告）號(hào): CN110049588B
• 公開（公告）日: 2022-02-11
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 周升;曾燕俠;吳祥;李娟;汪釗
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 佛山市順德區(qū)美的電熱電器制造有限公司
• 主分類號(hào): H05B6/06
• 分類號(hào): H05B6/06
• 代理公司: 深圳市世紀(jì)恒程知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所 44287
• 代理人: 胡海國

本發(fā)明公開了一種電磁爐的鍋具檢測(cè)方法、裝置及電磁爐，該電磁爐的鍋具檢測(cè)方法包括以下步驟：電磁爐的加熱功能開啟后，控制電壓比較電路獲取電磁爐內(nèi)電磁加熱控制電路中IGBT管的集電極電壓，并將所述IGBT管的集電極電壓與預(yù)設(shè)參考電壓進(jìn)行比較；記錄預(yù)設(shè)時(shí)間段內(nèi)所述IGBT管的集電極電壓大于所述預(yù)設(shè)參考電壓的次數(shù)；根據(jù)所記錄的預(yù)設(shè)時(shí)間段內(nèi)所述IGBT管的集電極電壓大于所述預(yù)設(shè)參考電壓的次數(shù)，判斷所述電磁爐上有無鍋具。本發(fā)明電磁爐的鍋具檢測(cè)方法縮短了電磁爐的檢鍋時(shí)間，同時(shí)還提高了電磁爐檢鍋的通用性。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及電磁爐領(lǐng)域，尤其涉及一種電磁爐的鍋具檢測(cè)方法、裝置及電磁爐。

背景技術(shù)

現(xiàn)有的電磁爐的鍋具檢測(cè)方法通常都是通過檢測(cè)電磁爐內(nèi)電磁加熱控制電路中IGBT管的工作電流的變化來判斷電磁爐上有無鍋具，即在所述IGBT管的固定開通寬度條件下，通過比較所述IGBT管的工作電流的大小來判斷電磁爐上有無鍋具。然而，為了使所述IGBT管的工作電流達(dá)到相同的目標(biāo)電流，需要一直增加所述IGBT管的開通寬度，在達(dá)到最大開通寬度時(shí)驗(yàn)證所述IGBT管的工作電流是否能夠達(dá)到目標(biāo)電流來判斷電磁爐上有無鍋具。現(xiàn)有的該電磁爐的鍋具檢測(cè)方法，由于改變所述IGBT管的開通寬度需要一定的時(shí)間，從而使得電磁爐無法快速(如1S內(nèi))識(shí)別有無鍋具；并且，由于該電磁爐的鍋具檢測(cè)方法應(yīng)用于不同諧振參數(shù)的加熱平臺(tái)時(shí)，所述IGBT管的開通寬度和所述IGBT管的工作電流的關(guān)系不相同，因此，當(dāng)該電磁爐的鍋具檢測(cè)方法應(yīng)用于不同諧振參數(shù)的電磁爐的加熱平臺(tái)時(shí)，需要重新調(diào)試驗(yàn)證，導(dǎo)致該檢鍋方法的通用性較差。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的主要目的在于提供一種電磁爐的鍋具檢測(cè)方法，旨在縮短電磁爐的檢鍋時(shí)間以及提高電磁爐檢鍋的通用性。

為了實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供一種電磁爐的鍋具檢測(cè)方法，所述電磁爐的鍋具檢測(cè)方法包括以下步驟：

S10，電磁爐的加熱功能開啟后，控制電壓比較電路獲取電磁爐內(nèi)電磁加熱控制電路中IGBT管的集電極電壓，并將所述IGBT管的集電極電壓與預(yù)設(shè)參考電壓進(jìn)行比較；

S20，記錄預(yù)設(shè)時(shí)間段內(nèi)所述IGBT管的集電極電壓大于所述預(yù)設(shè)參考電壓的次數(shù)；

S30，根據(jù)所記錄的預(yù)設(shè)時(shí)間段內(nèi)所述IGBT管的集電極電壓大于所述預(yù)設(shè)參考電壓的次數(shù)，判斷所述電磁爐上有無鍋具。

優(yōu)選地，所述步驟S30包括：

S31，判斷預(yù)設(shè)時(shí)間段內(nèi)所述IGBT管的集電極電壓大于所述預(yù)設(shè)參考電壓的次數(shù)是否小于預(yù)設(shè)次數(shù)；

S32，若預(yù)設(shè)時(shí)間段內(nèi)所述IGBT管的集電極電壓大于所述預(yù)設(shè)參考電壓的次數(shù)小于所述預(yù)設(shè)次數(shù)，則判斷所述電磁爐上無鍋具；

S33，若預(yù)設(shè)時(shí)間段內(nèi)所述IGBT管的集電極電壓大于所述預(yù)設(shè)參考電壓的次數(shù)大于或等于所述預(yù)設(shè)次數(shù)，則判斷所述電磁爐上有鍋具。

優(yōu)選地，所述預(yù)設(shè)參考電壓大于310V且小于800V。

優(yōu)選地，所述預(yù)設(shè)時(shí)間段大于或等于100ms且小于或等于150ms；所述預(yù)設(shè)次數(shù)大于或等于2次且小于或等于3次。

此外，為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明還提供一種電磁爐的鍋具檢測(cè)裝置，所述電磁爐的鍋具檢測(cè)裝置包括：電壓比較電路、MCU以及存儲(chǔ)在所述MCU內(nèi)并可在所述MCU上運(yùn)行的電磁爐的鍋具檢測(cè)程序，其中：

所述電壓比較電路，用于獲取電磁爐內(nèi)電磁加熱控制電路中IGBT管的集電極電壓，并將所述IGBT管的集電極電壓與預(yù)設(shè)參考電壓進(jìn)行比較；

所述電磁爐的鍋具檢測(cè)程序被所述MCU執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)以下步驟：

S10，電磁爐的加熱功能開啟后，控制電壓比較電路獲取電磁爐內(nèi)電磁加熱控制電路中IGBT管的集電極電壓，并將所述IGBT管的集電極電壓與預(yù)設(shè)參考電壓進(jìn)行比較；